展示全部
觀測。它通過磁光調制技術來調整接收光的偏振方向；采用面陣探測器獲取樣品表面的橢偏圖像；采取用磁光調制器取代傳統步進電機轉動起偏器、補償器或檢偏器光軸的方法來實現橢偏儀的測量，采用磁光調制器改變接收光的偏振方向，可以得到更高的偏振方向控制精度和重復精度，而且磁光調制器的調制速度更快。該技術給成像橢偏儀發展提供了新的方向，較大地提高了測量速度。如果您對橢偏儀相關產品有興趣，請訪問上海昊量光電的官方網頁：http://www.arouy.cn/three-level-56.html相關文獻：1薛利軍, 李自田, 李長樂, 等 . 光譜成像儀 CCD 焦平 面組件非均勻性校正技術研究[J ...
nm。通過與磁光調制、時間相移和雙反射等技術的結合，光譜橢偏技術提高了測量速度和準確性。通過與Muller矩陣的結合，光譜橢偏技術不再受光學分辨率極限的限制，提高了測量的準確性，可以獲得更豐富的信息。2019年華中科技大學發明了基于液晶調相的垂直物鏡式Muller矩陣成像橢偏儀，該儀器所用系統改變了之前普通傾斜鏡面成像的結構，根本上避免了焦深小、視場窄的問題，可實現高分辨率、寬視場測量，可用于對納米薄膜幾何參數的測量。2018年韓國朝鮮大學提出用于表征多層膜結構的大面積光譜成像橢偏儀，利用寬帶光源和成像光譜儀，光譜范圍可以達到400-800nm。準直光束通過擴束器擴展，直徑達到30mm，通過低 ...
或 投遞簡歷至: hr@auniontech.com
