益介質里的自相位調制，產生一個可支持穩定模式鎖定的色散范圍）指導如何構建一個穩定的鎖模腔，在構建用于特定實際應用的振蕩器的時候，還是需要用到反復試錯法，特別是使用離散值GTI反射鏡的時候。我們需要逐漸增加負色散，直到獲得穩定的鎖模激光輸出。作者發現，每個GTI反射兩次（一個腔內往返周期為8次反射）可以產生穩定的鎖模腔，且裝配簡單。被動鎖模可通過激光束被一個高反射率曲面鏡M4(r=1000mm, Layertec)聚焦到作為末端反射鏡的半導體可飽和吸收鏡上（SESAM, SAM-1040-2-25.4g; Batop GmbH, Jena, Germany，半導體可飽和吸收鏡的調制深度（或非線性 ...

造電光幅度和相位調制器，這兩種晶體具有高電光系數和良好的光學和電學性能。這些晶體生長在大的、低散射損失的晶錠中，并具有寬的透明度窗口。它們也是非吸濕性的，因此它們可以在光學平臺上無限期放置，而無需密封外殼。相位調制相位調制器是z簡單的電光調制器。在這里，電場沿晶體的一個主軸施加。沿任何其他主軸偏振的光會經歷折射率變化，因此光程長度會發生變化，這與施加的電場成正比。因此，從晶體中射出的光場的相位取決于所施加的電場。常見的體相位調制器是橫向調制器，如圖 1 所示，它由平行電極之間的電光晶體組成。這些調制器在電極之間產生大電場，同時提供長的相互作用長度，在其中積累相移。通過在電極之間施加電壓 V 獲 ...

這意味著總的相位調制為4π或1094納米。這些極值出現的電壓是通過對極值附近的三個點進行擬合拋物線來找到的，這增加了精度，并充分利用了SLM的16位控制。然后，強度被分為四段，用公式（11）的逆值對這些段進行縮放并轉換為相位。相位響應被用來為每個SLM像素構建一個單獨的查找表（LUT），以補償SLM的非均勻性。LUT參數在SLM上平滑變化，并與肉眼可見的法布里-珀羅條紋大致對應，表明相位響應的差異是由于液晶層厚度的變化造成的。額外的像素與像素之間的變化可能來自底層硅開關電路的像素與像素之間的變化。完整的校準需要大約5分鐘（在四核3.3GHz i7處理器上的3分鐘掃描和2分鐘計算時間），但原則上 ...

接解調幅度和相位調制信號。內部和外部參考用戶可以使用內部或外部參考解調輸入信號。在內部模式下，正交參考信號是用內部直接數字合成器 (DDS) 生成的。在外部模式下，用戶可以選擇直接或鎖相選項。直接外部模式下，使用單相解調 (X) 的參考輸入信號對輸入信號進行解調。鎖相環選項可重構兩個正交參考，與參考輸入信號鎖相，以支持外部雙相解調 (XY/Rθ)。此外，可以繞過混頻器以進行其他閉環控制應用。集成PID控制器、示波器和數據記錄器使用Moku鎖相放大器的集成雙通道、125MSa/s示波器，一次可同時監測兩個信號，并用其內置的數據記錄器以高達1MSa/s的速度連續記錄數據。此外，PID控制器具備可實 ...

現對入射光的相位調制。但由于液晶的一些特性，驅動電壓改變量和相位改變量是非線性關系，實際使用中需要測量并確定相位調制特性曲線。現介紹一種相位分析方法——白光干涉法，來確定LCOS芯片的相位調制特性曲線。白光干涉法采用邁克爾孫干涉儀的結構，在參考鏡前設置補償玻璃板（同LCOS芯片前的玻璃板），消除對光路的影響，從而使參考光和反射光達成白光干涉條件。分析干涉圖可得到LCOS芯片的相位輪廓，進而分析相位調制的特性曲線。上圖為白光干涉法的裝置示意圖。白光由確定中心波長的鹵鎢燈發射，經毛玻璃散射。然后由線偏振片獲得與LCOS液晶指向矢平行的偏振方向。然后分束鏡將透射光分為兩路，一路光反射到參考鏡經過補償 ...

它具有與橫向相位調制器的四分之一波電壓類似的形式。由于這些晶體雙折射的溫度依賴性，這種簡單的幾何形狀對于大多數電光晶體來說是不實用的。這種依賴性將溫度相關的波片引入調制器。因此，使用雙折射非線性介質（例如 LiNbO3）的未補償調制器的傳輸將表現出顯著的熱漂移。這種溫度敏感性可以通過穩定單晶調制器的溫度或使用兩個相同的晶體來克服。第二種方案采用光學串聯放置的兩個等長晶體，它們的主軸相對于彼此旋轉 90°，如圖 3 所示。因此，光束的偏振分量在兩個折射率區域中的每一個中傳播相等的路徑長度，這導致結構的雙折射為零，與溫度無關。熱漂移限制了相位調制器的實用性，相位調制器通常由單晶制成。實際限制這些設 ...

10MHz的相位調制信號以單相和雙相模式輸入Moku:Pro的鎖相放大器和相位表。相位檢測的輸出通過示波器進行記錄。圖3：Moku:Pro上的MIM設置，用于測試不同相位檢測器的線性動態范圍。歸一化的相位輸出（作為模擬信號）繪制成圖4中相移的函數。從圖4(a)來看，雙相解調模式下的相位表和鎖相放大器都在360°范圍內提供線性相位響應。單相模式下的鎖相放大器只提供了90°內的近線性響應。雙相解調器將相位包裹在±180°，而PLL在整個720°的相位移動范圍內持續線性輸出（圖4（b））。圖4：Moku相位表的輸出，鎖相放大器在單、雙相位模式下的輸出在(a)360°和(b)720°的相移的函數。使用 ...

4004 型相位調制器的 30 pF。信號發生器和頻率合成器通常具有 50Ω 的輸出阻抗，并且未針對驅動容性負載進行優化。然而，由于 30 pF 是一個相當小的電容，因此大多數信號發生器在低頻 (<10 MHz) 和小信號電平下都是足夠的驅動器。為驅動容性負載而優化的高壓放大器也可用于有效驅動調制器。在高頻下，傳輸調制信號的電纜和調制器之間的阻抗不匹配會導致一部分射頻信號反射回信號源。8 在信號源和調制器之間插入一個定向耦合器，如圖 4 所示，可用于將反射功率重定向到匹配的終結器，從而保護信號源。用與調制器輸入并聯的 50W 負載端接驅動調制器的線路是改善系統阻抗匹配的簡單方法。在相位調 ...

這意味著總的相位調制為4π或1094納米。這些極值出現的電壓是通過對極值附近的三個點進行擬合拋物線來找到的，這增加了精度，并充分利用了SLM的16位控制。然后，強度被分為四段，用公式（11）的逆值對這些段進行縮放并轉換為相位。相位響應被用來為每個SLM像素構建一個單獨的查找表（LUT），以補償SLM的非均勻性。LUT參數在SLM上平滑變化，并與肉眼可見的法布里-珀羅條紋大致對應，表明相位響應的差異是由于液晶層厚度的變化造成的。額外的像素與像素之間的變化可能來自底層硅開關電路的像素與像素之間的變化。完整的校準需要大約5分鐘（在四核3.3GHz i7處理器上的3分鐘掃描和2分鐘計算時間），但原則上 ...

器通過精細的相位調制可以產生多光阱，從而對微粒實時操控，由此發展了全息光鑷技術。美國Meadowlark Optics 公司專注于模擬尋址純相位空間光調制器的設 計、開發和制造，有40多年的歷史，該公司空間光調制器產品廣泛應用于自適應光學，散射或渾濁介質中的成像，雙光子/三光子顯微成像，光遺傳學，全息光鑷(HOT)，脈沖整形，光學加密，量子計算，光通信，湍流模擬等領域。其高分辨率、高刷新率、高填充因子的特點適用于生物成像及微操縱的工程中。圖1. Meadowlark 2022年最新推出 1024 x 1024 1K刷新率SLM二、空間光調制器在STED超分辨中的技術介紹普通的遠場熒光顯微鏡，使 ...