子力顯微鏡，掃描隧道顯微鏡，激光干涉儀和光學(xué)陀螺儀。氣動（氣體或空氣加壓）隔振臺曾經(jīng)是學(xué)術(shù)界和工業(yè)界最關(guān)鍵的微型機(jī)械設(shè)備的支柱，但如今在隔離破壞性低頻振動方面卻表現(xiàn)不理想。在建筑物中將敏感的儀器放置在承受極高振動水平的位置上的趨勢正在增長，這是氣動隔振臺的重要障礙，意味著需要新的隔振解決方案來替代。振動源納米級儀器對由多種因素引起的極小的有效載荷振動都表現(xiàn)敏感。每個結(jié)構(gòu)（建筑）都會從內(nèi)部和外部源傳遞振動。在建筑物中、供暖和通風(fēng)系統(tǒng)、風(fēng)扇、泵和電梯產(chǎn)生的振動只是一部分，在建筑物外部，附近的道路交通、建筑物、飛機(jī)、甚至還有其它產(chǎn)生振動的機(jī)械裝置。儀器受振動的影響程度取決于儀器在建筑物中的位置以及與 ...

成像與mapping在微納米磁學(xué)中的應(yīng)用成像在微納米磁學(xué)中的作用固體中的磁性是通過鄰近原子的電子之間的量子力學(xué)交換在局部尺度上產(chǎn)生的。在鐵磁體中，交換有利于平行電子自旋，空間磁性結(jié)構(gòu)可以從非常簡單到非常復(fù)雜。除了特殊的樣品形狀外，均勻磁化在與偶極子之間的遠(yuǎn)程相互作用相關(guān)的能量方面具有靜磁成本。如果偶極子不完全平行，則能量可以較小化，從而形成磁疇。各向異性效應(yīng)有利于磁化取向沿著某些晶體學(xué)方向進(jìn)一步復(fù)雜化的情況。這種競爭的本質(zhì)可以用所謂的“交換長度”來概括，交換長度決定了磁化方向發(fā)生重要變化的較小尺度，通常在納米范圍內(nèi)。在非平衡狀態(tài)下，過剩能量的存在會導(dǎo)致額外的復(fù)雜性，包括成核和區(qū)域的生長，自旋波 ...

)或自旋極化掃描隧道顯微鏡(STM)，通常局限于小的外部磁場。磁光顯微鏡沒有這樣的限制。然而，由于傳統(tǒng)(遠(yuǎn)場)光學(xué)顯微鏡的橫向分辨率受到衍射的限制，大約只能達(dá)到光波長的一半，因此納米結(jié)構(gòu)只能通過x射線顯微鏡或掃描近場光學(xué)顯微鏡(SNOM)在可見光范圍內(nèi)成像。用于磁光研究的相當(dāng)緊湊和振動隔離的特高壓室連接到配備薄膜制備設(shè)施的特高壓系統(tǒng)，以及用于表征薄膜結(jié)構(gòu)和形態(tài)的STM和低能電子衍射(LEED)。結(jié)合極性和縱向MOKE, kerr顯微鏡和Sagnac-SNOM測量可以在變溫度和外磁場下進(jìn)行。由于在連續(xù)的MOKE, kerr顯微鏡和SNOM測量之間不需要樣品轉(zhuǎn)移，因此樣品可以保持在恒定溫度下，而磁 ...

子力顯微鏡或掃描隧道顯微鏡)。在用顯微鏡對器件進(jìn)行表征時，輻照光束通過樣品后，被顯微鏡的檢測系統(tǒng)收集吸收或發(fā)射的光，生成光學(xué)圖像。一個有趣的掃描探針配置的新興領(lǐng)域是NSOM或近場掃描光學(xué)顯微鏡技術(shù)，它也被稱為SNOM或掃描近光學(xué)顯微鏡。它包括一種試圖克服阿貝衍射極限的方法，通過使用納米級纖維探針將光限制在一個小區(qū)域內(nèi)，允許在亞波長尺度上進(jìn)行地形和光學(xué)成像。由于這個原因，NSOM已被證明是一種有用的技術(shù)，不僅用于生物學(xué)目的，而且用于表征半導(dǎo)體等不同材料。在這種類型的顯微鏡中，光通過探針傳遞或收集，該探針可以具有懸臂結(jié)構(gòu)或纖維探針的結(jié)構(gòu)。此外，探頭可以在光圈或無光圈模式下工作。在無孔徑模式下，AF ...