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A)，或光子發(fā)射電子顯微鏡(PEEM)或使用磁探針的技術(shù)(磁力顯微鏡(MFM)或自旋極化掃描隧道顯微鏡(STM)，通常局限于小的外部磁場。磁光顯微鏡沒有這樣的限制。然而，由于傳統(tǒng)(遠(yuǎn)場)光學(xué)顯微鏡的橫向分辨率受到衍射的限制，大約只能達(dá)到光波長的一半，因此納米結(jié)構(gòu)只能通過x射線顯微鏡或掃描近場光學(xué)顯微鏡(SNOM)在可見光范圍內(nèi)成像。用于磁光研究的相當(dāng)緊湊和振動(dòng)隔離的特高壓室連接到配備薄膜制備設(shè)施的特高壓系統(tǒng)，以及用于表征薄膜結(jié)構(gòu)和形態(tài)的STM和低能電子衍射(LEED)。結(jié)合極性和縱向MOKE, kerr顯微鏡和Sagnac-SNOM測量可以在變溫度和外磁場下進(jìn)行。由于在連續(xù)的MOKE, ker ...
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