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域觀察方法，透射電子顯微鏡(TEM)，在觀察不同形狀和大小的樣品的能力方面受到限制。在觀察樣品時，也很難對其施加外界影響，如磁場和物理應(yīng)力。TEM的視野也比克爾顯微鏡小，比克爾顯微鏡便宜，并且使用的材料和物品可以用于其他目的。克爾顯微鏡是考慮到成本的通用的領(lǐng)域觀察技術(shù)之一。它可以觀察廣泛的磁性樣品，可用于各種磁性器件。雖然還有其他可用的觀察技術(shù)，但在今天的現(xiàn)代磁性材料實驗室中，采用克爾效應(yīng)的觀察技術(shù)是一種有效的解決方案。如果您對磁學(xué)測量相關(guān)產(chǎn)品有興趣，請訪問上海昊量光電的官方網(wǎng)頁：http://www.arouy.cn/three-level-150.html更多詳情請聯(lián)系昊量光 ...
像洛倫茲模式透射電子顯微鏡(TEM)和帶極化分析的掃描電子顯微鏡(SEMPA)可用于高分辨率探測磁疇和磁化。然而，這種方法需要昂貴的電子光學(xué)器件和真空條件，這限制了應(yīng)用范圍。在原子力顯微鏡(atomic force microscopy, AFM)廣泛應(yīng)用于納米尺度研究的基礎(chǔ)上，磁力顯微鏡(magnetic force microscopy, MFM)可用于磁成像。然而，MFM不能直接測量材料的磁化強度，只能檢測表面附近的磁雜散場。此外，為了避免影響TEM和SEMPA中的電子運動，幾乎沒有施加外磁場。在MFM技術(shù)中，外磁場下的測量應(yīng)謹(jǐn)慎處理，以免磁化懸臂梁受到損傷。此外，當(dāng)樣品為軟磁材料時，磁 ...
辨率亮場掃描透射電子顯微鏡（STEM）觀察了具有清晰界面的單個層的外延生長。圖1c中的高分辨率TEM （HRTEM）圖像表明，獲得了具有特定厚度的幾乎完美的單晶連續(xù)薄膜堆棧。利用二次電子質(zhì)譜（SIMS）分析了膜層中元素的分布和界面處的z小混合情況，如圖1d所示。驗證了Co， Pt和Fe原子在SAF中的正確均勻分布，并支持了CoFeB（0.8）與Co（0.6）鐵磁耦合的垂直自旋極化（PSP）層中薄膜的高質(zhì)量和良好的垂直磁各向異性（PMA）（圖1f）。圖1首先，詳細研究了SAF結(jié)構(gòu)PSP鐵磁層中有效IEC場驅(qū)動下的DW運動。通過施加正場飽和脈沖進行DW速度測量，并記錄了小負偏置場下的參考圖像。然后 ...
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