裝飾在光學或電子顯微鏡下成像，允許在多疇鐵磁體或被磁場穿透的超導體中分辨非常小(100nm)的磁性特征。繼Bitter之后，各種磁場成像技術(shù)得到了發(fā)展。目前應用廣泛的儀器是磁力顯微鏡。在MFM中，磁性對比是通過鐵磁尖端與樣品雜散微磁場之間的靜磁相互作用來實現(xiàn)的，特別是在疇邊界處。在測量過程中，探頭尖端垂直于樣品表面振動，并且由于雜散磁場的存在，振動的頻率和振幅會發(fā)生梯度變化。MFM成像可以達到小于10 nm的空間分辨率，并且可以通過先jin的尖端技術(shù)來提高分辨率，例如通過聚焦離子束銑削來修飾探針尖端。MFM的優(yōu)點包括相對較高的空間分辨率，操作簡單，樣品制備簡單。缺點是很難直接從MFM圖像中提取 ...

利用NV自旋的磁光成像技術(shù)磁成像技術(shù)通常以其空間和時間分辨率為特征，但靈敏度、場干擾、樣品損壞、視場、成本和易用性等標準對于廣泛的適用性至關重要，這推動了人們對先jin材料和應用中磁性理解的未來發(fā)展。電子和x射線顯微鏡可以提供低至幾納米的高空間分辨率，但耗時，需要昂貴的復雜儀器，仔細的樣品制備和高真空環(huán)境。磁力顯微鏡(MFM)通常用于表征磁性器件，但由于其侵入性磁尖，固有的速度很慢，不適合成像脆弱的磁化狀態(tài)。另一方面，磁光克爾效應顯微鏡(MOKE)是一種非侵入性光學技術(shù)，在進一步了解自旋霍爾效應和zui近在環(huán)境條件下形成的磁性斯基米子氣泡方面發(fā)揮了巨大作用。MOKE的主要限制是它適用于表現(xiàn)出強 ...

法，包括掃描電子顯微鏡與極化分析，磁力顯微鏡，光電電子顯微鏡，和掃描近場磁光克爾顯微鏡。因此理想情況下，可以結(jié)合時間和空間分辨率來研究單個納米結(jié)構(gòu)的磁化動力學。圖1飛秒時間分辨光學克爾顯微鏡如圖1所示。泵浦和探針激光脈沖由鈦藍寶石再生放大器獲得，以5 KHz的重復率工作，以避免累積熱效應。持續(xù)時間為150fs(泵)和180fs(探頭)。泵浦光束中心波長為790nm，探測光束中心波長為395 nm，在1.5 mm厚的硼酸鋇晶體中通過二次諧波產(chǎn)生。兩個獨立的望遠鏡允許一個人調(diào)整每個光束的模式，以獲得對樣品的zui佳聚焦。通過光延遲線后，泵浦光束與線偏振的探測光束共線。聚焦是使用一個標準的顯微鏡物鏡 ...

倫茲模式透射電子顯微鏡(TEM)和帶極化分析的掃描電子顯微鏡(SEMPA)可用于高分辨率探測磁疇和磁化。然而，這種方法需要昂貴的電子光學器件和真空條件，這限制了應用范圍。在原子力顯微鏡(atomic force microscopy, AFM)廣泛應用于納米尺度研究的基礎上，磁力顯微鏡(magnetic force microscopy, MFM)可用于磁成像。然而，MFM不能直接測量材料的磁化強度，只能檢測表面附近的磁雜散場。此外，為了避免影響TEM和SEMPA中的電子運動，幾乎沒有施加外磁場。在MFM技術(shù)中，外磁場下的測量應謹慎處理，以免磁化懸臂梁受到損傷。此外，當樣品為軟磁材料時，磁尖會 ...

高壓系統(tǒng)基于電子顯微鏡的高分辨率成像技術(shù)，如帶偏振分析的二次電子顯微鏡(SEMPA)，或光子發(fā)射電子顯微鏡(PEEM)或使用磁探針的技術(shù)(磁力顯微鏡(MFM)或自旋極化掃描隧道顯微鏡(STM)，通常局限于小的外部磁場。磁光顯微鏡沒有這樣的限制。然而，由于傳統(tǒng)(遠場)光學顯微鏡的橫向分辨率受到衍射的限制，大約只能達到光波長的一半，因此納米結(jié)構(gòu)只能通過x射線顯微鏡或掃描近場光學顯微鏡(SNOM)在可見光范圍內(nèi)成像。用于磁光研究的相當緊湊和振動隔離的特高壓室連接到配備薄膜制備設施的特高壓系統(tǒng)，以及用于表征薄膜結(jié)構(gòu)和形態(tài)的STM和低能電子衍射(LEED)。結(jié)合極性和縱向MOKE, kerr顯微鏡和Sa ...

顯微鏡應用或電子顯微鏡不同，顯微CT掃描儀不需要專門或破壞性的樣品制備、染色或薄切片 - 單次掃描即可提供高分辨率樣品完整內(nèi)部3D結(jié)構(gòu)的圖像，而不會損壞樣品。二．內(nèi)部結(jié)構(gòu)---里面有什么我們的xiRAY11 是一款 11Mpix、光纖耦合和制冷 X 射線相機，基于Kodak 的 KAI-11002傳感器。xiRAY11還采用了我們專有的傳感器驅(qū)動技術(shù)CLEANPATH，使xiRAY11能夠提供具有14 x 36mm視野的水晶般清晰的24位圖像。該相機在全分辨率模式下具有 4 fps 刷新率，在 12x4 像素合并模式下具有 4 fps 刷新率，以及用戶可設置的 12μs 至 500 秒曝光時間 ...

不同的光學和電子顯微鏡技術(shù)來表征它們。哪些實驗需要FYLA的超連續(xù)譜激光器?我們進行熒光壽命測量來表征混合納米顆粒-單分子樣品的耦合，為此我們需要具有高重復率p的脈沖激光器。為了進行這種表征，我們使用了皮秒p FYLA SCT 超連續(xù)激光器，其輸出450 - 2300nm，重復頻率為40MHz。我們將FYLA SCT與AOTF耦合以選擇我們需要的不同波長，并使用不同的清理濾波器進一步對其進行光譜過濾，因為具有清晰的譜線對于單分子實驗非常重要。然后將FYLA SCT光纖激光器直接輸入到自制的共聚焦熒光顯微鏡的激發(fā)臂中。光子納米系統(tǒng)圖像組的設置。光纖耦合的FYLA將SCT白色激光引導到自制光學共聚 ...

的儀器是掃描電子顯微鏡(SEM)，其原理是通過高能的電子束掃描樣品表面激發(fā)出背散射電子、二次電子和X射線等信號，然后對接受到的信號進行放大并顯示成像，實現(xiàn)對樣品形貌等的監(jiān)測。掃描電子微鏡顯具有操作簡單方便，得到的圖像清晰，zui大程度還原真實樣品形貌等優(yōu)點。通過掃描電子顯微鏡觀察Cu2O薄膜，得到其表面形貌與顆粒尺寸等信息，從而對Cu2O薄膜有更加直觀了解。2.5.2成分分析得到的樣品薄膜通過X射線衍射譜儀掃描確定其成分。X射線是一種波長約為20到0.06?的電磁波，利用原子內(nèi)層的電子被高速運動的電子轟擊產(chǎn)生躍遷光輻射，從而產(chǎn)生氣體的電離、熒光物質(zhì)的發(fā)光以及照相乳膠感光等。用電子束來轟擊金屬― ...

疇觀測方法。電子顯微鏡法電子顯微鏡法主要是通過分析電子束在磁性材料表面反射或透過磁性材料時受磁性材料中磁疇產(chǎn)生的局部散磁場的影響而產(chǎn)生的反射或散射電子束的圖像來探測磁性材料的磁疇結(jié)構(gòu)。電子顯微境法根據(jù)具體的工作原理的不同還分為多種，目前常用于磁疇觀測的主要有電子鏡式顯微鏡、洛侖茲顯微鏡和掃描式電子顯微鏡等。電子顯微鏡法具有很高的分辨率因此可對疇壁等磁疇的精細結(jié)構(gòu)進行研巧，可探測得到較多的磁疇信息，但它對強磁場下的磁疇動態(tài)變化的分辨率較低，且設備的成本較高操作千分復雜，因此不能被廣泛運用到磁疇結(jié)構(gòu)的研巧中。磁力顯微鏡法磁力顯微鏡觀測磁疇主要通過磁性探針與磁疇產(chǎn)生的局部散磁場之間相互作用產(chǎn)生的磁力 ...

槽邊緣的掃描電子顯微鏡（SEM）截面圖（圖2(c)）。由于PL顯微照片的高分辨率，我們可以輕松測量PL-P1邊緣效應的范圍，我們觀察到全寬半高（FWHM）約為4.6μm。從SEM截面圖可以很容易地識別出，P1邊緣PL效應的范圍遠遠超過了由于底層鉬層導致的CIGS吸收材料的階梯。考慮到鉬側(cè)壁的載流子提取面積（厚度約400nm）的增加，很難解釋在約4.6μm范圍內(nèi)30%的光致發(fā)光猝滅。圖1. 標準P1激光劃線中異常光致發(fā)光觀察。(a) P1和P2（底部）燒蝕線（頂部）的光學顯微照片以及從同一位置捕獲的高光譜顯微照片中提取的PL強度圖（底部）；(b) P1和P2劃線（頂部）的單色（980 nm處的P ...