ch系列光譜光度輻射度計(jì)技術(shù)原理及介紹簡介美國Photo Researc公司成立于1941年,現(xiàn)地點(diǎn)位于紐約州羅徹斯特的North Syracuse(北錫拉丘茲),是一家專門致力于光度、色度、輻射度測量儀器研究、生產(chǎn)的公司;同時(shí),PR也是一家生產(chǎn)光譜式亮度計(jì)的廠家,在各地?fù)碛?3個(gè)自己獨(dú)立的光學(xué)校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室,溯源NIST標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn);Aunion昊量光電作為Photo Research公司在國內(nèi)的代理商,總部位于上海,在西安、成都分別建立辦事處,為國內(nèi)客戶提供快捷的本地校準(zhǔn)及維修服務(wù)。一、理論介紹PR-6系列和PR-7系列是真正意義上的的光譜輻射度計(jì);通過物鏡或者其他光學(xué)配件有效收集光學(xué)輻射信號(hào)(光 ...
,盡管校正對光度變化是有效的,但它不能重建光譜特征在照明不 良的圖像區(qū)域與相關(guān)的低信號(hào)強(qiáng)度,信噪比和特征細(xì)節(jié)。因此,我們建議對照明極差或陰影很深的圖像 部分進(jìn)行掩蔽或至少仔細(xì)的解釋。我們進(jìn)一步建議評估地形校正對每個(gè)成像場景的有用性。從我們的一 般經(jīng)驗(yàn)和所示例子的具體表現(xiàn)來看,自然目標(biāo),如山坡或懸崖,往往具有更平滑的地形,因此比采石場 和露天礦等人造露頭更一致的照明。在自然目標(biāo)中,隨著圖像部分之間的平滑過渡,分別具有最大和最 小的光照,地形校正通常表現(xiàn)良好。由于爆破和挖掘,人工目標(biāo)通常具有梯田幾何和/或粗糙邊緣, 這產(chǎn)生了很大的照明差異。地形校正不一定能改善圖像,因?yàn)樵谡彰髁己玫牟糠种袘?yīng)用的校正 ...
同,造成的屈光度不同,這其實(shí)就像是人眼產(chǎn)生的像散。而我們所說的像差主要是在于透鏡光學(xué)系統(tǒng)成像后,像面上光斑的分布情況。像散也正是鏡頭系統(tǒng)在上下方向與左右方向聚焦能力不同形成的。四、消除像散的方法1. 采用折射率較高,色散率較低的光學(xué)玻璃制造透鏡,并配制各種曲率的表面相互抵消2. 縮小光圈使用光束分析儀可以在成像位置觀察到光斑的形狀,我們可以通過在成像面前后移動(dòng)光束分析儀來觀察其是否有子午與弧矢方向的拉伸變化來判斷其是否存在較大的像散。您可以通過我們的官方網(wǎng)站了解更多的產(chǎn)品信息,或直接來電咨詢4006-888-532。 ...
用作紅外分光光度計(jì)的頻率校準(zhǔn)器。使用前應(yīng)真空蒸餾純化并保存在密封毛細(xì)管或核磁共振管中。茚的拉曼光譜如下圖所示,下表列出了推薦用于校準(zhǔn)的頻率。3) 激光等離子線氬離子激光器的主要等離子線可用于校準(zhǔn)。為了觀察這些線,應(yīng)該對激光束進(jìn)行失諧,并且應(yīng)該從熔點(diǎn)管收集散射輻射。這種方法給出的校準(zhǔn)精度優(yōu)于1 波數(shù)。4) 氖發(fā)射線如果有標(biāo)準(zhǔn)的氖光源,Ne 發(fā)射線可用于在寬頻率范圍內(nèi)獲得高頻校準(zhǔn)。下圖顯示了使用 Ne 燈拍攝的光譜。下表列出了 Ne 頻率,這些頻率可用于校準(zhǔn)分別通過 He-Ne 和 Kr 離子激光器激發(fā)獲得的拉曼光譜。您可以通過我們的官方網(wǎng)站了解更多共聚焦顯微拉曼光譜儀的相關(guān)產(chǎn)品信息,或直接來電咨 ...
結(jié)果。單個(gè)吸光度帶的測量或全光譜的校準(zhǔn)提供了有關(guān)成分的信息,這些信息可以在圖像中繪制出來,以測量成分(如水分或脂肪)的分布。高光譜成像還可以為非成像技術(shù)難以進(jìn)行的復(fù)雜、多組分產(chǎn)品分析提供解決方案。高光譜傳感器提供數(shù)百個(gè)波段的信息。這提供了不同化學(xué)鍵的多重重疊吸光度帶的數(shù)據(jù),使校準(zhǔn)能夠針對與食品生產(chǎn)相關(guān)的特定分析物。雖然與RGB成像相比,這是信息量上的一個(gè)主要優(yōu)勢,但它也帶來了挑戰(zhàn)。用戶(或應(yīng)用程序的創(chuàng)建者)必須知道哪些波段是目標(biāo)波段,哪些可以被記錄下來進(jìn)行分析,哪些可以被忽略。Specim作為高光譜成像領(lǐng)域的先驅(qū),在過去的21年里一直在提供高光譜傳感器。在此期間,高光譜成像技術(shù)已經(jīng)從主要應(yīng)用于 ...
單色儀型分光光度計(jì)測試方法,干涉型光譜分析系統(tǒng)測量方法,偏光檢測分析方法等。反射率測量的常見方法包括:單次反射光譜分析測試方法,多次反射光譜分析測試方法和激光諧振腔測試方法等。光譜測量方法中有很多因素會(huì)影響透射率和反射率精度,這些因素主要包括:D1,被測樣品的口徑大小。當(dāng)樣品小于光斑尺寸時(shí),需要采用光闌來限制光束的大小。第二,被測樣品楔形角的影響。為減小該因素的影響,可以使光束盡量準(zhǔn)直,并且盡量采用大口徑的積分球探測器。第三,光線偏振效應(yīng)。盡量讓樣品垂直放置,并且加上偏振測試裝置。第四,光譜儀的光譜分辨率。選擇合適的分辨率,濾光片要求較高的分辨率。第五,空氣中某些充分吸收帶的影響。比如空氣中的 ...
機(jī)信號(hào)與分光光度測量得到的參考三刺激值之間的關(guān)系,估計(jì)出顏色變換矩陣。為了計(jì)算從記錄信號(hào)到渲染顏色的直接轉(zhuǎn)換,在光譜校準(zhǔn)中選擇了比色校準(zhǔn)。本實(shí)驗(yàn)未進(jìn)行光譜校準(zhǔn),即先估計(jì)目標(biāo)反射光譜,然后計(jì)算其顯色性。利用每一組中所有可用波段構(gòu)建顏色變換矩陣。因此,矩陣的大小從10波段多光譜集的3 × 10到6波段多光譜集的3 × 6,常規(guī)的3 ×3RGB圖像,其中每個(gè)矩陣的第2維對應(yīng)于總波段數(shù)。根據(jù)直接比色校準(zhǔn),對這個(gè)矩陣迭代優(yōu)化,得到目標(biāo)中所有補(bǔ)丁的小平均值?E00。優(yōu)化后,每個(gè)目標(biāo)得到的矩陣被用于交叉剖面波段集,預(yù)測相反的L*a*b*值,核驗(yàn)?zāi)繕?biāo)。具有低平均值和90%驗(yàn)證目標(biāo)?E00值的波段設(shè)置對每一種減 ...
間,并降低感光度豐富多樣的相位掩模板庫,包括雙螺旋,單螺旋,EDOF,四足,和多色設(shè)計(jì)以提供z大的控制和靈活性。用戶可依據(jù)深度范圍、波長和其他光學(xué)參數(shù)選擇合適的相位掩模版以滿足非常佳的深度-精度平衡。3DTRAX? 軟件用于計(jì)算每個(gè)粒子的z位置,運(yùn)行專有算法以自動(dòng)進(jìn)行3D定位,以?20 nm的深度和分辨率渲染高精度3D圖像,用于單分子定位和跟蹤。對漂移進(jìn)行自動(dòng)校正并生成直觀的繪圖,同時(shí)保持高數(shù)據(jù)質(zhì)量。圖4:3DTRAX?是非常易于使用的斐濟(jì)插件使用適用于 Windows、MacOS 和 Linux 的庫集成到您的工作流程或 OEM 儀器中,以 ThunderSTORM 或雙螺旋文件格式保存圖像 ...
來源。根據(jù)吸光度和光致發(fā)光 (PL) 來選擇激發(fā)波長。為了使 OPD 表現(xiàn)出快速響應(yīng)時(shí)間,快速淬滅激子很重要。在這方面,有兩個(gè)因素需要考慮:受體材料內(nèi)的激子猝滅和在異質(zhì)結(jié)中從供體到受體的電荷載流子轉(zhuǎn)移。對于第1點(diǎn),PC71BM 薄膜的單重態(tài)激子壽命τS1為10.72 ns,而 eh-IDTBR 薄膜的τS1短得多(6.39 ns)。 這是由于PC71BM有更多的缺陷位點(diǎn),延遲了PL淬火。對于第二點(diǎn),測量了eh-IDTBR和PC71BM的TCSPC。光敏層中的單重態(tài)激子衰減與快速擴(kuò)散到供體-受體界面有關(guān),而長壽命組分與電荷分離后的電荷復(fù)合有關(guān)。此外,PBDTTT-EFT 和 PC71BM 混合物 ...
浸物鏡在分光光度計(jì)入口狹縫上成像樣品沿貝塞爾光束產(chǎn)生的拉曼散射,通過冷卻CCD相機(jī)獲得高光譜線圖像,實(shí)現(xiàn)高速拉曼成像,沿y軸平行檢測400個(gè)拉曼光譜。物鏡的組合和選擇在一定程度上受到了物理上是否可能將它們放置在裝置中以及可以放置的被觀察樣本的大小的限制。另外一個(gè)光路來誘導(dǎo)拉曼散射的外延線照明,使用一個(gè)線形焦點(diǎn),以能夠比較貝塞爾和傳統(tǒng)外延線照明模式之間的成像特性。使用圖1(a)中的倒立鏡可以切換兩種成像模式。貝塞爾照明的偏振方向設(shè)置為x方向,使探測物鏡能夠有效地收集誘導(dǎo)拉曼散射。分光光度計(jì)的狹縫寬度設(shè)為1 Airy單位,使狹縫共聚焦效應(yīng)也可實(shí)現(xiàn)z向的空間分辨率。光學(xué)裝置的細(xì)節(jié)如圖1所示。圖一該顯 ...
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