都是基于光柵單色儀實(shí)現(xiàn)的，其中根據(jù)使用光柵種類(lèi)的不同又分為普通光柵單色儀也就是機(jī)械刻劃的光柵單色儀的超光譜成像系統(tǒng)和基于體布拉格光柵（VBG）的單色儀（LLTF）制成的超光譜成像系統(tǒng)這兩類(lèi)的超光譜具有超高的光譜分辨率，所以通道數(shù)對(duì)于這兩類(lèi)設(shè)備一般沒(méi)有太大的意義，大家比較常見(jiàn)的都是比較光譜分辨率和使用波段，這兩種之間又會(huì)有一些差異， 基于刻劃光柵的超光譜的光譜分辨率的極限會(huì)比基于體布拉格光柵的超光譜的光譜分辨率還要高，一般而言刻劃光柵的超光譜分辨率最好的情況下可以到0.02nm-0.05nm這個(gè)數(shù)量級(jí)的水平，體布拉格光柵的超光譜極限分辨率一般都在0.6-2nm這個(gè)水平，雖然在光譜分辨率極限上刻劃 ...

的反射式光柵單色儀的光利用效率都會(huì)比較低，一般來(lái)說(shuō)都只有50%-60%左右的水平，隨著單色儀技術(shù)的發(fā)展，現(xiàn)在可以使用透射式光柵光譜儀（VHG），這樣可以使得光利用效率大幅提高，最高效率可達(dá)到90%以上的水平。拉曼信號(hào)是非常弱的信號(hào)，所以要求采集最終信號(hào)的CCD具有較高的靈敏度和量子效率，一般會(huì)選深度制冷型CCD來(lái)提高信噪比，由于只需要光譜和強(qiáng)度兩個(gè)信息，光譜信息由光譜儀決定，只需要不同波數(shù)上的強(qiáng)度信息，所以出于成本考慮都會(huì)使用線陣CCD。法國(guó)GreatEyes深度制冷寬譜CCD相機(jī) ...

比一般的光柵單色儀具有更高的光通量所以在許多對(duì)光通量有要求的系統(tǒng)中有顯著優(yōu)勢(shì)，并且可以對(duì)每個(gè)通道的光進(jìn)行調(diào)制，不過(guò)聲光可調(diào)諧濾波器（AOTF）也有一定的劣勢(shì)，光譜分辨率不夠優(yōu)異，對(duì)偏轉(zhuǎn)敏感等劣勢(shì)。所以具體特殊應(yīng)用還是需要視具體情況而定，具體器件匹配具體應(yīng)用。您可以通過(guò)我們的官方網(wǎng)站了解更多的產(chǎn)品信息，或直接來(lái)電咨詢4006-888-532。 ...

鏡、場(chǎng)透鏡、單色儀和光電倍增管檢測(cè)器。整個(gè)系統(tǒng)由一臺(tái)專用的臺(tái)式計(jì)算機(jī)控制。線性Stokes參數(shù)，Q和U，由2f調(diào)制頻率測(cè)量，而圓形Stokes參數(shù)V，由第一個(gè)PEM的1f調(diào)制頻率測(cè)量，使用鎖相放大器以獲得額外的精度。直流分量提供了總強(qiáng)度I。在我們能夠產(chǎn)生完全線性偏振光的情況下，圓偏振光完全偏振光的偏振度為零。偏振計(jì)可從400nm調(diào)到800nm，并由軟件自動(dòng)控制，并可以在選定波長(zhǎng)范圍內(nèi)進(jìn)行離散的掃描。單色譜的光譜分辨率為15nm(FWHM)，最常見(jiàn)的采樣頻率為5nm步長(zhǎng)。實(shí)驗(yàn)分別測(cè)量了樣品的透射和反射的圓偏振光譜。光路如圖1：在反射模式下，來(lái)自光纖耦合石英鎢鹵燈的光通過(guò)水平開(kāi)口(B)進(jìn)入直徑為2 ...

意的是，如果單色儀內(nèi)部的溫度控制出現(xiàn)故障，單色儀的絕對(duì)讀數(shù)可能會(huì)每天變化多達(dá) 2-3 波數(shù)。2) 有機(jī)化合物--茚如果需要額外的精度（大約 0.5波數(shù)），則可以使用茚。茚也被用作紅外分光光度計(jì)的頻率校準(zhǔn)器。使用前應(yīng)真空蒸餾純化并保存在密封毛細(xì)管或核磁共振管中。茚的拉曼光譜如下圖所示，下表列出了推薦用于校準(zhǔn)的頻率。3) 激光等離子線氬離子激光器的主要等離子線可用于校準(zhǔn)。為了觀察這些線，應(yīng)該對(duì)激光束進(jìn)行失諧，并且應(yīng)該從熔點(diǎn)管收集散射輻射。這種方法給出的校準(zhǔn)精度優(yōu)于1 波數(shù)。4) 氖發(fā)射線如果有標(biāo)準(zhǔn)的氖光源，Ne 發(fā)射線可用于在寬頻率范圍內(nèi)獲得高頻校準(zhǔn)。下圖顯示了使用 Ne 燈拍攝的光譜。下表列出了 ...

見(jiàn)方法包括：單色儀型分光光度計(jì)測(cè)試方法，干涉型光譜分析系統(tǒng)測(cè)量方法，偏光檢測(cè)分析方法等。反射率測(cè)量的常見(jiàn)方法包括：?jiǎn)未畏瓷涔庾V分析測(cè)試方法，多次反射光譜分析測(cè)試方法和激光諧振腔測(cè)試方法等。光譜測(cè)量方法中有很多因素會(huì)影響透射率和反射率精度，這些因素主要包括：D1，被測(cè)樣品的口徑大小。當(dāng)樣品小于光斑尺寸時(shí)，需要采用光闌來(lái)限制光束的大小。第二，被測(cè)樣品楔形角的影響。為減小該因素的影響，可以使光束盡量準(zhǔn)直，并且盡量采用大口徑的積分球探測(cè)器。第三，光線偏振效應(yīng)。盡量讓樣品垂直放置，并且加上偏振測(cè)試裝置。第四，光譜儀的光譜分辨率。選擇合適的分辨率，濾光片要求較高的分辨率。第五，空氣中某些充分吸收帶的影響。 ...

量影響。用雙單色儀(Jobin-Yvon Ramanor U 1000)記錄了兩種4BrBP晶型的低頻拉曼光譜，并配備了標(biāo)準(zhǔn)光子耦合檢測(cè)裝置。光譜是用寶石532二極管泵浦固體激光器記錄的。激光器發(fā)出的光在光譜的綠色區(qū)域在532 nm。激光束功率約為75兆瓦。拉曼光譜記錄在封閉毛細(xì)管中的粉末晶體上。散射配置。毛細(xì)管固定在Oxford Duplex閉路循環(huán)低溫恒溫器中，溫度范圍為330e60k，精度為±1 K。圖1為室溫(固體曲線)到60k(虛線曲線)冷卻過(guò)程中，4BrBP三斜相的低頻拉曼光譜的連續(xù)變換。在155波數(shù)和30波數(shù)隨著溫度的變化發(fā)生了巨大的變化。圖2a為從20波數(shù)到38波數(shù)的擴(kuò)展視圖。 ...

需求，如掃描單色儀，并最終使緊湊的自給式拉曼光譜儀和拉曼顯微鏡的發(fā)展成為可能。對(duì)于像聚合物和蛋白質(zhì)這樣的大分子，大分子或晶格的宏觀運(yùn)動(dòng)可以發(fā)生在樣品特定的頻率上，特別是在0.15-6太赫茲能量范圍內(nèi)，對(duì)應(yīng)于5 - 200 cm-1拉曼位移。這里的光譜數(shù)據(jù)可以揭示大量關(guān)于局部分子間環(huán)境的細(xì)節(jié):結(jié)晶度和非晶態(tài)物質(zhì)的數(shù)量，液相的數(shù)量，蛋白質(zhì)和其他聚合物的盤(pán)繞和解開(kāi)，以及蛋白質(zhì)的結(jié)合等。太赫茲是一種更難以產(chǎn)生、探測(cè)和操縱的輻射。光源復(fù)雜且效率低下，通常基于超快激光器。探測(cè)器也同樣復(fù)雜。理論上，低頻拉曼，即具有太赫茲位移的拉曼，可以很容易地得到相同的數(shù)據(jù)。但實(shí)際上，隨著拉曼位移的減小和強(qiáng)度的增大濾光片的 ...

力學(xué)所先后將單色儀應(yīng)用到橢偏成像技術(shù)中，研究出的連續(xù)波長(zhǎng)掃描的光譜橢偏成像系統(tǒng)彌補(bǔ)了之前光譜測(cè)量的不足，實(shí)現(xiàn)單波長(zhǎng)到多波長(zhǎng)的光譜測(cè)量；可以測(cè)量材料在不同波長(zhǎng)下的特性，獲取樣品上各微區(qū)的光譜橢偏信息及其分布，具有可達(dá)到原子層分析水平的縱向分辨能力、可達(dá)光學(xué)衍射極限的橫向分辨能力、連續(xù)可調(diào)的光譜分辨能力以及秒量級(jí)的時(shí)間分辨能力。該系統(tǒng)能對(duì)具有復(fù)雜橫向微結(jié)構(gòu)的大面積納米級(jí)層構(gòu)樣品參數(shù)的空間分布特性和光譜特性進(jìn)行快速的測(cè)量和分析，還可以對(duì)表面動(dòng)態(tài)過(guò)程進(jìn)行實(shí)時(shí)分析，為分析復(fù)雜橫向結(jié)構(gòu)的大面積納米級(jí)層構(gòu)樣品提供了一種有效的方法。在從單波長(zhǎng)橢偏成像發(fā)展到多波長(zhǎng)橢偏成像的過(guò)程中，橫向分辨率也從10μm 級(jí)發(fā)展 ...

橢偏成像使用單色儀實(shí)現(xiàn)光譜測(cè)量，但單色儀光譜帶寬較窄，阻擋大部分來(lái)自光源的能量，使入射光強(qiáng)度變?nèi)酰瑴y(cè)量結(jié)果不理想。而新型技術(shù)利用寬帶光源和白光干涉技術(shù)，在入射臂采用掃描干涉儀，通過(guò)掃描參考鏡獲得傅里葉光譜實(shí)現(xiàn)光譜測(cè)量，光源的光譜分布是中心波長(zhǎng)為610nm和半峰全寬為170 nm。該技術(shù)較大地拓寬了光譜帶寬，增強(qiáng)了光強(qiáng)，測(cè)量結(jié)果更加準(zhǔn)確。橢偏儀大多采用透鏡將寬帶光束聚集在樣品表面，然而透射式光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)無(wú)法滿足寬光譜的測(cè)量要求，在深紫外情況下會(huì)產(chǎn)生明顯的色差問(wèn)題。直到 2013 年，電子科技大學(xué)物理電子學(xué)院和中科院微電子所改變聚焦成像系統(tǒng)，研制了基于全反射聚焦光學(xué)系統(tǒng)的深紫外（DUV）寬帶光譜橢 ...