方式又分為串行掃描與并行掃描(推帚式掃描)兩種，如下圖所示。前者是由小型探測器首先掃描視場上方的一個窄條帶，從左掃至右，然后下移至第二排窄條帶，重復(fù)掃描過程，直至記錄目標(biāo)的整個幅面。事實上應(yīng)當(dāng)是探測器靜止不動，而是被探測的圖像掃過探測器。因此串行掃描要求有正交方向的兩個運動，這就要求系統(tǒng)中有兩個獨立掃描的反射鏡。也可以用一塊具有復(fù)合運動功能的反射鏡。推帚式掃描是一種并行掃描方式，它以一維探測器陣列按“推式掃骨”方式掃描物空間。相對于串行掃描方式，并行掃描探測器要復(fù)雜一些，像元數(shù)量比較多，但相應(yīng)的機械結(jié)構(gòu)要簡化得多。如果系統(tǒng)在所要求覆蓋的空間范圍內(nèi)，對目標(biāo)成像于充滿光學(xué)系統(tǒng)焦平面的紅外探測器，則 ...

每個像素的串行掃描。這導(dǎo)致成像速率慢，限制了對神經(jīng)元活動等快速信號的測量。為了提高雙光子成像的速度和信噪比，我們對雙光子顯微鏡進行了簡單的改進，使用了一個衍射光學(xué)元件(DOE)，它將激光束分成幾個小束，可以同時掃描樣品。我們通過增強新皮層大腦切片神經(jīng)元動作電位雙光子鈣成像的速度和靈敏度，證明了DOE掃描的優(yōu)勢。DOE掃描可以很容易地提高雙光子和其他非線性顯微技術(shù)對時變信號的檢測。我們將一個DOE放置在與物鏡和檢鏡后孔徑共軛的平面上(圖1A)。這個元件在光程中被望遠鏡跟隨，這是確保從DOE出現(xiàn)的小束也在檢鏡處重新連接在一起所必需的，允許每個單獨的小束保持準(zhǔn)直，并微調(diào)-小束傳播的角度。當(dāng)使用偶數(shù)量 ...

二維空間上進行掃描時，重要的是要確保每個點以相同的掃描密度進行詢問，并且在每個點上停留的時間是相同的。圖1：非恒定密度掃描與恒定密度模式對比通過線性增加振幅作為時間的函數(shù)而產(chǎn)生的螺旋形掃描，將導(dǎo)致掃描點之間的距離隨著振幅的增加而增加。這是因為對于一個給定的半徑，圍繞圓的采樣點的數(shù)量是恒定的。相反，我們需要的是一種掃描，其頻率隨著振幅的增加而減少，這樣，無論振幅如何，都有一個恒定的密度和停留時間（見圖1）。我們在MATLAB中創(chuàng)建了一個恒定密度的掃描模式，并將X和Y坐標(biāo)以.CSV格式保存到SD卡中。使用Moku:Lab的任意波形發(fā)生器，我們隨后導(dǎo)入文件并在輸出通道1和通道2上生成這些X和Y位置指 ...

。線聚焦和逐行掃描直線掃描提供了一種更快速的圖像生成方法。在這種方法中，激光被聚焦在一條線上，通常用一個圓柱體透鏡。因為透鏡聚焦高斯光束到一個高縱橫比，只有光束的中心部分是可用的。這一問題可以用鮑威爾透鏡來解決，它可以將光束聚焦到一個均勻強度的高aspect矩形。在流行的掃描配置中，線聚焦光束是靜止的，物體在它下面平移。不太常見的是，線聚焦光束掃描靜止物體。從逐點掃描的總測量時間的減少是顯著的，因為同時獲得100或更多的光譜。獲得這些光譜的測量時間可能比點聚焦激光測量單個光譜的時間短，也可能只長一點。原因是在線聚焦的情況下，激光總功率可以大得多。然而，由于每個電荷耦合器件(CCD)行包含1像素 ...

激光束本身進行掃描。然后用象限光電探測器檢測返回的光，其中有許多成像模式是可能的。冷卻CCD相機允許對樣品進行全方位低電平直接成像，如果有必要，可以在幾幀上集成以獲得更好的噪聲性能。如果您對磁學(xué)測量相關(guān)產(chǎn)品有興趣，請訪問上海昊量光電的官方網(wǎng)頁：http://www.arouy.cn/three-level-150.html更多詳情請聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián)系昊量光電關(guān)于昊量光電：上海昊量光電設(shè)備有限公司是光電產(chǎn)品專業(yè)代理商，產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學(xué)測量設(shè)備、光學(xué)元件等，涉及應(yīng)用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學(xué)研究、國防、量子光學(xué)、生物顯微、物聯(lián)傳感、激光制造等； ...

m的距離上進行掃描，精度為2 nm。CoPt3光盤是由15 nm的CoxPt1?x (x=0.25)合金薄膜通過分子束外延生長在沉積在500 um取向藍寶石(0001)襯底上的12 nm Pt緩沖層上，通過電子光刻制成的圓盤的直徑為0.2 ~ 1m，圓盤之間的距離為0.5 ~ 2um。圖2圖2(a)表示時間的變化泵浦激勵密度為4 mJ cm?2，外加磁場設(shè)置為3.5 kOe，使靜態(tài)磁化達到飽和。插圖描繪了超快磁化動力學(xué)的詳細視圖。圖2(b)表示類似的曲線，但激發(fā)密度為8 mJ cm?2。初始退磁發(fā)生在泵浦脈沖期間，對應(yīng)于自旋的激光加熱，發(fā)生在電子的熱化過程中由于探針脈沖持續(xù)時間為180秒，這里 ...

積分時間內(nèi)進行掃描，從10到50微秒，積分時間為10 ms, 15 ms, 20 ms, 25 ms, 30 ms, 35 ms和50 ms。結(jié)果證明，照明FYLA的SC500源在感興趣的范圍內(nèi)具有比鹵鎢源更高的發(fā)射度。實際上，所有的測量在不同的積分時間，都在傳感器中產(chǎn)生飽和。它還注意到FYLA的SC500鞭子的一個非常好的位置點(在集成的所有時間都有非常快的衰減)。下圖:從左到右，從上到下，積分時間分別為10ms, 30ms和50ms，以及3D圖像，可以看到0.5 w (FYLA)獲得的功率密度大大優(yōu)于50W鹵素?zé)簟Ｈ缦聢D為實驗室測試對比而創(chuàng)建的布局了解更多詳情，請訪問上海昊量光電的官方網(wǎng)頁 ...

輪廓，就需進行掃描，這使得測量范圍擴大為1m成為可能。下面介紹一種采用角傳感器的平面度測量方法，如圖所示。在這種系統(tǒng)中，沿著整個測量表面掃描反射器，表面輪廓h(x)的變量h(x)可由反射角按照下式關(guān)系式推導(dǎo)出來：式中，D為反射鏡長度。通過對上面的方程進行積分，得到表面輪廓h(x)。為了獲得兩維的表面輪廓，必須在兩個方向上掃描反射鏡。然而，空間分辨率由反射鏡的長度D決定，因此，我們不能獲得高的空間分辨率。而且，反射鏡的位置不確定度會引起大的測量誤差，這種方法不適用于對軟性材料或薄材料的測試，如硅片等。更多詳情請聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián)系昊量光電關(guān)于昊量光電：上海昊量光電設(shè)備有限公司是光電產(chǎn)品專業(yè) ...

S6的描述進行掃描。縫合的圖像(圖6(b))以及示范性的單幀(圖6（c-e）從視頻S5的補充材料)提供了相同的明顯的更大的特征，如形狀，裂縫等。作為攝影(圖6(a)).此外，太赫茲圖像顯示，水分含量較高的葉片明顯較暗。雖然失去了解決更細節(jié)的能力，但這可以進行準(zhǔn)確的定性分析，甚至實時監(jiān)測擴散過程。圖6. 實驗前采集的兩個：一個來自干燥的地方（中間），一個來自潮濕的排水溝（底部）。用太赫茲透明膠帶粘在1毫米厚的特氟隆片上；通過圖像處理去除特氟隆和膠帶條紋，以獲得更好的視覺清晰度；部分仍然可見。不同的葉子(b)的太赫茲圖像與一對鑷子增強對比度（垂直線）和特四氟乙烯薄片的邊緣（頂部，水平）可見。水分含 ...

后對參考臂進行掃描，并在檢測器上記錄得到的光強度。當(dāng)鏡子幾乎與樣品中的某個反射結(jié)構(gòu)等距時，會出現(xiàn)一定的干涉圖案，從而獲得樣品對應(yīng)位置的結(jié)構(gòu)信息。顯然在參考鏡移動的過程中，兩次干涉發(fā)生對應(yīng)的參考鏡位置之間的距離對應(yīng)于測量光路中樣品兩個反射結(jié)構(gòu)之間的光學(xué)距離。當(dāng)光束穿過樣品時，不同的位置的獨特結(jié)構(gòu)會通過上述低相干干涉記錄的反射量被記錄下來，從而得到測量樣品的散射信號和深度之間的函數(shù)關(guān)系。把 OCT 中使用的寬帶光源光束聚焦到一個小點（約幾微米），并在樣品上進行x-y掃描，同時使用干涉測量收集深度信息，這樣可以構(gòu)建樣品的完整 3D 圖像。2.傅里葉域OCT傅里葉域OCT（FD-OCT）提供了一種更高 ...