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像系統(tǒng)，由于探測(cè)器像元數(shù)比掃描型要多得多，相應(yīng)的光學(xué)系統(tǒng)視場(chǎng)也必須與此匹配,并且要充分發(fā)揮探測(cè)器的效能。第四,由于中波紅外和長(zhǎng)波紅外是絕大多數(shù)熱能存在的區(qū)域，所以紅外光學(xué)系統(tǒng)的熱效應(yīng)也是一個(gè)需要考慮的問(wèn)題。由于紅外探測(cè)器敏感于熱能，任何能夠到達(dá)探測(cè)器的熱輻射都會(huì)降低系統(tǒng)的靈敏度，甚至造成圖像異常。某些紅外探測(cè)器必須在深冷的條件下工作，需要封裝在杜瓦瓶中，這時(shí)需要考慮光學(xué)系統(tǒng)的孔徑光闌與杜瓦瓶冷闌的匹配問(wèn)題。同時(shí),光學(xué)元件的折射率會(huì)隨溫度變化，并且光學(xué)、機(jī)械元件都會(huì)由于熱膨脹而產(chǎn)生變形，由此而導(dǎo)致的像差稱為熱差。因此在設(shè)計(jì)時(shí)需要對(duì)此進(jìn)行分析，必要時(shí)還需要采用消熱差的設(shè)計(jì)方法。相關(guān)文獻(xiàn)：《幾何光學(xué) ...
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