測(cè)量探測(cè)器的暗電流，然后從每個(gè)探測(cè)器單元的光測(cè)量結(jié)果中減去暗電流的光信號(hào)貢獻(xiàn)值。圖2 簡(jiǎn)化方框圖圖3 PR系列亮度計(jì)光路圖儀器出廠時(shí)已通過(guò)相應(yīng)的校準(zhǔn)系數(shù)校準(zhǔn)光譜數(shù)據(jù)，校正系數(shù)包括波長(zhǎng)精確度修正、光譜分布修正和光度修正。波長(zhǎng)校準(zhǔn)采用的是具有特征光譜的氦燈光源，線光源提供了已知的光譜發(fā)射譜線通過(guò)光柵分光后投射到多探測(cè)器上再通過(guò)軟件顯示；用于波長(zhǎng)校準(zhǔn)的氦譜線包括388.6nm，447.1 nm，471.3 nm，587.6 nm，667.8 nm，706.5 nm和728.13 nm；接下來(lái)，可用光譜校準(zhǔn)系數(shù)校準(zhǔn)這些數(shù)據(jù)；這些校準(zhǔn)系數(shù)確保被測(cè)目標(biāo)光譜能量分布(SPD)和由此計(jì)算出的數(shù)據(jù)比如CIE色度 ...

效面積越小，暗電流越小，響應(yīng)速度越快；光電二極管的下降時(shí)間(響應(yīng)時(shí)間) 與其探測(cè)帶寬 關(guān)系如下：式中C和R分別為讀出電路的阻抗和光電二極管的結(jié)電容，其中：式中的和分別為真空介電常數(shù)( 固定為)和相對(duì)介電常數(shù)；A為光電二極管的有效面積；d為PN結(jié)的耗盡層厚度。其中A越小，則越小(即響應(yīng)速度越快)；其次還可以通過(guò)縮短耗盡曾厚度來(lái)是響應(yīng)速度加快。相關(guān)文獻(xiàn)：[1].Toru.Y.(2015) “光學(xué)計(jì)量手冊(cè)”,[M]:67-71更多詳情請(qǐng)聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián)系昊量光電關(guān)于昊量光電：上海昊量光電設(shè)備有限公司是光電產(chǎn)品專(zhuān)業(yè)代理商，產(chǎn)品包括各類(lèi)激光器、光電調(diào)制器、光學(xué)測(cè)量設(shè)備、光學(xué)元件等，涉及應(yīng)用涵蓋了 ...

導(dǎo)致p-n結(jié)暗電流的不均勻分布從而引起信號(hào)的失真。綜上，想要提高PSD的線性度就需要分兩步走，首先針對(duì)PSD本身的材料和結(jié)構(gòu)，其次是通過(guò)算法來(lái)對(duì)PSD的zui終輸出進(jìn)行修正。在本文我們主要針對(duì)PSD的內(nèi)部影響因素來(lái)談一談提高線性度的方式。與結(jié)構(gòu)相對(duì)簡(jiǎn)單，線性度也比較好的一維PSD相比，二維PSD的結(jié)構(gòu)稍顯復(fù)雜，要保證兩個(gè)方向的線性度都很好就需要更加復(fù)雜的設(shè)計(jì)和工藝加工流程。二維四邊形PSD的等效電路圖如圖2所示。圖2該P(yáng)SD的制作工藝較為簡(jiǎn)單，暗電流小同時(shí)制作流程也比較短，適合大批量的生產(chǎn)，但是該P(yáng)SD因?yàn)殡姌O設(shè)置在同一個(gè)平面，電極距離很近，電極之間影響較大，導(dǎo)致容易失真的問(wèn)題，線性度比較好的 ...

in的信號(hào)是暗電流的RMS信號(hào)（噪聲）。它主要由檢測(cè)器的讀出噪聲決定。對(duì)于Ariel光譜儀中使用的CMOSS11639檢測(cè)器，RMS噪聲約為13至14個(gè)ADC計(jì)數(shù)。這給出了~5000的動(dòng)態(tài)范圍。因此，我們可以測(cè)量100%到0.02%的反射率。當(dāng)然，0.02%將是檢測(cè)限（信號(hào)=噪聲）；因此我們可以在低反射率水平下精確測(cè)量約0.1%的反射率差異。圖1（左）顯示了其中一項(xiàng)測(cè)量結(jié)果。反射光譜中干涉條紋的幅度約為0.1%，并且非常清晰：薄膜疊層模型與測(cè)量數(shù)據(jù)相符，并且可以準(zhǔn)確確定厚度/n&k。圖1 低光學(xué)對(duì)比度測(cè)量–基材上的涂層，折射率差異<0.1反射條紋p-p幅度~0.1%。模型根據(jù)數(shù)據(jù) ...

短占空比和低暗電流。與TG拉曼應(yīng)用相比，SPAD探測(cè)器目前的一個(gè)缺點(diǎn)是，與ccd相比，在探測(cè)器陣列中匹配相當(dāng)數(shù)量的像素是一個(gè)挑戰(zhàn)。這可能會(huì)對(duì)光譜分辨率產(chǎn)生影響，盡管有方法可以改善這一點(diǎn)，例如微透鏡陣列和亞像素采集的實(shí)現(xiàn)。目前的商用TG拉曼光譜儀提供的光譜分辨率約為5 (cm?1)波數(shù)，而一些基于CCD的系統(tǒng)可以達(dá)到1 (cm?1)以下。然而，大多數(shù)應(yīng)用不需要子波數(shù)分辨率。5. TG拉曼spad探測(cè)器發(fā)展綜述Blacksberg等人和Nissinen等人在2011年首次展示了SPAD技術(shù)在TG RS中的應(yīng)用。Nissinen小組使用300 ps脈沖Nd:YAG微芯片激光器的上升沿，在532 nm ...

以接受更高的暗電流檢測(cè)器，例如未冷卻的pmt。同年，Harries等人首次將TR實(shí)驗(yàn)中的熒光背景抑制水平與在992 cm?1熒光團(tuán)摻雜的苯拉曼帶上連續(xù)激發(fā)的水平進(jìn)行了比較。當(dāng)時(shí)的激光系統(tǒng)和探測(cè)器需要大型、復(fù)雜的設(shè)備，需要非常精確的設(shè)備校準(zhǔn)。到1985年，Deffontaine等人正在測(cè)試皮秒(ps)時(shí)間門(mén)控的主動(dòng)和被動(dòng)方法，目的是結(jié)合同步條紋相機(jī)檢測(cè)和光學(xué)Kerrgate來(lái)提高信噪比;然而，他們注意到這種方法的適用性有限。同年，Watanabe等人利用快速門(mén)通PMT-MCP排列和570nm ps脈沖激光，在31 ps的超短TG窗口中證明了乙醇摻雜羅丹明6 G的熒光抑制。一年后，1986年，Ev ...

的制造。測(cè)量暗電流和光電流之間的差值，并將字母“T”成像為像素圖形。研究結(jié)果表明，將二維材料的電化學(xué)剝離與噴墨打印相結(jié)合是下一代、大規(guī)模和高性能光電器件的一種很有前途的方法。拉曼和PL的主要作用，就是分析通過(guò)TFSI修飾后MoS2納米片結(jié)構(gòu)的改變，以及PL信號(hào)增強(qiáng)背后的原因。華中科技大學(xué)史鐵林教授簡(jiǎn)介：男，教授，博士生導(dǎo)師，史鐵林（Shi Tielin，Professor），1964年1月出生，中共黨員，博士，教授，博士生導(dǎo)師，guo家級(jí)領(lǐng)軍人才，曾任機(jī)械學(xué)院黨委書(shū)記。1985年本科、1988年碩士畢業(yè)于西安交通大學(xué)，1991年博士畢業(yè)于華中理工大學(xué)，1993年博士后出站，進(jìn)入華中科技大學(xué)（原 ...

的噪聲，包括暗電流噪聲、散粒噪聲和讀出噪聲。從圖像分析的角度來(lái)看，CCD采集的圖像信號(hào)E(x,y)包括真實(shí)的激光信號(hào)Eture(x,y)和背景圖像信號(hào)EB(x,y)，其中背景圖像信號(hào)可以進(jìn)一步分為高頻隨機(jī)信號(hào)EB·noise(x,y)，均勻的基底偏執(zhí)EB·offset(x,y)和非均勻的基底偏置EB·inh(x,y)。其中包含在激光光束寬度積分計(jì)算中的高頻隨機(jī)噪聲為統(tǒng)計(jì)誤差，可以通過(guò)多次測(cè)量取平均值的方式減小誤差的引入。通過(guò)統(tǒng)計(jì)分析，高頻隨機(jī)噪聲大體為高斯分布。基底噪聲引入的誤差可以通過(guò)采集多幅背景圖取平均然后背景光扣除的方式消除。但是，扣除之后的基底噪聲不可能完全等于零，即便很小的基底值也會(huì) ...