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二十九）- 能級壽命和電導(dǎo)率能級壽命和電阻率及電導(dǎo)率有如下關(guān)系式，Γ=?γ，能級壽命=1/γ，電阻率ρ=γ/而電導(dǎo)率=1/ρ，通過求得的電阻率就可得到電導(dǎo)率。前面擬合已經(jīng)得到的Drude中的等離子體頻率(wp)、阻尼頻率(Γ)及LorentzOscillator參數(shù)：振幅(A)、中心能量(E)、展寬能量(Γ)和光學(xué)常數(shù)：n，k，，，如表4-2所示。把相應(yīng)的參數(shù)帶入上述公式計(jì)算得到CU2O沉積薄膜的能級壽命和電導(dǎo)率如圖4-15和圖4-16所示。圖4-15是不同沉積時(shí)間下對應(yīng)的CU2O沉積薄膜的能級壽命，可以看到能級壽命在10-16-10-14s數(shù)量級之間。對于Drude能級壽命在所有沉積時(shí)間下都 ...
態(tài)需要較長的能級壽命，光子能在亞穩(wěn)態(tài)穩(wěn)定存在一段時(shí)間，因此在吸收下一個(gè)光子之前不會(huì)發(fā)生弛豫，這樣相當(dāng)于可以經(jīng)過雙光子或多光子過程使其從基態(tài)躍遷到較高的激發(fā)態(tài)，進(jìn)而發(fā)光。您可以通過我們的官方網(wǎng)站了解更多的產(chǎn)品信息，或直接來電咨詢4006-888-532。 ...
子吸收峰，其能級壽命在10-16-10-14s。擬合計(jì)算得到的電導(dǎo)率在104S/m數(shù)量級。zui后，對沉積厚度分析知，沉積速率會(huì)隨著時(shí)間會(huì)變化。CU2O薄膜沉積的生長方式可能是層狀生長和島狀生長。當(dāng)為層狀生長時(shí)算出平均沉積速率為0.34±0.05nm/s，與之前假設(shè)的庫倫效率比，層狀生長的庫倫轉(zhuǎn)換效率為36%。但是層狀擬合曲線和擬合得到的厚度差別大，用非線性擬合得到了比較好的結(jié)果，此時(shí)沉積厚度隨時(shí)間的變化關(guān)系式d=0.005t0.72nm/s，平均庫倫轉(zhuǎn)換效率為50%。故而又對180s和360s得到的橢偏數(shù)據(jù)以島狀生長方式用EMA模型進(jìn)行擬合，得到了不同的形狀因子與覆蓋率。了解更多橢偏儀詳情， ...
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