推力桿的長度對準確FRF的測量起著非常重要的作用。如果推力桿太短，那么在測得的響應函數中可以看到有通常的剛度影響，對于這種特殊的情況，存在通常的調諧吸振器效應，很容易看得出來。這種調諧吸振器效應不見得在每一個推力桿應用中都會發生，但在這個特殊的測量設置中觀察到了。采集到的兩個FRF測量結果疊在一起顯示在圖5中 – 一個用短推力桿而另一個用長推力桿。這兩個測量結果進行比較，展現出所測全部系統模態中的明顯差異。圖5 – 頻響對比我希望這一點兒討論已經把這個關于激振器推力桿設置的問題解釋清楚了。如果你有關于模態分析的任何其他問題，盡管問我好了。在北京科尚儀器官網發布模態空間系列文章及其中文翻譯，得到 ...

術。即，在自對準DRIE制造過程中，設計并實現了一系列針對速度、角度、面積占用或共振驅動優化的靜電執行器。鏡面的直徑和幾何形狀由客戶選擇，以優化其特定應用的性能。鏡子大小及角度性能鏡子MEMS鏡子不受角度限制，不管鏡子的大小，除了在少數特殊情況下。Z大角度通常只有在保持高速時才會受到限制，在大多數設計中，機械偏轉的角度大約在-5°到+5°之間。所有集成鏡尺寸和通過5.0mm直徑的粘結鏡都可以在這個范圍內使用。一些鏡子的作動器有更高的角度能力，在這種情況下，只有Z大的鏡受到機械限制，取決于鏡的大小。在定制研發項目中，Mirrorcle也展示了6.4mm、8.2mm、9.0mm的鏡子。在這些情況下 ...

倒置顯微鏡下對準和密封。組裝的裝置包括寬150米、高65米的主流通道、上游位移（平行點）和下游阻抗（45?交錯）電極陣列（圖2）。為了進行實驗，使用平行點電極陣列對流體界面進行電場作用，并在不同的電場頻率下強迫fDEP移位(圖2b-d)。當流體離開第一個位移陣列時，界面應力停止了。由于慣性對流動的影響很小(Re < 1)，流體界面在退出fDEP數組后，立即保持固定在移位位置。然后，我們通過使用第二個交錯電極陣列測量阻抗的大小來確定偏轉位置[1]。3.2實驗物品介紹液體界面由兩種流體組成，每種流體具有不同的電導率(σ)和介電常數（ε）。當被迫以低雷諾數并排流動時，這兩種流體形成了一個在它們 ...

裝實現較佳的對準○緊湊型設計○輸入光束直徑@ 1/e2 = 10 mm；輸出光束直徑dAiry = 10 mm○激光誘發的損傷閾值：12 J/cm2, 100 Hz, 6 ns, 532 nma|AiryShape的尺寸a|AiryShape的性能&靈活性在下圖中，沿其傳播方向（Z軸）的歸一化光束剖面圖被總結為一個圖。檢測范圍是腰部位置周圍的±1.5毫米。此外，在不同的工作平面上，相應的有趣的強度剖面被顯示為二維和橫截面圖。這兩張特征光束輪廓圖都是用a|AiryShape（λ=635納米）生成的。根據a|AiryShape的工作原理，不僅可以在聚焦透鏡的焦平面上生成一個Top-Hat光 ...

通相機即可：對準目標、光源、調節積分時間和焦距、拍照采集數據、查看結果。且操作靈活：高光譜成像、延時采集數據、現場快速檢測、現場應用分析。上海昊量光電設備有限公司與芬蘭SPECIM公司正式簽署了代理協議，Specim公司正式授權昊量光電為中國地區的代理合作伙伴，負責旗下所有產品在中國地區的銷售、商務拓展與技術服務。Specim高光譜成像供應商。作為該領域的先驅和先行者，到目前為止成立已經有27年之久。Specim國際團隊由70多名專業人士組成，在光學，電子，軟件和機器視覺方面擁有專業知識，為市場提供廣泛的高光譜相機，成像光譜儀，系統和配件。目前Specim產品被各類OEM客戶用于機器視覺系統， ...

除了與干涉儀對準相關的固有缺陷，以及它們對機械振動或空氣湍流的高靈敏度外，上述校準設置還需要大量的光學元件。代替干涉測量，可以替代地實施基于衍射的方法來獲得校準曲線。 一般來說，這些方法依賴于對衍射場的分析，這是由于光與某些多相 DOE 的相互作用，這些 DOE 以前被編碼到 SLM 中。 為了獲得校準曲線，他們采用相位檢索算法。 其他方法只是量化遠場中相應 DOE 的參數之一，例如由兩級光柵產生的衍射級強度或菲涅耳圖像圖案的可見性 。基于衍射 方法原則上對環境干擾不太敏感，但相反，它們可能會受到殘余強度調制和/或與非衍射光相關的零級衍射引入的差異的影響。未包含在上述組中的其他類型的校準方法使 ...

也需要更高的對準精度。如果余弦校正器和透鏡沒有正確對齊，測量偏差可能會對測量數據產生負面影響。余弦校正鏡第①種選擇:光源-余弦校正器-樣品-準直透鏡-光譜儀。第②種選擇:光譜儀-余弦校正器-樣品-準直透鏡-光源。三．選擇和定制合適的測量設備3.1光源透射測量可以在各種半透明材料或物體上進行。不僅遵循正確的程序，而且所使用的設備的組合也將決定透過率測量的結果。為了獲得可用的數據，重要的是要使用與被測材料感興趣的光譜區域相匹配的光源和探測器(光譜儀)。例如，如果您的測量應用程序需要VIS (380-780nm)范圍內的全光譜分析，那么光源和光譜儀都應該覆蓋該波長范圍，并具有良好的信噪比。這意味著， ...

鏡時，當焦點對準某一物體時，不僅位于該點平面上的各點可以看清楚，而且在此平面的上下一定厚度內，也能看得清楚，這個清楚部分的厚度就是焦深。焦深大，分辨率降低，但可以看到被檢物體的全層，而焦深小，則只能看到被檢物體的一薄層。對于理想光學系統，以高斯像點為參考點時，波像差為零。若有一微量的離焦只要其產生的波像差小于 1/4 波長,仍然不丟失其成像的完善性。與此相應的離焦量為無論實際像點在高斯像點之前或之后波像差都不會超過 1/4 波長,故定義焦深為由此可見，焦深與光學系統的孔徑角有關，孔徑越大，焦深越小。焦深是光學中的一個重要量值,可用它作為衡量光學系統的剩余像差能否被允許的尺度。相關文獻：《幾何光 ...

快速和直接的對準d-scan和開始測量!視頻1--d scan alignment tutorial視頻鏈接：如何簡單、快速和直接的對準d-scan和開始測量!測量案例—振蕩器少周期Ti:藍寶石振蕩器：測量(a)和反演(b) d-scan跡線。(c)實測光譜(黑色)和反演光譜相位(紅色)。(d)反演到的時間剖面(黑色)和相位(紅色)。脈沖持續時間為5.5±0.1 fs (FWHM)。欲知詳情，請瀏覽:M. Miranda, P. Rudawski, C. Guo, F. Silva, C. Arnold, T. Binhammer, H. Crespo, and A. L’Huillier, ...

旋轉必須仔細對準，以盡量減少像差。在這里，棱鏡的角啁啾不能通過對其輸出面進行成像來消除，但通過將SHG晶體直接放在棱鏡之后并盡可能靠近棱鏡，可以將其影響降到z低。由于光束在通過棱鏡的過程中受到聚焦，因此應注意避免棱鏡中的非線性效應。zui后，所有討論的實現的共同點是需要一個足夠均勻的光束輪廓-光束上顯著的強度變化會降低測量的精度。在實際操作中，可以在設置之前使用放大鏡和光圈來選擇光束輪廓的中心部分進行測量。對于長脈沖的表征，上面討論的方法不再實用，因為在單個棱鏡中可以實現的相當大的光束尺寸的色散變化量(例如玻璃插入窗口)被限制在幾百fs2的GDD。圖5(c)描述了一種優雅的替代方案，它也非常適 ...