剛石中的一種點缺陷。金剛石晶格中一個碳原子缺失形成空位，近鄰的位置有一個氮原子，這樣就形成了一個NV色心。反聚束效應是一種量子力學效應，它揭示了光的類粒子行為。它是由于單光子源一次只能發射一個光子而產生的現象。由于兩次光子發射之間必須完成一個激發和弛豫循環，兩次光子發射之間的最小間隔主要取決于單光子源的激發態壽命。當將發光信號分成兩束，采用兩個檢測器同時探測，每個光子只能被其中一個檢測器探測到。即在同一時刻僅有一個檢測器可以探測到光子。反聚束效應會導致兩個探測器的信號在很短的延遲時間內呈現反相關（HBT實驗）。“光子反聚束測試功能和常見的利用機械位移平臺的mapping方式相比，采用掃描振鏡的 ...

諸如硼雜質等點缺陷也可以在這些條件下被誘導移動。在經過一段時間的設備運行并隨后在700℃的氮氣環境中進行退火以收縮RISFs（如圖1a所示）[1]之后，對SiCPIN二極管進行了EL成像[1]。隨著RISFs的擴張，從器件中收集到的EL從400nm到780nm，步長2nm，曝光時間為30s。使用IMA收集的單色圖像可以將不同類別的缺陷分離開來。如圖1b顯示了RISFs的峰值發射，中心波長為424nm，圖1c-d顯示了534nm和720nm處的部分位錯。圖2中標有“1”和“2”的兩個區域的光譜響應確認，PDs由于RISFs在424nm處有類似的尖銳發射，而在530-540nm處為較寬發射。通過結 ...

ED的進行的點缺陷、線缺陷和mura檢測比較類似;Demura：也就是消除mura，以使屏幕達到均勻一致，可以是亮度demura，也可以是色度demura。Color Vision的成像亮度色度計不僅可以校正Mini-LED背光，也可以對LCD/OLED/Micro-LED屏進行demura。缺陷檢測和Demura制造過程中，顯示屏難免會產生各種缺陷，如常見的有點缺陷、線缺陷、塊狀類缺陷(如漏光/Mura)等。除了可以用成像式光度計和軟件算法進行缺陷的檢測外，還可以使用成像式光度計來進行缺陷補償，如業內常稱的“Demura”。Demura工序對OLED產品的良率提升是非常關鍵。針對您的需求，我 ...

的一種原子級點缺陷，由鄰近碳空位的一個氮原子替代碳原子構成。其獨特的結構賦予其多維度物理特性，成為量子科技領域的核心研究對象之一。圖2 NV色心能級躍遷圖（來源：維基百科）氮空位中心具有一個基態三重態（3A）、一個激發態三重態（3E）以及兩個中間態單重態（1A和1E）。3A和3E均包含m?=±1自旋態（其中兩個電子自旋平行排列，向上為m?=+1，向下為m?=-1）和m?=0自旋態（電子自旋反平行排列）。由于磁相互作用，m?=±1態的能量高于m?=0態，在沒有外界磁場時，m?=±1簡并，1A和1E各自僅包含一個m?=0的單重自旋態。見圖2。光學躍遷需遵循總自旋守恒原則，因此僅允許總自旋相同的能級 ...