磁疇成像的四種傳統磁光效應從圖1的右列可以明顯看出傳統磁光效應之間的現象學差異。對于Kerr, Voigt和梯度效應，在光學偏光顯微鏡下，對FeSi晶體的四相疇圖進行了成像，其中表面疇沿兩個正交易軸磁化。對于每種效果，通過適當設置顯微鏡的光學元件并根據指示選擇適當的光入射來調整典型的域對比度。在克爾效應中，四個疇相出現在多達四個不同的灰度級，因為這種效應線性地依賴于磁化矢量。由于Voigt效應具有二次依賴于磁化，相同的區域模式在Voigt顯微鏡中只顯示兩個灰度級，每個磁化軸一個，與磁化方向無關。在對磁化變化敏感的梯度效應中成像，區域邊界顯示出依賴于鄰近區域相對磁化方向的對比度。梯度和Voigt ...

磁光效應的應用和拓展MOKE的主要技術應用是MO記錄。除了這種應用之外，克爾效應還不斷得到新的應用。例如，MO克爾光譜已被用于檢測表面磁性，甚至用于可視化表面磁疇和疇壁的運動。MO Kerr光譜學已被應用于研究磁性多層的性質，如振蕩層間磁耦合，等離子體共振引起的MO增強效應，以及超薄鐵磁薄膜中的量子約束效應。MO - Kerr光譜學應用的其他領域包括，例如，在Co-Pt相圖中發現新晶體相的形成。此外，單晶的磁晶各向異性，即磁性能與磁化方向相對于結晶軸的依賴關系，已經用MO克爾光譜明確地觀察到。另一個應用是使用MOKE在薄膜中記錄亞皮秒級的自旋動力學和磁弛豫過程，還可以可視化對磁脈沖的時空響應。 ...

磁光效應的物理機理從1845 年法拉第效應被發現至今，為人們所熟知的磁光效應大致有法拉第 效應，克爾效應和塞曼效應等。法拉第效應如上邊所說，是指偏振光在經過有 磁性的樣品且透射穿過樣品后，透射光的偏振面相對于入射偏振光發生一定角度 的偏移的現象。其產生的根本原因，從光學上來講，就是左旋偏振光和右旋偏振 光在磁性材料中折射率不同，從而使得兩種偏振光在磁性樣品中傳播的過程中產 生了光程差，進而產生相位差，從樣品中出射后兩種偏振光合成的透射光就表現 為偏振面較入射光來講發生了一定角度的偏轉。塞曼效應是指在外磁場中，光源發出的光的各能級譜線在磁場下進一步分裂 成更多條，并且分裂出的各譜線的間隔和外磁場 ...

掃描。圖3.磁光效應的示意圖一、法拉第效應磁光傳感器的原理是法拉第效應。它描述了通過磁光傳感器的線性偏振光的偏振平面的旋轉，該磁光傳感器暴露在磁場中，該磁場平行于應用光波的傳播方向。更具體地，線偏振光由具有相同頻率和相位的左圓偏振波和右圓偏振波疊加而成。當光通過施加與光波方向平行的磁場的MO 介質時，它會分散成兩個具有不同相速度的相反旋轉的圓偏振波。由于這兩個部分波的相移 - 光的偏振面的旋轉和每個分量的不均勻吸收 - 導致橢圓偏振波，這是磁場強度的可分析現象，并允許有深入了解樣品的磁性。圖4.這是動態范圍為0.05 至 30kA/m 的 MO 傳感器在整個傳感器表面上的特性圖二、傳感器晶片為 ...

個課題是增強磁光效應在等離子體納米結構中的應用。納米結構中的磁等離子體具有在納米尺度上提供光子接收、發射和光控制的靈活性的潛力，這在許多新興的納米光學應用中是至關重要的。例如，當入射光束與沉積在磁性元件(如Co、CoFeB、CoPt和NiO)上的貴金屬薄膜(如Ag和Au)內部的表面等離子體激元極性耦合良好，然后反射回光場時，其性質(如強度和極化狀態)對介質介電常數和磁化非常敏感。光的偏振狀態作為信息載體，不僅在生化傳感、光通信和超靈敏成像等領域具有巨大潛力，而且在量子信息的光子傳遞中也發揮著重要作用。金屬納米結構表面附近的入射電磁激勵和自由電子集體振蕩的耦合模型由于其增強的等離子體和磁光特性( ...

是由三種克爾磁光效應中的任何一種產生的。偏振入射光由快速脈沖(2-3納秒)氮化染料激光器產生，照亮整個觀察場，或者由氬離子激光器產生，在衍射限制的掃描點共聚焦模式下工作。兩種激光器都是波長可調的。在第二種情況下，通過對被成像的樣品在激光光斑下進行光柵掃描，或者使用伺服安裝的鏡子對激光束本身進行掃描。然后用象限光電探測器檢測返回的光，其中有許多成像模式是可能的。冷卻CCD相機允許對樣品進行全方位低電平直接成像，如果有必要，可以在幾幀上集成以獲得更好的噪聲性能。如果您對磁學測量相關產品有興趣，請訪問上海昊量光電的官方網頁：http://www.arouy.cn/three-level ...

明了一種基于磁光效應的成像橢偏儀，應用于對樣品表面納米尺度薄膜厚度分布的觀測。它通過磁光調制技術來調整接收光的偏振方向；采用面陣探測器獲取樣品表面的橢偏圖像；采取用磁光調制器取代傳統步進電機轉動起偏器、補償器或檢偏器光軸的方法來實現橢偏儀的測量，采用磁光調制器改變接收光的偏振方向，可以得到更高的偏振方向控制精度和重復精度，而且磁光調制器的調制速度更快。該技術給成像橢偏儀發展提供了新的方向，較大地提高了測量速度。如果您對橢偏儀相關產品有興趣，請訪問上海昊量光電的官方網頁：http://www.arouy.cn/three-level-56.html相關文獻：1薛利軍, 李自田, 李 ...

得正確調整的磁光效應的關鍵是K?hler照明的精確設置，其中照明光源(例如光纖輸出)完全散焦到磁性樣品上，從而獲得樣品的均勻照明。克爾顯微鏡的主要照明路徑如圖1a所示。光源與物鏡的后焦平面位于共軛孔徑平面(AP)內。此外，還存在幾個共軛像面(IP)，其中zui重要的是場膜和磁樣品。為了獲得zui佳的磁成像結果，纖維在三個軸上的位置的正確排列是zui重要的。不同物鏡的后焦平面可能變化的位置通過沿成像軸改變光纖輸出或通過在照明路徑中應用可調聚光鏡來補償。由于照明光纖輸出的直徑，試樣以如圖1b所示的窄入射角傳播照射，從而導致磁光靈敏度的良好定義條件。實際上，通過將光纖輸出定位在孔徑平面的不同離軸位置 ...

磁疇的觀測方法貝特粉末圖紋法貝特粉末圖紋法是先應用的磁疇觀測方法， 同時它也是一種磁疇觀測方法。它將足夠細的鐵磁粉末的懸浮膠液涂在磁性材料表面，鐵磁粉末在由磁疇結構產生的局部散磁場的作用下分布成一定圖案， 該些圖案會反映材料表面的磁疇結構，且送樣的圖案可通過普通的光學顯微鏡直接進行觀察，同時也可對材料施加磁場觀察磁場作用下的磁疇結構變化。貝特粉末圖紋法的分辨率受鐵磁粉末顆粒度等因素的限制，因此有分辨率較低的缺點，但由于這種方法設備簡單且適用范圍大，因此是一種被長期應用的磁疇觀測方法。電子顯微鏡法電子顯微鏡法主要是通過分析電子束在磁性材料表面反射或透過磁性材料時受磁性材料中磁疇產生的局部散磁場的 ...

進行表征，是磁光效應成像的唯yi選擇。同時，由于極向克爾效應的成像效果好，垂直磁各向異性較強的樣品具有 更廣闊的應用潛力。基于克爾效應，可以動態觀察磁性樣品磁疇變化的儀器叫作克爾顯微鏡 (Kerr microscope) ，有別于SMOKE 裝置通常使用激光作為光源，出于便于成像的考慮，克爾顯微鏡一般使用高亮度的LED光源，同時配備不同放大倍數的光學顯微鏡鏡頭，在使用白光光源的情況下適用于1-100μm尺度范圍的磁疇的成像。主要是利用偏轉后反射光光強的變化來反映不同朝向的磁矩在空間上的分布。從不同的磁疇表面反射回來的光，由于不同磁疇中磁矩排布方向的不同以及磁疇的磁化強度的相對強弱不同，從樣品表 ...