中，有效熒光發光面積的減小是通過受激發射效應來實現的。一個典型的STED顯微系統中需要兩束照明光，其中一束為激發光，另外一束為損耗光。當激發光的照射使得其衍射斑范圍內的熒光分子被激發，其中的 電子躍遷到激發態后，損耗光使得部分處于激發光斑外圍的電子以受激發射的方式回到基態，其余位于激發光斑中心的被激發電子則不受損耗光的影響，繼續以自發熒光的方式回到基態。由于在受激發射過程中所發出的熒光和自發熒光的波長及傳播方向均不同，因此真正被探測器所接受到的光子均是由位于激發光斑中心部分的熒光樣品通過自發熒光方式產生的。由此，有效熒光的發光面積得以減小，從而提高了系統的分辨率。STED顯微術能實現超分辨的另 ...

了樣品的有效發光面積，從而突破了衍射極限的限制。熒光分子需要在激發態進行自發輻射發出熒光，因此激發態是亮態，STED中采用熒光分子的基態作為暗態。強制使得熒光分子處于暗態的機制采用受激輻射。當激發光光斑內的熒光分子吸收了激發光處于激發態后，用另一束STED光束照射樣品，使損耗光斑范圍內的分子以受激輻射的方式回到基態，從而失去發射熒光的能力。即熒光萃滅。這個過程就叫做受激發射損耗。只有損耗光強為零或較低的區域內的熒光分子能夠以自發輻射的形式回到激態發出熒光，這樣就實現了有效發光面積的減小。為了實現上述目的，損耗光聚焦后的光斑需要滿足邊緣光強較大，而中心趨于零的條件，一般采用的是環形的空心光斑，如 ...

度;　　L-發光面上的亮度;　　τ-光學系統的透射比（透過率）;　　f-透鏡焦距;　　l-透鏡與發光面的距離（稱為測量距離）;　　fm系統相對孔徑數，fm=f/D，其中D為孔徑直徑。　　當系統的設計能使f/l可以忽略不計時（在某誤差范圍內）(1-f/l)2近似等于公式（1）可以化為：公式（2）公式（2）為設計成像式亮度計的基本公式。色度測試原理：光源的色度用色品坐標x，y表示，與光源的相對光譜功率分布有關；如果一個光源的相對功率分布函數用P（λ）來表示，（λ）、（λ）、（λ）代表CIE1931標準光譜三刺激值，如下圖所示，則此光源的三刺激值可用如下公式來表示：濾光片式彩色亮度計的色度測量功能的 ...

激光二極管的發光面積大約比LED小4個數量級（0.0001mm2對比1mm2），使其能夠在更小的發散角內提供類似的功率輸出。激光腔的橫向寬度（發射區寬度，見圖4）決定了激光是單模（寬度<10μm）還是多模（寬度>50μm）。就應用而言，單模和多模半導體激光器在輸出功率和角度發散之間代表著一種權衡。圖4. 法布里-珀羅（FP）半導體激光器示意圖。整機尺寸一般為1000μm×500μm×200μm（長×寬×高）。對于單模激光器，發射區寬度小于10 μ m，對于高度為1 μ m的多模激光器，發射區寬度小于50 μm。除了高輻射強度和小光學擴展量（見表1）之外，激光源的光輸出是相干的，而L ...