雙光子衍射光學(xué)元件成像摘要:雙光子成像已經(jīng)成為神經(jīng)電路光學(xué)監(jiān)測(cè)的一種有用的工具,但它需要較高的激光功率和對(duì)樣本中每個(gè)像素的串行掃描。這導(dǎo)致成像速率慢,限制了對(duì)神經(jīng)元活動(dòng)等快速信號(hào)的測(cè)量。為了提高雙光子成像的速度和信噪比,我們對(duì)雙光子顯微鏡進(jìn)行了簡(jiǎn)單的改進(jìn),使用了一個(gè)衍射光學(xué)元件(DOE),它將激光束分成幾個(gè)小束,可以同時(shí)掃描樣品。我們通過(guò)增強(qiáng)新皮層大腦切片神經(jīng)元?jiǎng)幼麟娢浑p光子鈣成像的速度和靈敏度,證明了DOE掃描的優(yōu)勢(shì)。DOE掃描可以很容易地提高雙光子和其他非線性顯微技術(shù)對(duì)時(shí)變信號(hào)的檢測(cè)。我們將一個(gè)DOE放置在與物鏡和檢鏡后孔徑共軛的平面上(圖1A)。這個(gè)元件在光程中被望遠(yuǎn)鏡跟隨,這是確保從D ...
點(diǎn)衍射干涉儀的精度檢驗(yàn)方法點(diǎn)衍射干涉儀(Point Diffraction Interferometer,PDI)是一種基于衍射干涉原理的光學(xué)測(cè)量設(shè)備。它利用激光束小孔后產(chǎn)生接近理想的點(diǎn)光源對(duì)物體表面進(jìn)行測(cè)量,可以實(shí)現(xiàn)對(duì)物體形狀、表面粗糙度、折射率等參數(shù)的高精度測(cè)量。點(diǎn)衍射干涉儀不需要標(biāo)準(zhǔn)參考件,可以用于高精度面型的檢測(cè),是一種非常重要的高精度測(cè)量?jī)x器。1.1測(cè)試光路測(cè)試系統(tǒng)主要由D7點(diǎn)衍射干涉儀主機(jī),準(zhǔn)直器,5mm口徑鋁鏡,光學(xué)平臺(tái)等構(gòu)成。1.2 測(cè)試環(huán)境溫度:21℃±1℃;濕度:30%-70%1.3 絕對(duì)精度檢測(cè)(Accuracy)絕對(duì)精度的檢測(cè)采用波前均方根差(wavefront RMS ...
復(fù)雜性。一對(duì)衍射光柵或高折射率材料(如SF57玻璃棒)需要被添加到光束路徑中,而且光譜范圍是有限的。關(guān)于光譜聚焦方法的詳細(xì)解釋可以在近期的一份出版物中找到。簡(jiǎn)而言之,如果一次只對(duì)單個(gè)拉曼位移感興趣,皮秒激光器的設(shè)置要簡(jiǎn)單得多。飛秒激光器是快速獲取高光譜圖像的不錯(cuò)選擇,其代價(jià)是系統(tǒng)的復(fù)雜性。Moku:Lab LIA可以與皮秒和飛秒激光器配對(duì)。在本應(yīng)用說(shuō)明中介紹的使用案例中,飛秒激光器(Spectra-physics Mai Tai)與SF57玻璃棒一起用于光譜聚焦。調(diào)制、延遲階段和掃描頭泵和斯托克斯光束通常由聲光調(diào)制器(AOM)或電光調(diào)制器(EOM)進(jìn)行調(diào)制。調(diào)制頻率通常在MHz范圍內(nèi)。這有助于 ...
p/mm)。衍射極限的相干光學(xué)系統(tǒng)的截止頻率為上式中,為頻譜面的半徑(mm),為傅里葉變換透鏡的焦距(mm),是光波波長(zhǎng)(mm)。所以相當(dāng)于幾何光學(xué)中物高,相當(dāng)于幾何光學(xué)中的孔徑角,即信息容量W實(shí)質(zhì)上等價(jià)于幾何光學(xué)中的拉氏不變量。對(duì)于信息系統(tǒng)J表示能傳遞的信息量大小,對(duì)于成像系統(tǒng)J表示傳遞能量的大小。從而從光學(xué)設(shè)計(jì)的角度看,J表征了光組本身的設(shè)計(jì)、制造的難度。圖2傅里葉變換透鏡要求對(duì)兩對(duì)物像共軛位置校正像差。當(dāng)平行光照射輸入面上的物體,如光柵時(shí)、發(fā)生衍射。不同方向的衍射光束經(jīng)傅里葉變換透鏡后,在頻譜面上形成夫瑯和費(fèi)術(shù)射圖樣。為使圖樣清晰,各級(jí)衍射光束必須具有準(zhǔn)確的光程。所以,傅里葉變換透鏡必須 ...
角。經(jīng)過(guò)光柵衍射后,不同波長(zhǎng)有各自的衍射角,其中衍射角與反射角相同的波長(zhǎng)是光柵的閃耀波長(zhǎng),即為,它比其它波長(zhǎng)有更大的閃耀效率。①自準(zhǔn)條件下的閃耀波長(zhǎng)入射光以工作面法線方向投射,波長(zhǎng)沿法線方向衍射返回,衍射角與入射角相等,所以光柵所標(biāo)示的閃耀波長(zhǎng)是它的以及光譜的閃耀波長(zhǎng),所以上式標(biāo)示閃耀波長(zhǎng)、閃耀角、刻線密度(光柵常數(shù)d的倒數(shù))之間的關(guān)系。該光柵用于不同譜級(jí)時(shí),閃耀波長(zhǎng)為②非自準(zhǔn)條件下實(shí)際使用的閃耀波長(zhǎng)在實(shí)際閃耀方向,有α - θ = θ - β或θ - α = β - θ,所以在①級(jí)光譜上式表明,在實(shí)際非自準(zhǔn)條件下工作的情況下,無(wú)論,值恒小于1,即實(shí)際閃耀波長(zhǎng)略小于光柵的閃耀波長(zhǎng)標(biāo)示值。由于實(shí) ...
斜。由x射線衍射測(cè)量建立的傾斜角度很小,從表1可以明顯看出。表1石英和藍(lán)寶石樣品軸傾斜和雙折射通常入射到板上的光所經(jīng)歷的雙折射為其中(ne-n0)為本征雙折射,θ為傾斜角。表1顯示了石英和藍(lán)寶石每個(gè)傾斜角度的凈雙折射。在λ = 632.8 nm處,石英的本征雙折射值為0.0091,藍(lán)寶石為-0.0081。用穆勒矩陣激光旋光計(jì)測(cè)量了平板,用Hinds Exicor系統(tǒng)測(cè)量了平板。Exicor系統(tǒng)設(shè)計(jì)用于測(cè)量較小的雙折射(0.005 nm)。激光旋光計(jì)是為進(jìn)行穆勒矩陣測(cè)量而設(shè)計(jì)的。測(cè)量這些傾斜軸板的目的有四個(gè)方面:1)確定是否從測(cè)量中發(fā)現(xiàn)標(biāo)稱傾斜角度,2)確定樣品是否為有用的低雙折射標(biāo)準(zhǔn),3)比較 ...
初始工具箱,衍射光學(xué)工具箱,光柵工具箱,激光諧振器工具箱,光導(dǎo)工具箱。和照明工具箱。光導(dǎo)工具箱和衍射光學(xué)工具箱有兩個(gè)級(jí)別,即銀色和金色。還有一個(gè)非序列模式,即模擬不按照光學(xué)設(shè)置中定義的元件和界面的順序進(jìn)行(15節(jié))。取而代之的是研究光的實(shí)際走向。這使得你可以檢查多重反射、反向散射、干涉儀和鬼影。這個(gè)擴(kuò)展對(duì)導(dǎo)光板工具箱來(lái)說(shuō)是必須的,對(duì)啟動(dòng)器工具箱來(lái)說(shuō)是可選的。你可以在光學(xué)設(shè)置的模擬設(shè)置中打開(kāi)非連續(xù)追蹤(15.5.8.3節(jié)),然后配置使用的傳播通道(15.9節(jié))。如果你沒(méi)有機(jī)會(huì)使用64位操作系統(tǒng),你可以使用VirtualLab(32位)。然而,這個(gè)版本 在使用計(jì)算機(jī)的RAM和交換空間方面受到限制。 ...
有特定結(jié)構(gòu)的衍射光場(chǎng)。照射經(jīng)過(guò)L2、L3和MO1后在樣品上產(chǎn)生結(jié)構(gòu)化的條紋圖案。攜帶樣品信息的無(wú)關(guān)經(jīng)過(guò)望遠(yuǎn)系統(tǒng)(MO2-L5)到達(dá)CCD1;原始激光被分束經(jīng)過(guò)L6,被BS分光后斜入射CCD1,作為參考光。物光和參考光干涉,在CCD1形成離軸干涉圖案。這樣的干涉圖案就包含了樣品的相位和振幅信息。上圖為平行光(左)和結(jié)構(gòu)光照明(右)數(shù)字全息顯微對(duì)二氧化硅的振幅圖像成像結(jié)果。對(duì)比結(jié)構(gòu)光和平行光照射,可看出條紋結(jié)構(gòu)光照明可以提高數(shù)字全息顯微的空間分辨率。更多詳情請(qǐng)聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián)系昊量光電關(guān)于昊量光電:上海昊量光電設(shè)備有限公司是光電產(chǎn)品專業(yè)代理商,產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學(xué)測(cè)量設(shè)備、 ...
明波長(zhǎng)影響,衍射極限光斑約等于0.3λ。圖1.硅與銦鎵砷基底CCD探測(cè)器靈敏度曲線由于上述原因,拉曼應(yīng)用選用的激光波長(zhǎng)范圍通常在近紅外及其以下。拉曼信號(hào)強(qiáng)度、探測(cè)靈敏度和光譜分辨率都與波長(zhǎng)有關(guān)。雖然看似短波長(zhǎng)比長(zhǎng)波長(zhǎng)更適合用于拉曼光譜應(yīng)用,但不能忽略短波長(zhǎng)的劣勢(shì),那就是熒光效應(yīng)。物體受到光照射可能會(huì)吸收光子能量,從而放射出能級(jí)小于入射光波長(zhǎng)的光,UV-VIS波段這種情況較為明顯。因此,對(duì)于許多材料而言,受到UV-VIS范圍內(nèi)的照射,容易產(chǎn)生熒光,而大量的熒光背景,則可能掩蓋住本來(lái)希望采集的拉曼信號(hào)。如果來(lái)到深紫外光范圍內(nèi),則能夠有效避免熒光影響,因?yàn)楦痰腢V光激發(fā)出的熒光通常在300nm以上 ...
0g /mm衍射光柵和tec冷卻CCD探測(cè)器(Horiba Syncerity)。測(cè)量參數(shù)包括激光強(qiáng)度、入口狹縫寬度和積分時(shí)間在同一樣本集的單個(gè)測(cè)量之間保持不變。測(cè)量光譜中的個(gè)別拉曼峰適合于洛倫茲輪廓,以獲得信號(hào)強(qiáng)度的值。三維(3D)微臺(tái)用于在x和y方向上定位樣品,并在z方向上調(diào)整樣品,使激光聚焦到樣品表面上。通過(guò)顯微鏡觀察激光光斑,激光聚焦到樣品上。圖1便是上述設(shè)備使用情況下測(cè)得的不同薄膜厚度的拉曼光譜變化趨勢(shì)。了解更多關(guān)于拉曼系列詳情,請(qǐng)?jiān)L問(wèn)上海昊量光電的官方網(wǎng)頁(yè):http://www.arouy.cn/three-level-59.html更多詳情請(qǐng)聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián) ...
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