，如圖為光強衰減系數為0.04的三階相關和二階相關的測量曲線：從圖中可以看出二階自相關測量的結果是對稱的，不能區分出脈沖的對稱性，而三階自相關得到了非對稱的相關曲線，可以清楚地判別出脈沖的非對稱性。您可以通過我們的官方網站了解更多的產品信息，或直接來電咨詢4006-888-532。 ...

厚度；μ—－衰減系數（㎝）。射線無損測試缺陷自動檢測系統的硬件組成與結構如圖1所示。系統主要由三個部分組成：信號轉換部分、圖像處理部分及缺陷位置的獲取與傳輸部分。圖2 探測器外觀圖圖3 檢測系統示意圖信號轉換部分主要由X光光源、檢測樣品、傳送車、線陣相機組成，信號轉換部分的主要功能是完成從x射線到可見光的信息載體轉換以及可見光到可視圖像的光電轉換。樣品首先被放置到傳送車上，傳送車在承載樣品前進的同時，傳送帶的旋轉滾輪帶動樣品前進，通過X射線檢測區域時，線陣相機捕捉到穿透能量的變化，從而產生相應增益信息，通過模數轉換，數字采集卡傳輸到電腦成像，成像如下圖4. 可以清晰的看到內部的缺陷信息，作為產 ...

會有其相應的衰減系數Vin/Vout，這個衰減系數是和濾波器本身的波形（函數）直接相關的。因為在雙頻鎖相中，我們選取的f2基本近似于fcut?off。所以我們可以設出一個表征其濾波器的特性的參數α≡2πf2τ1，則Vin/Vout就是α的函數，因此經過第二個鎖相放大過程，其信號將衰減F(α)/√α。對于雙頻鎖相放大的輸出信號其表達式有信噪比表達式有據此，我們可以分析，1.當f2越大時，拾取噪聲被衰減的越大，但其z大不能超過第1級鎖相的截止頻率。2.當τ2越大（即濾波帶寬越窄），拾取噪聲被衰減的越大。所以在不影響需要的時間響應（響應速度）的前提下，τ2可以選擇的盡量大。3.而τ1選擇則應該盡量小 ...

μ：薄膜層的衰減系數p：薄膜層的密度X：薄膜層的厚度1.1 X射線熒光光譜技術基礎X射線熒光光譜技術的工作原理基于X射線與物質的相互作用。當X射線光子撞擊樣品中的原子時，其能量足以將內層電子從原子中擊出，留下一個空穴。外層電子會躍遷到這個空穴中，同時釋放出能量，這些能量以X射線的形式發射出來，即X射線熒光。不同元素的原子結構不同，因此它們發射的X射線熒光具有特定的能量或波長，這被稱為特征X射線。1.2 涂層厚度測量的原理在涂層厚度測量中，XRF技術利用特征X射線的強度與涂層厚度的關系進行計算。當X射線穿透涂層并激發基底材料時，基底材料會發射出特征X射線熒光。這些熒光X射線的強度與涂層的厚度成反 ...