線的夾角稱為入射角。振動方向在入射面內(nèi)的叫的p偏振光，垂直于人射面的叫s偏振光。（2）偏振態(tài)偏振態(tài)有線偏振、圓偏振和橢圓偏振。上面提到，光波可以分解為xy軸電場振動矢量。然而，當光通過某一樣品時，其偏振態(tài)會改變，因為Ex和Ey分量會產(chǎn)生一個位相差，如下圖所示，1.2 光束通過樣品前后的位相變化圖中的相位延遲角δ即為位相差，位相差不同時，偏振態(tài)不同。我們將所有的情況都考慮，可以得到下面這個公式：當位相差為0°或180°時可以獲得線偏振光。當δ=90°,并且Ax=Ay時，表示圓偏振光。當位相差是上述以外的其他情況，偏振態(tài)的矢量方向是橢圓，這種偏振稱為橢圓偏振。(3)雙折射雙折射有兩個折射率，即在不 ...

1b所示的窄入射角傳播照射，從而導(dǎo)致磁光靈敏度的良好定義條件。實際上，通過將光纖輸出定位在孔徑平面的不同離軸位置來實現(xiàn)所需靈敏度模式的設(shè)置。應(yīng)該注意的是，對于高數(shù)值孔徑和高放大倍率物鏡，會發(fā)生去偏振效應(yīng)，導(dǎo)致背景強度增加。這略微降低了信噪比，并對zui佳分析儀設(shè)置產(chǎn)生影響，以實現(xiàn)zui佳磁光對比度。此外，所產(chǎn)生的磁光圖像的對比度在很大程度上取決于物鏡的光學(xué)傳輸特性，這決定了有效的總體可達強度，因此與相機系統(tǒng)的量子效率一樣重要。光的散射特性和物鏡的偏振質(zhì)量會影響整體對比度，特別是磁光成像中的信噪比。在高磁場的作用下，物鏡會產(chǎn)生不需要的法拉第旋轉(zhuǎn)，不僅會導(dǎo)致額外的強度變化，還會導(dǎo)致信噪比的降低。通 ...

雙遠心全景克爾顯微鏡的優(yōu)勢這一限制可以通過使用完全分離、對稱排列的照明和反射路徑的傾斜顯微鏡裝置來克服。通過這樣的排列，可以獲得接近zui優(yōu)Kerr振幅的顯著縱向域?qū)Ρ榷取＿@種系統(tǒng)的另一個優(yōu)點是光學(xué)偏振光元件可以布置在透鏡和磁性樣品之間。這消除了在透鏡表面發(fā)生的去極化效應(yīng)，以及上述的法拉第效應(yīng)與磁場的應(yīng)用。使用變焦鏡頭，可以實現(xiàn)可變視野。圖1.(a)雙遠心全景克爾顯微鏡的光路(b)飽和后磁場變化的磁電傳感器元件沿傳感器長軸形成的磁疇。磁性樣品的平行照明是由一個準直的大功率LED光源實現(xiàn)的。（a）指出了可旋轉(zhuǎn)偏振器、補償器和分析器的位置。光圈光圈位于前光學(xué)透鏡組的焦平面上。共軛像面相對于光軸是傾 ...

70° 的入射角度下進行 S 偏振的合并，組合后的端口每個單獨的光梳初始強度約為 40%，同時避免在檢測路徑中出現(xiàn)任何諧振腔效應(yīng)或脈沖重復(fù)。來自組合端口的光被衰減并進行光纖耦合，然后在快速光電二極管（Thorlabs，DET08CFC）上檢測兩個光梳的拍頻信號，該光電二極管處于其線性響應(yīng)區(qū)域。為了以組合線分辨率提取氣體靶的光譜信息，我們采用[44]的方法：將干涉圖周期進行相位校正，通過用組合因子Δfrep/frep縮放時間軸并相加將其轉(zhuǎn)移到光學(xué)域。將這個相干平均信號的傅里葉變換與頻移相結(jié)合，可以在光學(xué)頻率域內(nèi)獲得組合線分辨率的光譜信息。雙梳激光器的重復(fù)頻率frep確定了單個光學(xué)組合線之間的間 ...

K，受溫度、入射角和入射光束偏振態(tài)的影響。入射角變化1°，NPBS的和變化約5°，和K變化約5％，且變化規(guī)律不同步；而溫度引起的相移變化率約為0．12（°）/℃假設(shè)×K和+分別變化1%和1°，式(19)給出的橢偏參數(shù)誤差約為：此時引入的膜厚測量誤差約為1nm。NPBS2引入的誤差分析根據(jù)式(17)，用圖3描述了NPBS2的方位角對橢偏參數(shù)測量誤差的影響。（a）幅值比誤差(b)相位差誤差圖3 NPBS2方位角對橢偏參數(shù)誤差的影響由圖3可知，NPBS2的對準誤差對相位差測量影響較大。當θ=0.1°時，橢偏參數(shù)誤差約為：根據(jù)橢偏基本方程和薄膜參數(shù)，式(21)的橢偏參數(shù)誤差大約導(dǎo)致1～2nm的膜厚測量 ...

A0的光束以入射角θ0入射，經(jīng)過多次反射與投射，透射出相互平行的光束。設(shè)高反膜的反射率為，因此可得第1束透射光的振幅為，后續(xù)依次為由等傾干涉可得，相鄰的透射光束的光程差為：由此引起的相位差為：若第1束透射光的初相位為零，因此各光束的相位依次為透射光的振動可以用復(fù)數(shù)進行表示：我們計算其和振動，其中利用了等比求和公式：其中因此可得：求合振動強度時，針對分式項需要用到他與共軛復(fù)數(shù)的乘積：因此合振幅的平方為：其中 稱為艾里函數(shù)，稱為精細度，體現(xiàn)出干涉條紋的精細程度。當P為固定值時，A2與相關(guān)。當時為zui大，時為zui小。因此越大時，可P見度越顯著。圖4 不同精細度的艾里函數(shù)圖目前，激光干涉儀技術(shù)正處 ...

光在界面1的入射角，、如圖1-1所示，分別是在所測薄膜、基底中的折射角。在圖1-1的模型中，經(jīng)過多次反射折射后，由多光干涉的公式可得zui終反射系數(shù)為：其中，d是膜厚，λ是真空中光的波長，2δ是相鄰兩束反射光的相位差。振幅、相位是描述光波偏振狀態(tài)的兩個參數(shù)，在橢偏儀中用Ψ、△來表示。其取值范圍是：0≤Ψ≤π/2，0≤△<2π。總反射系數(shù)比值定義為ρ，ρ與(Ψ，△)、(Rp，Rs)關(guān)系式如下：其中，tgΨ為反射前后P、S光兩分量的振幅衰減比，△=δp?δs為P、S兩分量相位變化差。可以清楚地看到Ψ、△直接給出反射前和反射后光偏振狀態(tài)變化。在襯底、入射角、波長等確定已知的條件下，Ψ、△是膜厚 ...

非zui低點入射角觀察地面時，天線平面上的線極化只對應(yīng)于天線軸線上相同的線極化。在非zui低點角度，來自地面的發(fā)射必須進行偏振混合校正;該過程的詳細描述見[20]的附錄a。基于PoLRa的地球物理參數(shù)(如土壤濕度)檢索將在未來使用原位土壤濕度傳感器網(wǎng)絡(luò)進行驗證。4.討論概述了便攜式L波段輻射計(PoLRa)的設(shè)計和特性。給出了詳細的技術(shù)討論，以證明該輻射計的硬件功能符合預(yù)期，并提供了其噪聲溫度測量不確定度的估計。雖然使用與其他輻射計相似的架構(gòu)，但PoLRa的天線設(shè)計獨特，電子設(shè)備簡單，功耗低，成本效益高，無需主動溫度控制。由于采用了新穎的主動冷源(ACS)表征方法，這里介紹的輻射計不需要溫度穩(wěn) ...

的應(yīng)用(不同入射角的橢偏測量、可控氣氛、不同薄膜沉積)。腔室的橫截面如圖1-12(a)右所示。由于三對法蘭配備了熔融硅窗，所以可以進行66°、70°和90°入射角下的橢圓偏振測量。該腔體的設(shè)計可以安裝在WoollamM2000旋轉(zhuǎn)補償橢圓計d的臂上，無需對儀器進行任何修改，本儀器的設(shè)計原則上與任何水平安裝的橢偏儀兼容。圖1-12(b)是AlexandreZimmer等人設(shè)計的基于旋轉(zhuǎn)補償?shù)臋E偏儀的耦合流池，它直接安裝在測角儀上，可以實現(xiàn)實時采集橢偏數(shù)據(jù)和電化學(xué)數(shù)據(jù)。耦合流池，由聚醚醚酮(PEEK)制成，包括兩個石英窗口，允許橢圓光束垂直經(jīng)過并到達工作電極表面再反射垂直經(jīng)過出去，其中橢偏光束的入 ...

度是5°，即入射角度的變化是以5°為單位進行調(diào)節(jié)的，其調(diào)節(jié)范圍在0-90°。如圖2-1所示，為了保證垂直入射出射，樣品臺的高度可以進行調(diào)節(jié)，此外整個樣品臺面還可以在豎直方向上進行。當進行樣品測試時，第1步就是進出準直的調(diào)節(jié)，即使樣品測試面在水平，當入射光垂直入射時可以垂直反射。圖2-1橢偏儀實物圖2.2.2在位監(jiān)控1、Pb溶液體系在進行不同濃度溶液：5/10/15/20mMPb(CH3COO)2和1MCH3COONa混合溶液的實驗，Pb薄膜的沉積實驗用的是10mMPb(CH3COO)2和1MCH3COONa混合溶液。該混合溶液透明，但是由于CH3COO-的存在，溶液體系不穩(wěn)定性，每次實驗時都需 ...