中，自然界中可見(jiàn)光譜的顏色組成了最大的色域空間，該色域空間中包含了人眼所能見(jiàn)到的所有顏色。為了能夠直觀的表示色域這一概念，CIE國(guó)際照明協(xié)會(huì)制定了一個(gè)用于描述色域的方法：CIE-xy色品圖。色坐標(biāo)是CIE組織(國(guó)際照明協(xié)會(huì))的顏色量化標(biāo)準(zhǔn)，即，自然界當(dāng)中任何一種顏色，都可以歸結(jié)為色坐標(biāo)上的一個(gè)點(diǎn)(x,y)，色度問(wèn)題轉(zhuǎn)化成了數(shù)學(xué)問(wèn)題。上圖是CIE的色品圖，自然界中所有的顏色包含于馬蹄形的面積中的點(diǎn)，圖中有用三角形圍成的區(qū)域，就是色域。三角形的三個(gè)頂點(diǎn)是顯示設(shè)備原色（RGB）色坐標(biāo)，由這三基色可以配置出的顏色就包含在三角形內(nèi)的區(qū)域里面。顯然，因某種顯示設(shè)備的三基色色坐標(biāo)不同，三角形位置就不同，色域 ...

。產(chǎn)品特點(diǎn)：可見(jiàn)光譜測(cè)量（380nm~780nm）?亮度和色度測(cè)量二維亮度和色度校準(zhǔn)輸出二維均勻性檢測(cè)二維Mura檢測(cè)（Black，Cloud，blob，line）塊狀或區(qū)域?qū)Ρ却_定區(qū)域比較像素/線缺陷檢測(cè)用戶自定義測(cè)試流程腳本合格/不合格測(cè)量數(shù)據(jù)記錄（用戶自定義）無(wú)需校準(zhǔn)儀器（無(wú)需培訓(xùn)） ...

鈦礦膜的紫外可見(jiàn)光譜，從圖中可以看出，傳統(tǒng)的溶液混合法制備的鈣鈦礦薄膜在儲(chǔ)存40天后被分解，而基于單晶工程技術(shù)制備的鈣鈦礦薄膜顯示更好的環(huán)境穩(wěn)定性。這說(shuō)明基于混合陽(yáng)離子單晶工程的鈣鈦礦能夠阻止水分從外部環(huán)境進(jìn)入鈣鈦礦，因此有效地提高了在空氣中存在的穩(wěn)定性。上圖中曲線為單晶工程和溶液混合法制備的鈣鈦礦薄膜的穩(wěn)態(tài)光致發(fā)光光譜結(jié)果，顯然，基于單晶工程技術(shù)制備的鈣鈦礦薄膜的PL強(qiáng)度要高得多，這是因?yàn)殁}鈦礦薄膜內(nèi)陷阱和缺陷的減少而抑制了載流子的復(fù)合，說(shuō)明基于單晶工程技術(shù)制備的鈣鈦礦具有更好的性能。與傳統(tǒng)的基于溶液混合法制備的鈣鈦礦相比，它具有更高的質(zhì)量，更高的結(jié)晶度和更少的缺陷。為了進(jìn)一步探索影響鈣鈦礦 ...

圖2）。超過(guò)可見(jiàn)光譜范圍的高光譜相機(jī)，如FX17，覆蓋了900-1700nm的近紅外波段。這些相機(jī)提供了適合于更穩(wěn)定模型的拓展光譜數(shù)據(jù)（取決于應(yīng)用需求）。如圖2所示，F(xiàn)X17相機(jī)將是把杏仁和開(kāi)心果從其外殼和外來(lái)污染物中分揀出來(lái)的最佳工具（優(yōu)于RGB模型）。值得注意的是，其他應(yīng)用可能需要在短波紅外（SWIR，1700-2500nm）、中波紅外（MWIR，2.7-5.3um）亦或是長(zhǎng)波紅外（LWIR，8-12um）光譜區(qū)域靈敏度的高光譜相機(jī)圖2:基于RGB相機(jī)、FX10和FX17數(shù)據(jù)的照片和模型預(yù)測(cè)。開(kāi)心果和堅(jiān)果是綠色的，殼是藍(lán)色的，木材是黃色的機(jī)器視覺(jué)系統(tǒng)通常結(jié)合了多個(gè)傳感器，它們是互補(bǔ)的。下表 ...

力工具。單一可見(jiàn)光譜成像數(shù)據(jù)集中捕獲的豐富信息可用于估計(jì)材料診斷反射曲線，創(chuàng)建高精度的顏色再現(xiàn)，并模擬在觀察和照明條件變化時(shí)的外觀變化[1]，[2]。光譜成像的這些特點(diǎn)使它比傳統(tǒng)的RGB成像更全面和通用，并使其在文化遺產(chǎn)工作中越來(lái)越受歡迎。基于LED的光譜成像尤其令人感興趣，尤其是隨著LED變得越來(lái)越普遍，它們?cè)陟`活性、效率和成本效益方面持續(xù)改進(jìn)，超過(guò)基于濾波器的方法[3]、[4]。盡管光譜成像具有公認(rèn)的優(yōu)點(diǎn)，但它仍主要被用作一次性技術(shù)研究的科學(xué)工具，使用復(fù)雜的儀器進(jìn)行，需要大量的計(jì)算數(shù)據(jù)處理[5]-[7]。因此，它還沒(méi)有在更常規(guī)的文化遺產(chǎn)數(shù)字化工作流程中找到一席之地。為了使光譜成像從實(shí)驗(yàn)室有 ...

子點(diǎn)的紫外-可見(jiàn)光譜（c）上述方法制備的MoS2量子點(diǎn)溶液分別在300nm,320nm,340nm和360nm激發(fā)光下的PL光譜上圖a 顯示了 1T 和 2H MoS2 的典型拉曼振動(dòng)，這表明通過(guò) n-BuLi 處理和激光燒蝕步驟成功實(shí)現(xiàn)了相變?？梢钥闯觯?T 相 MoS2 有三種拉曼振動(dòng)，分別對(duì)應(yīng)J1、J2 和 J3 模式。由于成功相變到2H相，這些具有代表性的1T MoS2 拉曼模式在 MoS2 QDs中沒(méi)有出現(xiàn)。因此，在 MoS2 QD 的拉曼光譜中只能觀察到 E12g 和 A1g 模式（標(biāo)記為紅色）。此外，這兩個(gè)峰移動(dòng)到 382 cm-1（紅移）和 402 cm-1（藍(lán)移）。E12g ...

微環(huán)諧振器的可見(jiàn)光譜氮化硅熱光相位調(diào)制器，具有器件占用空間小和低功耗，可用于AR/VR眼鏡、量子信息處理電路和光遺傳學(xué)等應(yīng)用.作者：Guozhen Liang，Heqing Huang...Nanfang Yu原文鏈接: https://www.nature.com/articles/s41566-021-00891-y7 論文標(biāo)題：超快計(jì)時(shí)實(shí)現(xiàn)無(wú)需重建的正電子發(fā)射成像簡(jiǎn)介：證明了無(wú)需層析重建的正電子發(fā)射成像。切倫科夫輻射探測(cè)器檢測(cè)由正電子-電子湮滅產(chǎn)生的伽馬射線，以4.8mm的精度確定正電子源的位置。作者：Sun Il Kwon ,Ryosuke Ota... Simon R. Cherry ...

需要大部分的可見(jiàn)光譜。對(duì)于正常色散，當(dāng)飛秒激光脈沖穿過(guò)顯微鏡的玻璃·M 的重要組成部分。為了證明色散的影響，我們考慮具有高斯時(shí)間分布的“前向移動(dòng)”超短脈沖，其持續(xù)時(shí)間為τ，為時(shí)間強(qiáng)度分布的半高全寬。時(shí)間分布寫為：其中，形狀因子： 對(duì)方程（3）進(jìn)行傅里葉變化，得到正頻譜： 方程 (5) 經(jīng)系統(tǒng)傳播，通過(guò)將其乘以譜相位（頻域中的電場(chǎng)相位）的指數(shù)，得到：方程（6）中相位可以由泰勒級(jí)數(shù)展開(kāi)，從而解出每一項(xiàng)的貢獻(xiàn)(原文公式如此)： 方程（8）中的一階項(xiàng) ?0為常數(shù)，不影響脈沖形狀，僅引入時(shí)間延遲。所有的高階項(xiàng)，?1，?2..., 取決于ω并且會(huì)影響脈沖傳播和形狀。?1稱為群延遲 (GD)。?2 ...

件是透明的，可見(jiàn)光譜范圍內(nèi)的透射率超過(guò) 90%。基板支架允許盡可能靠近高數(shù)值孔徑浸沒(méi)物鏡。2.VAHEAT 是否與正置顯微鏡兼容？答：是的！基板的尺寸為18×18mm2，有效尺寸接近16×18mm2的區(qū)域。顯微鏡適配器的厚度為 2.5 毫米。對(duì)于大型液體浸漬物鏡，我們可提供相應(yīng)的解決方案！3.我可以在真空室內(nèi)使用 VAHEAT 嗎？答：是的！VAHEAT與真空室兼容。但可能需要特定的電纜饋通裝置，但在真空室內(nèi)操作VAHEAT時(shí)不會(huì)放氣。我們可提供相應(yīng)需求的方案。四、光學(xué)性能1.對(duì)于 TIRF顯微鏡：在樣品中產(chǎn)生漸逝場(chǎng)的激光束的角度如何受到 VAHEAT 的影響？答：一點(diǎn)也不。VAHEAT不會(huì)改 ...

-即電磁波的可見(jiàn)光譜段 (參見(jiàn)圖1)。衍射光譜到達(dá)CCD探測(cè)器；PR-655探測(cè)器是128位的線性探測(cè)器，PR-670探測(cè)器是256位的線性探測(cè)器，PR-788探測(cè)器是512位的線性探測(cè)器；每個(gè)探測(cè)器單元均代表不同的顏色。測(cè)量時(shí)，輻射光通過(guò)自適應(yīng)靈敏度算法在某個(gè)特定的時(shí)間內(nèi)被取樣測(cè)量，自動(dòng)適配感應(yīng)器自動(dòng)會(huì)根據(jù)光信號(hào)的強(qiáng)弱確定合適曝光時(shí)間。光測(cè)量后，探測(cè)器用同樣積分時(shí)間再次測(cè)量探測(cè)器的暗電流，然后從每個(gè)探測(cè)器單元的光測(cè)量結(jié)果中減去暗電流的光信號(hào)貢獻(xiàn)值。圖2 簡(jiǎn)化方框圖圖3 PR系列亮度計(jì)光路圖儀器出廠時(shí)已通過(guò)相應(yīng)的校準(zhǔn)系數(shù)校準(zhǔn)光譜數(shù)據(jù)，校正系數(shù)包括波長(zhǎng)精確度修正、光譜分布修正和光度修正。波長(zhǎng)校準(zhǔn) ...