密度。對于大視場系統(tǒng),測量的空間均勻性是由柵邊位置分布或傾斜決定的。在大尺寸傳感器中,門信號的傾斜和高頻信號切換期間可能的電壓下降導(dǎo)致陣列的門邊緣非均勻性。隨著柵極長度的增加,上升邊緣傾斜明顯縮小(在表1的Z后一行旁邊)。這種效應(yīng)可以歸因于信號轉(zhuǎn)換期間電源電壓波動水平的差異。第①門信號躍遷(對應(yīng)于大門的下降沿窗口自門推進(jìn)對激光觸發(fā))導(dǎo)致門信號下降空間電源電壓不平衡樹,結(jié)果在第②斜門信號轉(zhuǎn)變,在這種情況下,上升的邊緣。隨著柵極長度的增加,在較長的過渡延遲期間,電壓降的較好的恢復(fù)降低了歪斜。由于柵門不均勻性的來源是確定的,它可以通過測量后的校準(zhǔn)校正,如下一節(jié)所述。閘門性能的另外兩個關(guān)鍵參數(shù)是上升和 ...
點(diǎn)或大孔徑小視場系統(tǒng)的軸外點(diǎn),只要根據(jù)軸上點(diǎn)光線的追跡結(jié)果,就能通過計(jì)算正弦差值來判知其 像質(zhì)。遠(yuǎn)離光軸的點(diǎn)會產(chǎn)生所有像差,因此需對軸外點(diǎn)進(jìn)行全部像差的計(jì)算。這種計(jì)算至少應(yīng)對邊緣視場和 0.707視場點(diǎn)進(jìn)行,每點(diǎn)的孔徑取值與軸上點(diǎn)相同。對于絕大多數(shù)能以二級像差表征高級像差的光學(xué)系統(tǒng),以上計(jì)算已足夠。對于那些不能忽略高級像差的系統(tǒng),計(jì)算的光線數(shù)應(yīng)該有所增加。 一般計(jì)算六個視場點(diǎn),取值為 Kw = -1,-0.85,-0.707,-0.5,-0.3和0。上世紀(jì)80 年代以前計(jì)算機(jī)軟、硬件條件還比較差,設(shè)計(jì)條件十分有限,編制軟件時(shí)也必須考忠到計(jì)算機(jī)內(nèi)存容量、計(jì)算時(shí)間等限制,一般除Kw =0的軸上點(diǎn)外 ...
,通過從相機(jī)視場中稀疏分布的發(fā)射點(diǎn)來估計(jì)單個分子的位置,從而克服了分辨率的衍射限制。可實(shí)現(xiàn)的分辨率受到定位精度和熒光標(biāo)簽密度的限制,在實(shí)踐中可能是幾十納米的數(shù)量級。有科研團(tuán)隊(duì)已經(jīng)將這種技術(shù)擴(kuò)展到三維定位。通過在光路中加入一個圓柱形透鏡或使用雙平面或多焦點(diǎn)成像,可以估算出分子的軸向位置。光斑的拉長(散光)或光斑大小的差異(雙平面成像)對軸向位置進(jìn)行編碼。將空間光調(diào)制器(SLM)與4F中繼系統(tǒng)結(jié)合到成像光路中,可以設(shè)計(jì)更廣泛的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)(PSF),為優(yōu)化顯微鏡的定位性能提供了可能。利用空間光調(diào)制器(SLM)對熒光顯微鏡進(jìn)行校準(zhǔn),可以建立一個遠(yuǎn)低于衍射極限的波前誤差,SIEMONS團(tuán)隊(duì)就利用Mead ...
、相對孔徑和視場都較大時(shí),初始解與Z后的結(jié)果之間,差別就會更大。這表明,從一個初始解到成為一個可實(shí)用的解,尚需進(jìn)行大量的像差校正和平衡工作。由于光學(xué)系統(tǒng)的種類很多,要求不一,其結(jié)構(gòu)型式又千差萬別而具各自的像差特征,因此我們必須了解校正光學(xué)系統(tǒng)像差的原則和常用方法。一、各光組以至各面的像差分布要合理。在考慮初始結(jié)構(gòu)時(shí),可將要校正的像差列成用P、W表示的方程組,這種方程組可能有多組精確解,也可能是病態(tài)的,或無解。若是前者,應(yīng)選一合理的;若是后者,應(yīng)取Z小二乘解。總之,有多種解方程組的算法可以利用,在計(jì)算機(jī)上實(shí)現(xiàn)并不困難。然后,應(yīng)盡量做到各個面上以較小的像差值相抵消,這樣就不致于會有很大的高ji像差 ...
透鏡是一個大視場、小相對孔徑的物鏡,并且應(yīng)是線性成像物鏡。透鏡后掃描就是掃描器位于透鏡后面,由激光器發(fā)出的光束首先被聚焦透鏡聚焦,然后經(jīng)置于焦點(diǎn)前的掃描器使焦點(diǎn)像呈圓弧運(yùn)動。這類聚焦透鏡通常是小視場、小相對孔徑的望遠(yuǎn)物鏡,前者物鏡設(shè)計(jì)困難,但其他問題的處理則很簡單。后者物鏡的設(shè)計(jì)是簡單的,但由于像面是圓弧形的,處理就很困難。因此,要求高的掃描裝置通常采用透鏡前掃描。線性成像物鏡介紹什么是線性掃描成像物鏡?首先,由于掃描元件的運(yùn)動被以時(shí)間為順序的電信號控制、為了使記錄的信息與原信息一致,像面上的光點(diǎn)應(yīng)與時(shí)間成一一對應(yīng)的關(guān)系,即理想像高與掃描角成線性關(guān)系,有但是,一般的光學(xué)系統(tǒng),其理想像高為使以等 ...
,獲得一維線視場的空間信息,并利用機(jī)械運(yùn)動完成沿軌方向掃描實(shí)現(xiàn)二維空間信息的獲取,同時(shí)線視場的光譜信息在面陣探測器的二維獲得。圖1推掃式高光譜成像原理線陣推掃的成像方式,在具有高速成像的同時(shí),同一時(shí)間獲得目標(biāo)區(qū)域的所有光譜信息數(shù)據(jù),保證每一個空間像素的光譜純度,為客戶提供真實(shí)準(zhǔn)確的高光譜數(shù)據(jù)。通過選擇感興趣波段,芬蘭SPECIM的FX系列高光譜相機(jī)還具有高速數(shù)據(jù)采集度。且涵蓋機(jī)載、實(shí)驗(yàn)室和地面端等方面,光譜范圍覆蓋紫外、可見光近紅外、短波紅外、中波紅外和熱紅外(UV、VNIR、SWIR、MWIR、LWIR)等波段。圖2FX系列高光譜,F(xiàn)X10(400-1000nm)/FX17(900-1700 ...
下F數(shù)為)大視場的遠(yuǎn)心光學(xué)系統(tǒng),要求具有一定的負(fù)畸變,在整個視場上有均勻的光強(qiáng)度和分辨率,不允許軸外漸暈存在,并要達(dá)到衍極限性能。玻璃材料的質(zhì)量與透鏡表面的均勻性要求比一般透鏡更為嚴(yán)格。相關(guān)文獻(xiàn):《幾何光學(xué) 像差 光學(xué)設(shè)計(jì)》(第三版)——李曉彤 岑兆豐更多詳情請聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián)系昊量光電關(guān)于昊量光電:上海昊量光電設(shè)備有限公司是光電產(chǎn)品專業(yè)代理商,產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學(xué)測量設(shè)備、光學(xué)元件等,涉及應(yīng)用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學(xué)研究、國防、量子光學(xué)、生物顯微、物聯(lián)傳感、激光制造等;可為客戶提供完整的設(shè)備安裝,培訓(xùn),硬件開發(fā),軟件開發(fā),系統(tǒng)集成等服務(wù)。您可以通過我們昊 ...
中孔徑光闌和視場光闌是任何光學(xué)系統(tǒng)都具有的兩種主要光闌。有些系統(tǒng)中還有漸暈光闌和消雜光光闌。孔徑光闌、入射光瞳和出射光瞳限制軸上成像光束立體角的光闌,稱為孔徑光闌(簡稱,孔闌)或有效光闌。孔徑光闌經(jīng)由前面的光組在物空間形成的像稱為入射光瞳,簡稱入瞳。完全決定進(jìn)入系統(tǒng)參與成像的最大光束孔徑,是物面上各點(diǎn)發(fā)出進(jìn)入系統(tǒng)成像光束的公共入口。孔徑光闌經(jīng)由后面的光組在像空間形成的像稱為出射光瞳,簡稱出瞳。是物面上各點(diǎn)發(fā)出的成像光束經(jīng)過光學(xué)系統(tǒng)后的公共出口。合理的選擇系統(tǒng)孔徑光闌的位置可以改善軸外點(diǎn)的成像質(zhì)量。同時(shí),當(dāng)光闌的位置改變時(shí),光闌的口徑也要隨之變化,以保證軸上點(diǎn)光速的孔徑角度不變。孔徑光闌的口徑的 ...
,通過光斑在視場內(nèi)的nm級位移來實(shí)現(xiàn)樣品的成像。這種方式可以方便的和磁場,低溫,CVD等其他設(shè)備結(jié)合在一起,實(shí)現(xiàn)“絕對”的原位測試,避免位移平臺本身重復(fù)精度累積帶來的成像扭曲和定位偏差。而全新推出的光子反聚束測量模塊,在原本拉曼光譜、熒光壽命、光電流成像的基礎(chǔ)上新增光子反聚束功能,在方便快捷的進(jìn)行零聲子線的測試的同時(shí),還可以完成光子反聚束的測量,極大的簡化色心的搜尋流程,迅速判斷制備工藝水平。該模塊有助于研究者用拉曼光譜和光致發(fā)光(PL)成像來表征樣品,快速確定目標(biāo)區(qū)域(可能有單光子源的區(qū)域),隨后在同一儀器來進(jìn)行反聚束實(shí)驗(yàn)。典型案例:對已經(jīng)進(jìn)行過氮離子注入處理過的納米級金剛顆粒進(jìn)行光譜分析, ...
陰極對不同的視場接受的光照比較均勻,所以成像物鏡應(yīng)盡量設(shè)計(jì)成像方遠(yuǎn)心光學(xué)系統(tǒng)。對于目鏡來說,熒光屏可以看成是自身發(fā)光的圖像,孔徑光闌只要與眼瞳匹配即可。被動式紅外系統(tǒng)本身不帶有紅外光源,而是直接探測目標(biāo)發(fā)出的紅外輻射。凡是絕對零度以上的物體都會發(fā)出紅外線,但由于不同的物體之間、物體的不同部位、以及物體與環(huán)境之間溫度不同,發(fā)射的紅外線的波長和強(qiáng)度也就各不相同。溫度較低的物體發(fā)出的紅外線主要分布于遠(yuǎn)紅外區(qū),而溫度較高的熱源如發(fā)動機(jī)等發(fā)出的紅外輻射波長在中紅外區(qū),輻射強(qiáng)度也相當(dāng)高。利用這些輻射特性的差別,并通過對紅外光進(jìn)行光電、電光轉(zhuǎn)換,可以得到人眼可視的圖像。因此,這種圖像反映的是目標(biāo)的輻射溫度分 ...
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