的激發光）和熒光壽命成像（485nm的激發光）來分別記錄拉曼光譜和時間分辨熒光衰減光譜。如下圖1為純物質在532nm激發光下的MoTe2,1% Fe-MoTe2，2% Fe-MoTe2和5% Fe-MoTe2拉曼光譜圖，從圖中可以看出對于理想的2H-MoTe2結構有三個拉曼活性模型，根據第一性原理計算和圖1中的插入圖可知，兩個明顯的峰（A1g和E12g）可被指認為兩個振動模式。相比較2%和5%的Fe-MoTe2，在170cm-1（A1g）和230cm-1（E12g）振動處可觀察到明顯的藍移現象，這表明低濃度的Fe離子摻雜會導致MoTe2晶格對稱性的選擇性的輕微破壞。圖1 在532nm激發光下的 ...

的激發光）和熒光壽命成像（485nm的激發光）來分別記錄拉曼光譜和時間分辨熒光衰減光譜。如下圖1為純物質在532nm激發光下的MoTe2,1% Fe-MoTe2，2% Fe-MoTe2和5% Fe-MoTe2拉曼光譜圖，從圖中可以看出對于理想的2H-MoTe2結構有三個拉曼活性模型，根據第一性原理計算和圖1中的插入圖可知，兩個明顯的峰（A1g和E12g）可被指認為兩個振動模式。相比較2%和5%的Fe-MoTe2，在170cm-1（A1g）和230cm-1（E12g）振動處可觀察到明顯的藍移現象，這表明低濃度的Fe離子摻雜會導致MoTe2晶格對稱性的選擇性的輕微破壞。圖1 在532nm激發光下的 ...

TCSPC技術在熒光壽命成像顯微鏡中的應用熒光壽命成像顯微鏡(FLIM)利用熒光的壽命特性，因其對分子環境和分子構象變化的高度敏感性而得到廣泛應用。FLIM已廣泛應用于研究細胞代謝的自熒光分子成像。自熒光分子的FLIM以非破壞性的方式提供了對細胞健康的獨特見解，經常用于研究活體動物。FLIM有利于探測熒光團的分子環境，以了解光強測量無法闡明的熒光團行為。圖1中概述了時域和頻域的FLIM測量，并在下面進行詳細描述。簡單地說，時域熒光壽命測量使用短脈沖光進行激發(相對于樣品的壽命較短)，然后直接(即通過門控檢測或脈沖采樣)或使用時間分辨電子技術記錄熒光分子的指數衰減如圖1(a)及1(b)。另外，頻 ...

LIFA熒光壽命成像在微流體中的運用——研究氧在濕滑氣液界面上的輸運微流體提供了一個理想的平臺，允許集成“可控”的表面和直接測量附近的傳輸現象。Elif Karatay在特文特大學攻讀博士學位期間使用微流體氣泡墊層，制作了其中一個微通道壁作為由交替固體壁和微氣泡組成的超疏水表面(圖1)。她通過熒光壽命成像顯微鏡實驗測量和數值估計了在短接觸時間內穩定氣液界面上氣體吸收的動態傳質。圖1 (a)微流控氣泡墊。(b)FLIM實驗中相同設置下水中溶解氧的數值模擬，顏色條表示氧的濃度。(c)由FLIM解析的壽命場疊加在亮場顯微鏡圖像上，顯示氣泡進入到水中，顏色條表示熒光壽命，以納秒為單位。通過頻域熒光壽命 ...

/TCSPC熒光壽命成像/電感耦合等離子體發射光譜模塊電化學等原位實驗定制化服務激發光光纖接口3.熒光壽命成像模塊測量范圍100ps-10us時間分辨率<50ps探測效率高達49%死時間<77ns激發光波長 266nm-1990nm脈寬6ns重復頻率31.15KHZ-80MHZ4.光電流成像模塊探針臺位移精度1um(X/Y),10um(Z)探針臺移動范圍 13mm(X/Y).20mm(Z)探針溢泄電流 10fA標準選配源表 Keithley 2400, 其他源表可做適配5.電感耦合等離子體發射光譜模塊6.激發光及信號光偏振控制模塊7.低波數拉曼模塊 ...

光電效應與光電檢測技術原理當光子能量（hν）超過材料逸出功閾值時，表面電子吸收光子能量后克服原子核束縛形成自由電子發射，這一量子化物理現象被稱為光電效應（Photoelectric Effect）。愛因斯坦于1905年通過光量子理論首次完整詮釋該效應機理，由此產生的定向電荷遷移形成的電流稱為光電流（Photocurrent），其強度與入射光強、材料功函數及能帶結構密切相關。Mapping是一種顯微成像技術，一般用于研究物質的微結構組成，早些時候應用Mapping的是顯微光譜成像，用于研究樣品微結構上的光譜，從而掌握樣品的結構組成與物質組分。將激光通過無限遠物鏡聚焦到樣品表面，由于激光經過物鏡聚 ...

可實現高效率熒光壽命成像。您可以通過我們的官方網站了解更多的產品信息，或直接來電咨詢4006-888-532。 ...

TDC及TCSPC的技術原理-TCSPC高精度時間相關單光子計數模塊TDC技術和TCSPC技術都是用來進行時間測量的技術手段，雖然應用范圍大致相同，但是原理卻不同。TDC原理如右圖所示。來自單光子探測器的光電子信號脈沖和來自激光器的參考脈沖輸入到延遲鏈中。時序邏輯查看延遲鏈中的數據，識別單光子和及激光脈沖的開始-停止對，并以此方式確定單光子在激光脈沖序列中的時間位置。然后，可以根據這些數據，建立通常的TCSPC/FLIM光子分布。TCSPC技術所基于的原理是：在記錄低強度、高重復頻率的脈沖信號時，由于光強很低，以至于在一個信號周期內探測到一個光子的概率遠遠小于1。因此，沒有必要考慮在一個信號周 ...

熒光的產生與熒光壽命檢測原理當處于基態的分子(圖1中的S0表示)吸收的光能量等于或大于較高能級的光(S1;S2;:::;Sn)，電子在短時間內被激發到更高的能級。電子將經歷振動弛豫到激發態的最低振動水平(記為S1)，這是一種稱為內轉換的非輻射過程。從S1電子態，分子通過輻射或非輻射過程回到基態。圖1表示了在這些能級中發生的不同發光現象。熒光是分子(熒光團)通過發射可檢測的光子(時間尺度為)衰減到基態的輻射過程。熒光發射發生在激發電子能級最低的位置(S1)。這種來自最低激發電子能級的強制發射確保了發射光譜保持不變，并且與激發波長無關。由于振動弛豫和內部轉換中的能量損失，發射的熒光光子的能量較低( ...

能、多功能的熒光壽命成像系統創造了條件。圖3FLIM系統示意圖上海昊量光電zui新推出了意大利FLIM LABS公司的熒光壽命成像FLIM入門套件系統，專門為追求單光子FLIM成像和熒光壽命光譜應用而設計，能為您帶來高性能、高性價比的FLIM解決方案。該套件包括熒光壽命成像FLIM數據采集卡TDC、光纖耦合皮秒脈沖激光器模塊、SPAD單光子探測器與熒光壽命成像FLIM軟件，并在您需要時提供恒比鑒相器模塊。圖4 FLIM LABS的熒光壽命成像FLIM入門套件FLIM數據采集卡TDC：我們的緊湊型USB 供電數據采集卡專為熒光壽命成像和光譜測量而設計。其基于FPGA的可定制技術，尺寸101x13 ...