(五)-相位延遲量測量的實驗數據實驗中,在前述測試系統上用上述幾種方法測量了兩片樣品的位相延遲。兩測試樣品標稱值分別為:630.2nm附近的λ/2波片和532.4nm附近的λ/4波片。光譜掃描曲線見圖1,測量數據見表1、2。圖1 光譜法測630.2nm附近λ/2波片的掃描曲線前面誤差分析表明,光譜法測量λ/2波片的誤差zui小,因而可以作為參考標準,其它方法測量結果可以與之相比較。由測量結果可見,光譜法與Soleil補償器法測得結果的偏差約為0.19%,兩種方法在誤差范圍內符合很好,得到了相互印證。而兩種光強法的測量結果比照光譜法及Soleil補償器法測量結果差異較大。而且按照之前推導的公式無 ...
測量波片相位延遲量的原理波片是基于晶體雙折射性質的偏振器件,在光線技術、光學測量以及各種偏振光技術等領域具有廣泛的應用,其中1/4波片及1/2波片在偏振器件中應用尤其廣泛。測量波片相位延遲量的方法主要有:光強探測法、旋光調制法、半陰法、光學補償法等。這些方法主要基于對光強的測量,容易受光源的不穩定及雜散光的干擾,精度受到一定的限制,測量誤差一般在0.5°左右。本文從理論上分析了利用橢偏儀測量波片相位延遲量的可能性,討論了其測量精度及誤差來源,并利用消光式橢偏儀測量了1/4波片以及1/2波片相位延遲量。實驗表明:測量過程不受光強波動的影響,方法簡單,操作方便,精確度高,測量波片相位延遲量精度達0 ...
測量波片相位延遲量實驗1消光式橢偏儀使用上海昊量光電設備有限公司的智能消光式橢偏儀,該橢偏儀主要由光源、光機系統、旋轉樣品臺、電路控制系統及數據采集與處理軟件組成。光源則采用的波長為632.8nm的氦氖激光器,適用于反射及透射樣品測量。使用儀器測量(,Δ)時精度分別是0.O1°和0.02°。2實驗過程調節橢偏儀處于直通測量狀態,使標準1/4波片的快軸位于+45°,起偏器P位于+45°,檢偏器A位于135°,這時系統達到了消光的狀態。把待測波片安裝在有刻度盤的旋轉支架上,然后置于樣品臺,調節波片使其表面與入射光線垂直,轉動待測波片,使得系統重新達到消光狀態,這時待測波片的快慢軸應位于±45°。接 ...
量波片寬波段延遲量變化[J].激光技術,2012,36(2):258-261.4趙振堂,林天夏,黃佐華,何振江.利用消光式橢偏儀精確測量波片相位延遲量[J].激光雜志,2012,33(3):8-9.5程一斌,侯俊峰,王東光.組合波片的橢圓率角測量方法[J].北京理工大學學報,2019,39(7):750-755.6于德洪,李國華,蘇美開,宋連科.任意波長云母波片位相延遲的測量[J].光電子.激光,1990,1(5):267-269.7徐文東,李錫善.波片相位延遲量精密測量新方法[J].光學學報,1994,14(10):1096-1101.8薛慶文,李國華.半陰法測量λ/4波片的相位延遲[J]. ...
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