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割和拋光，使晶體光軸從平板的法線向表面傾斜。由x射線衍射測量建立的傾斜角度很小，從表1可以明顯看出。表1石英和藍寶石樣品軸傾斜和雙折射通常入射到板上的光所經(jīng)歷的雙折射為其中（ne-n0）為本征雙折射，θ為傾斜角。表1顯示了石英和藍寶石每個傾斜角度的凈雙折射。在λ = 632.8 nm處，石英的本征雙折射值為0.0091，藍寶石為-0.0081。用穆勒矩陣激光旋光計測量了平板，用Hinds Exicor系統(tǒng)測量了平板。Exicor系統(tǒng)設(shè)計用于測量較小的雙折射(0.005 nm)。激光旋光計是為進行穆勒矩陣測量而設(shè)計的。測量這些傾斜軸板的目的有四個方面:1)確定是否從測量中發(fā)現(xiàn)標(biāo)稱傾斜角度，2)確 ...
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