ehnder干涉儀、Sagnac濾波器和光纖布拉格光柵相比，DMD具有高速調(diào)諧和不同波長之間靈活切換的優(yōu)勢。您可以通過我們的官方網(wǎng)站了解更多的產(chǎn)品信息，或直接來電咨詢4006-888-532。 ...

通過分光鏡或干涉儀進行合并，并通過光探測器測量合并后的光強。合成后的電場，類似于混頻過程，會產(chǎn)生一個與兩束激光頻率差相等的拍頻。雙速光合并后的功率可以描述為：PPD和EPD表述在光探測器段的功率與電場。E1與E2表述兩束激光各自的電場。其中，ω1與ω2表述兩束激光的頻率,Φ1與Φ2表述兩束激光的相位. 將等式(2)與等式(3)代如等式(1)，得到：其中，高頻項（higher order terms）通常遠超出光電探測器與測量儀器的帶寬。雖然拍頻信號本身包含了兩束激光相位差信息，然而這個信息本身難以直接用于閉環(huán)系統(tǒng)的反饋信號。通常，一個單獨的相位檢測器會被用來獲取相位差的信息，將拍頻的交流信號轉(zhuǎn) ...

膜厚測量儀及其在汽車前后燈中的應(yīng)用在汽車前/后燈制造過程中，有幾個點的涂層厚度是至關(guān)重要的，需要對其進行質(zhì)量控制，例如外硬質(zhì)涂層（耐刮層），內(nèi)部聚碳酸酯透鏡抗霧層，底座反射板上的硬涂層，保險杠蓋上的硬涂層等許多其他部件。每一種涂層都提出了一系列獨特的測量挑戰(zhàn)，例如聚碳酸酯和涂層材料之間較低的光學(xué)對比度、相互滲透/界面層、彩色零件（如紅色）、零件表面的反射紋理等等。美國Semiconsoft公司MProbe VisHC膜厚測量系統(tǒng)提供了堅固和易于使用的解決方案，允許直接測量產(chǎn)品上的涂層厚度。手動探頭MP-FLVis與一根柔性光纖電纜連接到系統(tǒng)上。符合樣品曲率的探頭可以很方便且很準確地進行測量。M ...

器和馬赫澤德干涉儀或者調(diào)制器相互組合，光束經(jīng)過干涉儀被分成兩路，其中一路中放置了撲克爾效應(yīng)。當(dāng)兩路光束再次匯聚后相互相長或者相消，以此達到光強調(diào)制的效果。電光吸收調(diào)制電光吸收的方法時建立于Fraz-Keldysh和Stark效應(yīng)，由于施加外部電場導(dǎo)致光的吸收，而且隨著外部電壓的改變，吸收率發(fā)生變化。吸收體對于入射光透明的，但是當(dāng)外部施加電壓，能帶間隙變小，當(dāng)光的能量超過能打間隙時吸收光子，衰減光的傳輸效率。當(dāng)外加電壓被調(diào)制后，材料的吸收率和輸出光強也會被調(diào)制。因為大部分能量被轉(zhuǎn)化為熱量，因此為了確保精確的調(diào)制，需要解決熱血的問題。EAM相對于EOM有更低的調(diào)制電壓，因此更容易集成到激光芯片中。 ...

切專利技術(shù)的干涉儀，一套自適應(yīng)控制軟件，以及對任何主動設(shè)備的控制。主動設(shè)備主要指代任意尺寸的變形鏡或者SLM，可以應(yīng)用于所有種類的顯微技術(shù)，例如寬視場、熒光或者非線性顯微鏡等等。用于顯微鏡的高效率激光在多光子、共聚焦甚至超分辨顯微鏡中，熒光效率主要取決于激發(fā)光的質(zhì)量。Phasics AO方案能夠優(yōu)化激發(fā)光場，讓所有光都聚焦在感興趣的區(qū)域。Phasics的傳感器分辨率相對比較高，測量的像差特征也更加完整，因此在自適應(yīng)光學(xué)中有更好的效果。改善光鑷和光活化SLM設(shè)備可以產(chǎn)生特定形狀的光斑，用于控制細胞和分子。為了能夠在產(chǎn)生最大的力量，光束應(yīng)該全部聚焦在目標(biāo)上。Phascis AO方案通過改善像差，能 ...

長計采用斐索干涉儀的方法檢測激光器的波長，典型的斐索激光波長計的關(guān)鍵部件是一個上下反射面之間有一定角度的楔形干涉腔，并隨著光程長度的變化，隨之產(chǎn)生空間變化的干涉條紋。由此產(chǎn)生的干涉圖樣的條紋間距和相位都與入射光的波長有關(guān)，因此分析它們的結(jié)構(gòu)可以精確地確定激光波長。圖1 斐索波長計原理示意圖波長的粗略估計可以直接從條紋間距得到，其絕對精度為百分之一。可以通過條紋圖樣的相位來進一步改進這一初步估計。在不犧牲絕對精度的前提下，采用不同自由光譜范圍(FSRs)的多個標(biāo)準具來細化波長的測量。MOGLabs FZW系列波長計使用了四個這樣的標(biāo)準具，使得zui終的FSR達到7.5 GHz，測定波長的絕對精度 ...

產(chǎn)品使用激光干涉儀進行校準，非線性誤差補償?shù)椭寥谐痰?0.02%。Orthogonality error : The angular off?set of two defined motion axes from being orthogonal to each other. It can be interpreted as a part of crosstalk.正交性誤差：兩個定義的運動軸相互正交的角度偏移。 它可以解釋為串?dāng)_的一部分。Position noise : The amplitude of the stage shaking when it is on a static co ...

微透鏡陣列焦距檢測方法1，千分尺測量法西安工業(yè)大學(xué)通過透鏡焦距和透鏡鏡面半徑的理論關(guān)系，利用顯微鏡測量微透鏡陣列子單元的直徑并用千分尺測量矢高，從而完成焦距的測量，圖 1-1所示。圖1-1 平凸透鏡焦距示意圖對于一般的平凸型微透鏡陣列，利用顯微鏡和千分尺分別測量子單元直徑 Ф和矢高 h，計算其焦距為： （1-1）早期的微透鏡陣列制造常采用熔融光刻膠法制作，形成的是平凸面形的透鏡，利用該方法能完成相應(yīng)的焦距測量。由于平凸透鏡焦距受凸面曲率半徑限制，使得該類型微透鏡陣列的應(yīng)用受到較大的局限。另外，該檢測方法采用千分表接觸是測量微透鏡陣列的矢高，易造成微透鏡表面的 ...

的馬赫-曾德干涉儀 (MZI) 網(wǎng)格(mesh)可以實現(xiàn)任意矩陣乘法而不會產(chǎn)生基本損耗(fundamental loss)，這些架構(gòu)也很容易配置和控制。具體來說，zui近的硅光子神經(jīng)形態(tài)電路已經(jīng)證明了使用相干光對矩陣向量乘法的奇異值矩陣分解實現(xiàn)。在這種情況下，在硅芯片上制造的MZI實現(xiàn)了逐元素乘法。這種設(shè)計代表了使用光的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)z關(guān)鍵構(gòu)建模塊之一的真正并行實現(xiàn)，現(xiàn)代代工廠(foundry)可以輕松地批量制造這種類型的光子系統(tǒng)。這種設(shè)計的挑戰(zhàn)之一是 MZI 的數(shù)量隨著向量中元素數(shù)量N以N2增長，這是實現(xiàn)任意矩陣的必要結(jié)果。隨著光子電路尺寸的增加，損耗、噪聲和缺陷也成為更大的問題。因此，構(gòu)建足夠準 ...

脈沖傳播通過干涉儀來實現(xiàn)的，其中一個臂具有可變長度，因此能夠提供可調(diào)節(jié)的時間延遲 (τ)。平衡自相關(guān)器每個臂的的材料和涂層都一樣，使每個脈沖經(jīng)歷相同量的色散。此外，可以執(zhí)行干涉自相關(guān)，以便使用物鏡的全孔徑（在物鏡的整個NA下進行測量），從而給出了成像條件下性能的準確表征。要將光束與有意義的脈沖寬度信息進行自相關(guān)，必須在物鏡焦點處放置一種材料，該材料能夠產(chǎn)生非線性、強度相關(guān)的信號。這種與強度相關(guān)的相互作用充當(dāng)超快門控功能，允許使用具有顯著低于光脈沖帶寬或頻率響應(yīng)的檢測器對脈沖進行時間相關(guān)測量。獲得自相關(guān)的一種典型且簡單的方法是測量含有熒光染料的樣品的TPEF。更容易的是使用 GaAsP 光電二極 ...