MS邁克爾遜干涉儀經(jīng)過三年的實驗和詳細分析，Block MEMS確定了微型邁克爾遜FTIR傳統(tǒng)結構中的重大成本挑戰(zhàn)，并得出結論，只有通過邁克爾遜核心的整體結構，而無需外部手工或校準，才能合理地實現(xiàn)具有成本效益的檢測設備。邁克爾遜干涉儀是一種復雜的機械裝置，對其元件之間的光學關系有嚴格的限制。目前，很少有方法能夠以可重復和可靠的方式實現(xiàn)所需的干涉公差，其中包括光刻。首先考慮的是光譜分辨率要求。在紅外和拉曼光譜方面的豐富經(jīng)驗以及有毒物質(zhì)的檢測算法使得在STP環(huán)境下對這些相對較重的分子進行實際的工程選擇。在邁克爾遜干涉儀中，隨著運動鏡的運動范圍增大，分辨率也隨之提高。考慮到所需的光譜分辨率為200p ...

D7點衍射激光干涉儀用于測量介觀顯微物鏡的檢測方案介觀物鏡，因其具有復雜的光學結構和出色的像差優(yōu)化，可以實現(xiàn)高NA和超大成像 FOV，顯著提高光學顯微鏡成像通量的特點而被人們熟知。介觀顯微物鏡可用于廣域成像系統(tǒng)、激光共焦掃描成像系統(tǒng)和雙光子成像等系統(tǒng)，具有重要的研究意義。本文介紹了一種用D7點衍射激光干涉儀測量介觀顯微物鏡的檢測方案，具體方案如下圖所示：1.光源部分1. D7系統(tǒng)的光源為連續(xù)波(CW)單模(SLM)激光器：具有不同波長的相干性，覆蓋了激光器的工作光譜范圍包括:480 nm, 532 nm, 633 nm, 830 nm, 1030 nm。2. 激光器是光纖耦合的，可以通過光纖插 ...

ehnder干涉儀中，形成調(diào)幅器。圖4：Mach-Zehnder振幅調(diào)制器施加電壓會導致分支之間的相對相位差，從而通過干擾導致器件輸出處的輸出功率的變化。因此，設備傳輸可以控制在min值和max值（P min到Pmax）之間。從打開狀態(tài)到關閉狀態(tài)切換需要π的相對相位差。所需的電壓稱為調(diào)幅器的半波電壓Vπ。由于推拉操作，調(diào)幅器的半波電壓是具有相等電極長度的相位調(diào)制器的半波電壓的一半。例如，在635 nm處可以預計紅色為1.5 V，在約1550 nm的通信波長范圍內(nèi)為5V。圖5：輸入/輸出指示燈圖6：振幅調(diào)制器特性曲線將射頻信號作為調(diào)制電壓應用于電極，該電壓輸入被轉換為振幅信息。這個振幅輸出取決于 ...

馬赫-曾德爾干涉儀耦合環(huán)結構(MZICR)分別如圖1(A) -1 (c)所示，是三種不同的器件結構，用于電光電場傳感器。所有的結構都是通過將器件蝕刻到與石英襯底結合的TFLN中來制造的，該襯底與集成光子芯片通過光纖耦合，該芯片具有光柵耦合器，可以將光纖中的光耦合到芯片上的亞微米鈮酸鋰光波導上。圖1所示。(a)馬赫-曾德電磁場傳感器原理圖，(b)微環(huán)諧振器傳感器，(c)馬赫-曾德干涉儀耦合微環(huán)諧振器原理圖。對于Mach-Zehnder器件結構，耦合光使用1×2多模干涉(MMI)耦合器裝置在Mach-Zehnder干涉儀的兩臂之間進行分割。Mach-Zehnder干涉儀的一個臂被極化以逆轉鈮酸鋰晶 ...

(MZI)干涉儀部分(圖1a)和一個輸入和兩個輸出光柵耦合器(圖1b)組成。在Mach-Zehnder干涉儀部分，使用1 × 2 MMI耦合器將光纖耦合光分成兩臂。一個MZI臂被極化以逆轉鈮酸鋰晶體的自發(fā)極化方向(圖1c)。因此，對于一個MZI臂，在給定的電場下折射率增加，而在相同的電場下，另一個臂的折射率會減少。因此，通過MZI的激光在一個臂中經(jīng)歷了+ φ的相移，在另一個臂中經(jīng)歷了?φ的相移。太赫茲波從自由空間耦合到MZI 電光傳感器，激光探針脈沖利用垂直于傳感器芯片表面的保偏光纖耦合到電光傳感器芯片。目前的器件由600nm鈮酸鋰在500um熔融二氧化硅襯底上制成，工作波長為1550nm。 ...

。采用由激光干涉儀頭(KEYENCE, LK-G32)和控制器(LKG3001)組成的單點激光測振儀對動鏡的運動進行了詳細的研究。該儀器允許在±5毫米范圍內(nèi)的位移測量，位置誤差小于50納米。圖7中的數(shù)據(jù)集表示一個鏡像周期內(nèi)的4000多個點。步長遵循正弦模式，在零位移點附近max，而在行程范圍的兩端接近零。圖7所示的一組單獨的測量表示瞬態(tài)時間響應分析(即。齒輪咔嗒聲之間的階躍響應。在接收到輸入信號(即齒輪咔嗒聲)后，步長上升時間為1毫秒，響應穩(wěn)定得很快，這表明這是一個近臨界阻尼系統(tǒng)。在沉淀區(qū)測得83 nm的峰間值。圖5在MEMS中，在鏡面驅(qū)動過程中保持對準精度是一個重大挑戰(zhàn)，因為如此大的位移通常 ...

（通常是光學干涉儀）所需的時間來測定到物體或表面的距離。雖然測量概念很簡單，但要同時精確且快速地完成測量極具挑戰(zhàn)，通常需要犧牲其中一項。近期，中科院西安光學精密機械研究所(XIOPM)和華中科技大學(HUST)的研究人員開發(fā)了一種新型精密測距方法，使用兩個光學頻率梳來達到測量精度和測量速度的平衡。在該項目中，Moku:Lab— 基于FPGA的可重構的精密測試測量儀器，為科研人員提供了一體化精簡的激光鎖頻解決方案，不僅顯著提高了測量質(zhì)量且加速了項目進展。相關研究成果以“Rapid and precise distance measurement with hybrid comb lasers”為 ...

傳輸。非等臂干涉儀是產(chǎn)生 Time-bin 量子比特的一種常用方法。Time-bin編碼的概念，利用單光子。光路用紅線標出。光學元件:BS -分束器，M -反射鏡，φ-長程總相位變化。取自Misiaszek-Schreyner, Marta. "Applications of single-photon technology." arxiv preprint arxiv:2205.10221(2022).實驗內(nèi)容在本文中，通過將4.09-GHz的鎖模激光器的光通過80ps的延遲干涉儀（12.5-GHz自由光譜范圍）導入到非線性晶體中，以實現(xiàn)高速糾纏源。低抖動差分超導納米線單 ...

航天器間激光干涉儀。GRACE Follow-On 干涉儀能夠測量航天器分離的亞微米變化。在建立鏈路之前，激光器必須通過掃描五維空間來找到彼此；每束激光的傾斜度和頻率差 [1]。LISA 引力波探測器可能需要類似的采集掃描，相干自由空間激光通信和光量子密鑰分發(fā)鏈路也可能需要類似的采集掃描，例如從地面到太空。本應用說明將介紹如何使用 Moku:Lab 任意波形發(fā)生器生成復雜的 2D 掃描模式。首先，我們將展示如何將 AWG 波形加載到 Moku:Lab 中，以便在 XY 模式下在示波器上進行可視化。接下來，我們添加快速轉向鏡和激光系統(tǒng)，以生成適合采集系統(tǒng)的任意掃描模式。Moku:Lab任意波形發(fā) ...

影響四波剪切干涉儀是由一個二維光柵和CCD組成，光束經(jīng)過二維光柵后，能量主要分布在四個一級光上。一級光相互干涉形成干涉條紋，經(jīng)過傅里葉變換，在傅里葉平面上，除了零級光外，大部分能量應該集中在一級光上。通過分析一級光，獲取相位梯度。這里主要觀察的是隨著光束的入射角度變換，是否會引起傅里葉平面上一級光的位置發(fā)生改變。為了方便起見，假設光柵是正弦形狀，其中a表示光柵周期入射光場描述為，當光束經(jīng)過光柵后，傳播一段距離d，傳播過程使用菲涅爾光束傳播的方程計算根據(jù)SID4的參數(shù)，將賦給其中一些變量參數(shù)，默認單位為um那么在正負25um的范圍內(nèi)可以看到光強圖如下所示，在這段距離內(nèi)，差不多顯示的就是光柵形狀。 ...