利用NV自旋的磁光成像技術磁成像技術通常以其空間和時間分辨率為特征，但靈敏度、場干擾、樣品損壞、視場、成本和易用性等標準對于廣泛的適用性至關重要，這推動了人們對先jin材料和應用中磁性理解的未來發展。電子和x射線顯微鏡可以提供低至幾納米的高空間分辨率，但耗時，需要昂貴的復雜儀器，仔細的樣品制備和高真空環境。磁力顯微鏡(MFM)通常用于表征磁性器件，但由于其侵入性磁尖，固有的速度很慢，不適合成像脆弱的磁化狀態。另一方面，磁光克爾效應顯微鏡(MOKE)是一種非侵入性光學技術，在進一步了解自旋霍爾效應和zui近在環境條件下形成的磁性斯基米子氣泡方面發揮了巨大作用。MOKE的主要限制是它適用于表現出強 ...

COMS-Magview磁場相機-讓看不見摸不著的磁場高分辨率可視化成為可能！COMS-Magview系列磁場相機是一種高分辨率、高精度的磁性材料、部件和表面測量和可視化系統，不僅可以使磁場和磁性結構可見，還可以測量磁通量密度。CMOS-MagView是一種用于磁場光學可視化的創新設備。高度工程化的磁光傳感器技術可以直接以高光學分辨率觀察磁性材料的磁雜散場。對測試樣品的磁光分析提供了關于場極性、場均勻性、磁性材料的分布和磁化特性的具體信息，讓看不見摸不著的磁場高分辨率可視化成為可能！一．測量原理磁光原理是基于法拉第效應。它描述了線偏振光在穿過透明介質時的平面旋轉。當光通過磁光介質時，偏振的不同 ...

COMS-Magview-磁光傳感器技術為磁材料測量領域提供了全新的視角！磁性材料在人工制造和研究中的應用已大大增加。磁性測量和測試應用的重要性將繼續上升，相應的技術趨勢，如新能源汽車、機器人、小型化和自動化技術，以及有前途的磁性材料(例如，聚合物粘結磁體和磁性形狀記憶合金)。與此同時，對用于靜態和動態磁測量應用的傳感器的需求不斷增長，已經將現有的傳感器技術推向了它們的一定程度。磁光傳感器技術為磁測量與測試領域提供了全新的視角。一、磁光傳感器磁性材料的可靠使用需要在制造、質量控制和研發過程中準確掌握磁場的分布、強度和方向信息。建立的磁場測量系統的原理是基于不同的物理效應。所有這些系統的一個共同 ...

er首先應用磁光成像技術來實現磁疇的可視化，這些都是基于Kerr效應。由于克爾顯微鏡的這些較早的應用，連續的系統發展大大增強了傳統克爾技術的能力。通過干涉層的應用實現了顯著的對比度增強，但克爾顯微鏡的突破是隨著20世紀80年代視頻顯微鏡和數字圖像處理的引入而來的。自20世紀50年代以來，法拉第顯微鏡也主要用于磁性柘榴石薄膜和正鐵氧體的透射實驗，由于法拉第效應比克爾效應強得多，因此不需要電子對比度增強?；赩oigt效應的透射顯微鏡也是如此，該效應用于觀察石榴石中的面內疇。后來在金屬的反射實驗中也發現了Voigt效應，以及在類似實驗條件下出現的磁光梯度效應。梯度效應是一種雙折射效應，它與磁化梯度 ...

其具有增強的磁光成像特性。傳感器層的制造過程是通過液相外延法實現的，這種方法非常適合在單晶石榴石襯底上應用微米級功能涂層。為了確保系統長期功能，還在原始傳感器上沉積了一個附加鏡面和保護層。對于不同領域的應用，可以定制各種形狀和尺寸的傳感器。三、磁場可視化為了實現磁場的光學可視化，將磁光傳感器直接與磁性樣品材料接觸，并用偏振光源進行照明。光線穿過透明傳感器，被鏡面反射并再次通過傳感器。當經過非互易MO介質的雙倍程時，所述法拉第效應與雙層厚度成比例。由于不同旋轉角度取決于局部磁場強度，分析極化模塊會生成一個強度對比圖案，該圖案與磁性材料的磁場分布成比例。結果是一幅視覺圖像，說明了磁漂移場的二維交點 ...

互作用已經在磁光成像中得到了很好的利用，這成為20世紀觀察磁性微觀結構的主要方法。在磁光學中，光的偏振面在反射(克爾效應)或透射(法拉第效應)時的小旋轉被用來映射磁化。磁光記錄是基于相同的效果。這種方法允許在測量過程中施加外部磁場而不影響探針，如果要研究磁化動力學，這是一個明顯的優勢。磁光技術的空間分辨率受衍射限制，但研究人員經常低估光學顯微鏡的能力:分辨率幾乎可以比波長小一個數量級。在比較不同的顯微技術時，應該記住，有用的空間分辨率是由信噪比以及光斑大小或相互作用長度決定的。定量的、“與平臺無關”的表征手段可以從作為空間頻率函數的信噪譜中獲得(例如，在具有相對平坦分布的特征作為空間頻率函數的 ...

中一種技術是磁光成像技術，它具有相對便宜、非侵入性、無污染和能夠處理大范圍磁性樣品的顯著優點。反射模式下的磁光成像利用了磁光克爾效應，而透射模式下的成像利用了法拉第效應。這兩種效應的基本原理是相似的。從磁性樣品表面反射或通過磁性樣品透射的光將與樣品內部的磁化相互作用。通過這種相互作用，光的偏振態會發生變化，入射和反射(透射)光束之間的差異可以用來研究樣品不同區域內的磁化強度。磁光克爾效應顯微鏡通過三種主要類型的磁光克爾效應，獲得了不同材料的較佳光學對比條件。根據入射光偏振、入射平面和樣品磁化之間的矢量關系，這些類型可分為極性、縱向和橫向克爾效應。圖2顯示了縱向情況下這些物理量之間的方向關系。圖 ...

同配置的近場磁光成像系統，包括孔徑透射、孔徑反射和無孔徑soms。在大多數這些系統中，通過將光纖探頭彎曲到音叉的一只臂上來實現探頭表面距離控制，這種技術效果很好，但需要為每次探測做充分的準備。此外，高質量(Q)因子將掃描速度限制在相對較低的值。這些缺點給近場磁光成像實驗帶來了困難。圖1實驗布置示意圖如圖1所示。采用國產SNOM工作在反射模式下。探針表面距離調節是通過使用一個壓電雙晶片傳感器來實現的，該傳感器由兩個薄的壓電陶瓷層組成，連接到一個與地面相連的公共中心電極上。其中一個用作抖動壓電的壓電層電連接到鎖相放大器的參考信號。在其上施加恒定的正弦波電壓，以驅動雙晶片平行于表面振動。另一層，當雙 ...

激光照明適合磁光成像。然而，基于激光的照明目前主要應用于寬視場時間分辨率成像設置。為了便于磁光對比度調整，基于激光的系統使用光纖照明。近年來，光纖耦合led已成為磁光學顯微鏡照明的標準。光譜輻照度類似或優于高壓弧光燈，因為幾瓦的準直輸出功率是可以實現與目前的LED照明。zui重要的是，led具有低噪音。它們還提供脈沖操作模式，可以輕松適應先jin組件選擇性準靜態(“效果分離”部分)和時間分辨顯微鏡(“磁化動力學定量成像”部分)的成像方案。與激光不同，基于led的照明沒有斑點圖案的問題。與光纖高效率耦合，大功率led現在是大多數磁光學顯微鏡實驗的照明選擇。圖1獲得正確調整的磁光效應的關鍵是K?h ...

磁光顯微鏡之寬視場(“常規”)顯微鏡標準寬視場克爾顯微鏡是帶有應變自由光學反射顯微鏡，為了允許偏振顯微鏡。通過應用K?hler照明技術獲得均勻照明圖像，如圖1中的射線圖所示。燈聚焦在光圈光圈的平面上，通過場光圈，然后被部分反射平面的玻璃鏡面線偏振并向下偏轉進入物鏡。樣品反射后的光被物鏡收集，然后再次通過半反射鏡。大多數光學顯微鏡都帶有無限遠校正物鏡，即反射光從每個方位平行束離開物鏡并投射到無限遠。這些束進入管狀透鏡形成中間圖像，對相機或目鏡進行進一步處理。在無限空間中，增加了反射鏡、分析儀、補償器等配件，而不會使圖像失真。偏振器和分析儀通常由二向色偏振片制成，但也可以使用柵格偏振器或格蘭-湯普 ...