三角形的三個(gè)頂點(diǎn)是顯示設(shè)備原色（RGB）色坐標(biāo)，由這三基色可以配置出的顏色就包含在三角形內(nèi)的區(qū)域里面。顯然，因某種顯示設(shè)備的三基色色坐標(biāo)不同，三角形位置就不同，色域有差別，三角形面積越大，色域就越大。色域的計(jì)算公式：Gamut=ALCD/AS*100%其中ALCD表示被測(cè)液晶顯示屏三基色所能表達(dá)出來的顏色范圍(三角形的面積)，AS表示某個(gè)S標(biāo)準(zhǔn)三基色三角形的面積，故色域就是待測(cè)顯示器色域的面積與規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)三基色三角形面積的百分比比值，主要差異在于規(guī)定的三基色坐標(biāo)及采用的色彩空間不同。目前采用的色彩空間主要有兩個(gè)：CIE 1931 xy 色度空間及CIE 1976 u’v’色彩空間，同一 ...

上圖用于讀取頂點(diǎn)的坐標(biāo)比較方便，但是實(shí)際顯示的效果應(yīng)該圖下圖所示對(duì)應(yīng)坐標(biāo)是（277, 288）,與上圖的區(qū)別在于是對(duì)坐標(biāo)系做斜線交叉，使用的是fftshift函數(shù)，如果變成（21，32）需要減去坐標(biāo)（256， 256），即中心坐標(biāo)。上邊這些過程，講述的是一個(gè)光斑，經(jīng)過透鏡后的傅里葉變化結(jié)果，也是它的光斑形狀。現(xiàn)在的問題是如何把傅里葉變換結(jié)果與實(shí)際光斑大小對(duì)應(yīng)，然后根據(jù)焦距計(jì)算斜率現(xiàn)在不知道透鏡焦距的情況下，是否能根據(jù)現(xiàn)有的傅里葉變化結(jié)果計(jì)算光束的偏轉(zhuǎn)角度頻譜對(duì)應(yīng)的是周期，知道周期就能都知道光束的角度知道光束方向，然后依據(jù)焦距，能夠知道光斑的放大比例。實(shí)際頻率=最低頻率*定點(diǎn)偏移量周期=實(shí)際頻率 ...

以入瞳中心為頂點(diǎn)的同心光束，這一光束的立體角決定了光學(xué)系統(tǒng)的成像范圍。同時(shí)，過入瞳邊緣的光線也必過孔闌的邊緣和出瞳的邊緣。相關(guān)文獻(xiàn)：《幾何光學(xué) 像差 光學(xué)設(shè)計(jì)》（第三版）——李曉彤 岑兆豐您可以通過我們的官方網(wǎng)站了解更多的產(chǎn)品信息，或直接來電咨詢4006-888-532。 ...

成了以B點(diǎn)為頂點(diǎn)的圓錐面光束。此光束經(jīng)系統(tǒng)后，由于多種像差的影響，不再是對(duì)稱于主光線的圓錐面光束，也不再會(huì)聚于一點(diǎn)，它與高斯像面相截成一封閉曲線，具有復(fù)雜的形狀，但對(duì)稱于子午平面。整個(gè)入瞳可看成由無數(shù)個(gè)不同半徑的細(xì)圓環(huán)組成。由 B點(diǎn)發(fā)出過這些細(xì)圓環(huán)的光束，經(jīng)系統(tǒng)后各自在高斯像面上截得大小不等、形狀不一、并在 y’軸方向錯(cuò)開的封閉曲線，最后疊加成一個(gè)形狀復(fù)雜的對(duì)稱于子午平面的彌散斑。所以，當(dāng)軸外點(diǎn)成像具有各種像差時(shí)，其像質(zhì)是很差的，也難以得到各種像差對(duì)成像質(zhì)量的影響。因此,我們?cè)谟懻撊魏我环N像差現(xiàn)象都必須把這種像差分離出來單獨(dú)討論，即認(rèn)為當(dāng)前的光學(xué)系統(tǒng)僅存在這一種像差。由前面的討論可知，當(dāng)光學(xué)系 ...

微透鏡陣列的頂點(diǎn)和焦點(diǎn)位置，完成微透鏡陣列的焦距測(cè)量測(cè)量系統(tǒng)需要兩個(gè)點(diǎn)光源1、6和相應(yīng)的準(zhǔn)直系統(tǒng)，測(cè)量分兩步進(jìn)行：首先確定焦點(diǎn)位置，利用點(diǎn)光源1的出射準(zhǔn)直光源經(jīng)過被測(cè)微透鏡陣列成像與其焦點(diǎn)上，移動(dòng)顯微鏡使像點(diǎn)最清晰即顯微鏡與微透鏡陣列共焦；再關(guān)閉光源1而開啟點(diǎn)光源6，移動(dòng)顯微鏡物方焦點(diǎn)至微透鏡陣列頂點(diǎn)處，兩次測(cè)量過程中顯微鏡移動(dòng)的軸向距離即為微透鏡陣列的焦距。圖2-1 顯微鏡共焦檢測(cè)系統(tǒng)相比較顯微鏡及千分尺檢測(cè)法，該方法利用顯微鏡中成像的清晰度變化代替機(jī)械法檢測(cè)，具有較高的測(cè)量精度；但是檢測(cè)系統(tǒng)操作復(fù)雜，小尺寸微透鏡陣列的測(cè)量過程中尋找其焦點(diǎn)和頂點(diǎn)位置較困難，測(cè)量效率不能滿足相應(yīng)的要求。3，光 ...

程時(shí)，雙棱鏡頂點(diǎn)上的模削效應(yīng)導(dǎo)致輸出功率的降低。圖2所示。(a)用光譜分析儀(分辨率設(shè)置為0.08 nm)測(cè)量對(duì)數(shù)尺度下的激光輸出光譜。(b)用微波頻譜分析儀分析快速光電二極管產(chǎn)生的光電流的歸一化功率譜密度。插圖顯示放大的兩個(gè)射頻梳的一次諧波。(c)雙棱鏡側(cè)面不同位置的重復(fù)頻率差異。3．噪聲特性接下來，我們?cè)u(píng)估了共腔方法獲得兩個(gè)脈沖序列與低相對(duì)時(shí)間抖動(dòng)有效性。首先，我們進(jìn)行相位噪聲特性，試圖獲得每個(gè)單獨(dú)的脈沖序列的絕對(duì)時(shí)間抖動(dòng)。我們?cè)谝粋€(gè)快速光電二極管(DSC30S, Discovery Semiconductors Inc.)上檢測(cè)每個(gè)脈沖序列，并選擇帶有可調(diào)諧帶通濾波器的第6個(gè)重復(fù)頻率諧波 ...

。回憶一下，頂點(diǎn)和留數(shù)是描述所測(cè)頻響函數(shù)的值，可以寫為現(xiàn)在可以展示出這些留數(shù)跟模態(tài)振型有關(guān)系。不要經(jīng)歷所有的步驟，得到的系統(tǒng)第‘k’階模態(tài)的關(guān)系可以寫為（某些項(xiàng)展開了）現(xiàn)在如果我們考慮這些方程的第‘r’列，那么用下面的式子建立留數(shù)跟模態(tài)振型之間的關(guān)系所以對(duì)于每一個(gè)測(cè)量結(jié)果，可以得到留數(shù)和模態(tài)振型之間的關(guān)系，如下所示但注意到，未知數(shù)比方程數(shù)多，不管添加多少個(gè)額外的方程到這個(gè)列表都無所謂。不能確定模態(tài)振型，除非包含了一個(gè)特殊的測(cè)量結(jié)果 – 驅(qū)動(dòng)點(diǎn)測(cè)量結(jié)果，它按如下給出利用驅(qū)動(dòng)點(diǎn)測(cè)量結(jié)果，下面可以得到參考點(diǎn)位置上的模態(tài)振型 – 這樣允許確定所有其他的模態(tài)振型系數(shù)。但是如果不存在或者很難得到驅(qū)動(dòng)點(diǎn)測(cè)量 ...

，非常穩(wěn)定的頂點(diǎn)遠(yuǎn)遠(yuǎn)多于3個(gè)。SUM函數(shù)和MIF函數(shù)很好地顯示出了3個(gè)峰，但是其他的峰根本沒有很清楚地顯示出來。所以這個(gè)穩(wěn)定圖像是識(shí)別出了很多的模態(tài)，比根據(jù)SUM和MIF函數(shù)看起來可以解釋的還多。圖3 – 來自單獨(dú)框架頻響的穩(wěn)態(tài)圖和MIF現(xiàn)在，問題是結(jié)構(gòu)具有很多的模態(tài)，比結(jié)構(gòu)的框架部分上容易看出來的還多。這個(gè)面板具有很多階模態(tài)，它對(duì)結(jié)構(gòu)框架部分的響應(yīng)具有非常小的貢獻(xiàn)，但是僅在框架上所測(cè)的結(jié)果中可以看出它們的影響。這就是說，在穩(wěn)態(tài)圖中可以看見系統(tǒng)頂點(diǎn)，即使SUM和MIF根本沒有很好地顯示出這些峰。現(xiàn)在我們進(jìn)行一組測(cè)量，包括結(jié)構(gòu)的面板部分。面板上的驅(qū)動(dòng)點(diǎn)頻響如圖4所示。注意，在這個(gè)測(cè)量結(jié)果中有很多 ...

這些實(shí)際上是頂點(diǎn)，能夠從對(duì)上面展示的非比例系統(tǒng)矩陣的復(fù)數(shù)特征值求解中得到。從這個(gè)表格中，你可以看出在同一個(gè)頻率上有兩個(gè)根，一個(gè)是5%的臨界阻尼而另一個(gè)是40%的臨界阻尼，這是非常大的阻尼。現(xiàn)在繼續(xù)下去，可以按照相同的方式提取出留數(shù)。H11和H12的留數(shù)分別如表2和表3所示。這些留數(shù)與分析留數(shù)吻合的很好，由用來生成頻響函數(shù)的分析模型中確定分析留數(shù)。表2/3 – 由正交多項(xiàng)式算法提取出來的H11/H12留數(shù)現(xiàn)在根據(jù)這個(gè)簡(jiǎn)單的例子，顯然，模態(tài)可以從頻響函數(shù)中提取出來，并且它與系統(tǒng)的阻尼無關(guān) – 不管它是小阻尼還是大阻尼，并且不管它是比例阻尼還是非比例阻尼系統(tǒng)。這里我們可以很清楚…模態(tài)參數(shù)估計(jì)算法是功 ...

內(nèi)容與系統(tǒng)的頂點(diǎn)估計(jì)有關(guān)。盡管可以相對(duì)容易地估計(jì)出頻率，但阻尼一點(diǎn)都不簡(jiǎn)單。很多時(shí)候我就已經(jīng)聽到有人聲稱，從運(yùn)行模態(tài)分析得到的阻尼比從傳統(tǒng)模態(tài)試驗(yàn)得到的更為準(zhǔn)確。盡管對(duì)有非線性特征或軸承或其他復(fù)雜構(gòu)造特征的系統(tǒng)來說，這可能是真的，實(shí)際情況是，在一個(gè)線性時(shí)不變（LTI）系統(tǒng)中，僅就所有已有的運(yùn)行提取算法而言，所有的預(yù)計(jì)阻尼看起來都比實(shí)際存在的高。為了說明只有響應(yīng)的數(shù)據(jù)縮減方法總是產(chǎn)生較高的阻尼，即使是在LIT系統(tǒng)上，這里將展示兩個(gè)模型的結(jié)果 – 一個(gè)例子是一個(gè)純粹的分析仿真運(yùn)行數(shù)據(jù)，另一個(gè)是在一個(gè)ji其線性的系統(tǒng)，實(shí)際上是一個(gè)LTI系統(tǒng)上的實(shí)際試驗(yàn)設(shè)置。對(duì)第1種情況，我們假設(shè)我們可以從一個(gè)線性時(shí) ...