三角形的三個頂點是顯示設(shè)備原色（RGB）色坐標，由這三基色可以配置出的顏色就包含在三角形內(nèi)的區(qū)域里面。顯然，因某種顯示設(shè)備的三基色色坐標不同，三角形位置就不同，色域有差別，三角形面積越大，色域就越大。色域的計算公式：Gamut=ALCD/AS*100%其中ALCD表示被測液晶顯示屏三基色所能表達出來的顏色范圍(三角形的面積)，AS表示某個S標準三基色三角形的面積，故色域就是待測顯示器色域的面積與規(guī)定的標準三基色三角形面積的百分比比值，主要差異在于規(guī)定的三基色坐標及采用的色彩空間不同。目前采用的色彩空間主要有兩個：CIE 1931 xy 色度空間及CIE 1976 u’v’色彩空間，同一 ...

上圖用于讀取頂點的坐標比較方便，但是實際顯示的效果應(yīng)該圖下圖所示對應(yīng)坐標是（277, 288）,與上圖的區(qū)別在于是對坐標系做斜線交叉，使用的是fftshift函數(shù)，如果變成（21，32）需要減去坐標（256， 256），即中心坐標。上邊這些過程，講述的是一個光斑，經(jīng)過透鏡后的傅里葉變化結(jié)果，也是它的光斑形狀。現(xiàn)在的問題是如何把傅里葉變換結(jié)果與實際光斑大小對應(yīng)，然后根據(jù)焦距計算斜率現(xiàn)在不知道透鏡焦距的情況下，是否能根據(jù)現(xiàn)有的傅里葉變化結(jié)果計算光束的偏轉(zhuǎn)角度頻譜對應(yīng)的是周期，知道周期就能都知道光束的角度知道光束方向，然后依據(jù)焦距，能夠知道光斑的放大比例。實際頻率=最低頻率*定點偏移量周期=實際頻率 ...

以入瞳中心為頂點的同心光束，這一光束的立體角決定了光學(xué)系統(tǒng)的成像范圍。同時，過入瞳邊緣的光線也必過孔闌的邊緣和出瞳的邊緣。相關(guān)文獻：《幾何光學(xué) 像差 光學(xué)設(shè)計》（第三版）——李曉彤 岑兆豐您可以通過我們的官方網(wǎng)站了解更多的產(chǎn)品信息，或直接來電咨詢4006-888-532。 ...

成了以B點為頂點的圓錐面光束。此光束經(jīng)系統(tǒng)后，由于多種像差的影響，不再是對稱于主光線的圓錐面光束，也不再會聚于一點，它與高斯像面相截成一封閉曲線，具有復(fù)雜的形狀，但對稱于子午平面。整個入瞳可看成由無數(shù)個不同半徑的細圓環(huán)組成。由 B點發(fā)出過這些細圓環(huán)的光束，經(jīng)系統(tǒng)后各自在高斯像面上截得大小不等、形狀不一、并在 y’軸方向錯開的封閉曲線，最后疊加成一個形狀復(fù)雜的對稱于子午平面的彌散斑。所以，當軸外點成像具有各種像差時，其像質(zhì)是很差的，也難以得到各種像差對成像質(zhì)量的影響。因此,我們在討論任何一種像差現(xiàn)象都必須把這種像差分離出來單獨討論，即認為當前的光學(xué)系統(tǒng)僅存在這一種像差。由前面的討論可知，當光學(xué)系 ...

微透鏡陣列的頂點和焦點位置，完成微透鏡陣列的焦距測量測量系統(tǒng)需要兩個點光源1、6和相應(yīng)的準直系統(tǒng)，測量分兩步進行：首先確定焦點位置，利用點光源1的出射準直光源經(jīng)過被測微透鏡陣列成像與其焦點上，移動顯微鏡使像點最清晰即顯微鏡與微透鏡陣列共焦；再關(guān)閉光源1而開啟點光源6，移動顯微鏡物方焦點至微透鏡陣列頂點處，兩次測量過程中顯微鏡移動的軸向距離即為微透鏡陣列的焦距。圖2-1 顯微鏡共焦檢測系統(tǒng)相比較顯微鏡及千分尺檢測法，該方法利用顯微鏡中成像的清晰度變化代替機械法檢測，具有較高的測量精度；但是檢測系統(tǒng)操作復(fù)雜，小尺寸微透鏡陣列的測量過程中尋找其焦點和頂點位置較困難，測量效率不能滿足相應(yīng)的要求。3，光 ...

程時，雙棱鏡頂點上的模削效應(yīng)導(dǎo)致輸出功率的降低。圖2所示。(a)用光譜分析儀(分辨率設(shè)置為0.08 nm)測量對數(shù)尺度下的激光輸出光譜。(b)用微波頻譜分析儀分析快速光電二極管產(chǎn)生的光電流的歸一化功率譜密度。插圖顯示放大的兩個射頻梳的一次諧波。(c)雙棱鏡側(cè)面不同位置的重復(fù)頻率差異。3．噪聲特性接下來，我們評估了共腔方法獲得兩個脈沖序列與低相對時間抖動有效性。首先，我們進行相位噪聲特性，試圖獲得每個單獨的脈沖序列的絕對時間抖動。我們在一個快速光電二極管(DSC30S, Discovery Semiconductors Inc.)上檢測每個脈沖序列，并選擇帶有可調(diào)諧帶通濾波器的第6個重復(fù)頻率諧波 ...

。回憶一下，頂點和留數(shù)是描述所測頻響函數(shù)的值，可以寫為現(xiàn)在可以展示出這些留數(shù)跟模態(tài)振型有關(guān)系。不要經(jīng)歷所有的步驟，得到的系統(tǒng)第‘k’階模態(tài)的關(guān)系可以寫為（某些項展開了）現(xiàn)在如果我們考慮這些方程的第‘r’列，那么用下面的式子建立留數(shù)跟模態(tài)振型之間的關(guān)系所以對于每一個測量結(jié)果，可以得到留數(shù)和模態(tài)振型之間的關(guān)系，如下所示但注意到，未知數(shù)比方程數(shù)多，不管添加多少個額外的方程到這個列表都無所謂。不能確定模態(tài)振型，除非包含了一個特殊的測量結(jié)果 – 驅(qū)動點測量結(jié)果，它按如下給出利用驅(qū)動點測量結(jié)果，下面可以得到參考點位置上的模態(tài)振型 – 這樣允許確定所有其他的模態(tài)振型系數(shù)。但是如果不存在或者很難得到驅(qū)動點測量 ...

，非常穩(wěn)定的頂點遠遠多于3個。SUM函數(shù)和MIF函數(shù)很好地顯示出了3個峰，但是其他的峰根本沒有很清楚地顯示出來。所以這個穩(wěn)定圖像是識別出了很多的模態(tài)，比根據(jù)SUM和MIF函數(shù)看起來可以解釋的還多。圖3 – 來自單獨框架頻響的穩(wěn)態(tài)圖和MIF現(xiàn)在，問題是結(jié)構(gòu)具有很多的模態(tài)，比結(jié)構(gòu)的框架部分上容易看出來的還多。這個面板具有很多階模態(tài)，它對結(jié)構(gòu)框架部分的響應(yīng)具有非常小的貢獻，但是僅在框架上所測的結(jié)果中可以看出它們的影響。這就是說，在穩(wěn)態(tài)圖中可以看見系統(tǒng)頂點，即使SUM和MIF根本沒有很好地顯示出這些峰。現(xiàn)在我們進行一組測量，包括結(jié)構(gòu)的面板部分。面板上的驅(qū)動點頻響如圖4所示。注意，在這個測量結(jié)果中有很多 ...

這些實際上是頂點，能夠從對上面展示的非比例系統(tǒng)矩陣的復(fù)數(shù)特征值求解中得到。從這個表格中，你可以看出在同一個頻率上有兩個根，一個是5%的臨界阻尼而另一個是40%的臨界阻尼，這是非常大的阻尼。現(xiàn)在繼續(xù)下去，可以按照相同的方式提取出留數(shù)。H11和H12的留數(shù)分別如表2和表3所示。這些留數(shù)與分析留數(shù)吻合的很好，由用來生成頻響函數(shù)的分析模型中確定分析留數(shù)。表2/3 – 由正交多項式算法提取出來的H11/H12留數(shù)現(xiàn)在根據(jù)這個簡單的例子，顯然，模態(tài)可以從頻響函數(shù)中提取出來，并且它與系統(tǒng)的阻尼無關(guān) – 不管它是小阻尼還是大阻尼，并且不管它是比例阻尼還是非比例阻尼系統(tǒng)。這里我們可以很清楚…模態(tài)參數(shù)估計算法是功 ...

內(nèi)容與系統(tǒng)的頂點估計有關(guān)。盡管可以相對容易地估計出頻率，但阻尼一點都不簡單。很多時候我就已經(jīng)聽到有人聲稱，從運行模態(tài)分析得到的阻尼比從傳統(tǒng)模態(tài)試驗得到的更為準確。盡管對有非線性特征或軸承或其他復(fù)雜構(gòu)造特征的系統(tǒng)來說，這可能是真的，實際情況是，在一個線性時不變（LTI）系統(tǒng)中，僅就所有已有的運行提取算法而言，所有的預(yù)計阻尼看起來都比實際存在的高。為了說明只有響應(yīng)的數(shù)據(jù)縮減方法總是產(chǎn)生較高的阻尼，即使是在LIT系統(tǒng)上，這里將展示兩個模型的結(jié)果 – 一個例子是一個純粹的分析仿真運行數(shù)據(jù)，另一個是在一個ji其線性的系統(tǒng)，實際上是一個LTI系統(tǒng)上的實際試驗設(shè)置。對第1種情況，我們假設(shè)我們可以從一個線性時 ...