三角形的三個頂點是顯示設備原色（RGB）色坐標，由這三基色可以配置出的顏色就包含在三角形內的區域里面。顯然，因某種顯示設備的三基色色坐標不同，三角形位置就不同，色域有差別，三角形面積越大，色域就越大。色域的計算公式：Gamut=ALCD/AS*100%其中ALCD表示被測液晶顯示屏三基色所能表達出來的顏色范圍(三角形的面積)，AS表示某個S標準三基色三角形的面積，故色域就是待測顯示器色域的面積與規定的標準三基色三角形面積的百分比比值，主要差異在于規定的三基色坐標及采用的色彩空間不同。目前采用的色彩空間主要有兩個：CIE 1931 xy 色度空間及CIE 1976 u’v’色彩空間，同一 ...

上圖用于讀取頂點的坐標比較方便，但是實際顯示的效果應該圖下圖所示對應坐標是（277, 288）,與上圖的區別在于是對坐標系做斜線交叉，使用的是fftshift函數，如果變成（21，32）需要減去坐標（256， 256），即中心坐標。上邊這些過程，講述的是一個光斑，經過透鏡后的傅里葉變化結果，也是它的光斑形狀。現在的問題是如何把傅里葉變換結果與實際光斑大小對應，然后根據焦距計算斜率現在不知道透鏡焦距的情況下，是否能根據現有的傅里葉變化結果計算光束的偏轉角度頻譜對應的是周期，知道周期就能都知道光束的角度知道光束方向，然后依據焦距，能夠知道光斑的放大比例。實際頻率=最低頻率*定點偏移量周期=實際頻率 ...

以入瞳中心為頂點的同心光束，這一光束的立體角決定了光學系統的成像范圍。同時，過入瞳邊緣的光線也必過孔闌的邊緣和出瞳的邊緣。相關文獻：《幾何光學 像差 光學設計》（第三版）——李曉彤 岑兆豐您可以通過我們的官方網站了解更多的產品信息，或直接來電咨詢4006-888-532。 ...

成了以B點為頂點的圓錐面光束。此光束經系統后，由于多種像差的影響，不再是對稱于主光線的圓錐面光束，也不再會聚于一點，它與高斯像面相截成一封閉曲線，具有復雜的形狀，但對稱于子午平面。整個入瞳可看成由無數個不同半徑的細圓環組成。由 B點發出過這些細圓環的光束，經系統后各自在高斯像面上截得大小不等、形狀不一、并在 y’軸方向錯開的封閉曲線，最后疊加成一個形狀復雜的對稱于子午平面的彌散斑。所以，當軸外點成像具有各種像差時，其像質是很差的，也難以得到各種像差對成像質量的影響。因此,我們在討論任何一種像差現象都必須把這種像差分離出來單獨討論，即認為當前的光學系統僅存在這一種像差。由前面的討論可知，當光學系 ...

微透鏡陣列的頂點和焦點位置，完成微透鏡陣列的焦距測量測量系統需要兩個點光源1、6和相應的準直系統，測量分兩步進行：首先確定焦點位置，利用點光源1的出射準直光源經過被測微透鏡陣列成像與其焦點上，移動顯微鏡使像點最清晰即顯微鏡與微透鏡陣列共焦；再關閉光源1而開啟點光源6，移動顯微鏡物方焦點至微透鏡陣列頂點處，兩次測量過程中顯微鏡移動的軸向距離即為微透鏡陣列的焦距。圖2-1 顯微鏡共焦檢測系統相比較顯微鏡及千分尺檢測法，該方法利用顯微鏡中成像的清晰度變化代替機械法檢測，具有較高的測量精度；但是檢測系統操作復雜，小尺寸微透鏡陣列的測量過程中尋找其焦點和頂點位置較困難，測量效率不能滿足相應的要求。3，光 ...

程時，雙棱鏡頂點上的模削效應導致輸出功率的降低。圖2所示。(a)用光譜分析儀(分辨率設置為0.08 nm)測量對數尺度下的激光輸出光譜。(b)用微波頻譜分析儀分析快速光電二極管產生的光電流的歸一化功率譜密度。插圖顯示放大的兩個射頻梳的一次諧波。(c)雙棱鏡側面不同位置的重復頻率差異。3．噪聲特性接下來，我們評估了共腔方法獲得兩個脈沖序列與低相對時間抖動有效性。首先，我們進行相位噪聲特性，試圖獲得每個單獨的脈沖序列的絕對時間抖動。我們在一個快速光電二極管(DSC30S, Discovery Semiconductors Inc.)上檢測每個脈沖序列，并選擇帶有可調諧帶通濾波器的第6個重復頻率諧波 ...

。回憶一下，頂點和留數是描述所測頻響函數的值，可以寫為現在可以展示出這些留數跟模態振型有關系。不要經歷所有的步驟，得到的系統第‘k’階模態的關系可以寫為（某些項展開了）現在如果我們考慮這些方程的第‘r’列，那么用下面的式子建立留數跟模態振型之間的關系所以對于每一個測量結果，可以得到留數和模態振型之間的關系，如下所示但注意到，未知數比方程數多，不管添加多少個額外的方程到這個列表都無所謂。不能確定模態振型，除非包含了一個特殊的測量結果 – 驅動點測量結果，它按如下給出利用驅動點測量結果，下面可以得到參考點位置上的模態振型 – 這樣允許確定所有其他的模態振型系數。但是如果不存在或者很難得到驅動點測量 ...

，非常穩定的頂點遠遠多于3個。SUM函數和MIF函數很好地顯示出了3個峰，但是其他的峰根本沒有很清楚地顯示出來。所以這個穩定圖像是識別出了很多的模態，比根據SUM和MIF函數看起來可以解釋的還多。圖3 – 來自單獨框架頻響的穩態圖和MIF現在，問題是結構具有很多的模態，比結構的框架部分上容易看出來的還多。這個面板具有很多階模態，它對結構框架部分的響應具有非常小的貢獻，但是僅在框架上所測的結果中可以看出它們的影響。這就是說，在穩態圖中可以看見系統頂點，即使SUM和MIF根本沒有很好地顯示出這些峰。現在我們進行一組測量，包括結構的面板部分。面板上的驅動點頻響如圖4所示。注意，在這個測量結果中有很多 ...

這些實際上是頂點，能夠從對上面展示的非比例系統矩陣的復數特征值求解中得到。從這個表格中，你可以看出在同一個頻率上有兩個根，一個是5%的臨界阻尼而另一個是40%的臨界阻尼，這是非常大的阻尼。現在繼續下去，可以按照相同的方式提取出留數。H11和H12的留數分別如表2和表3所示。這些留數與分析留數吻合的很好，由用來生成頻響函數的分析模型中確定分析留數。表2/3 – 由正交多項式算法提取出來的H11/H12留數現在根據這個簡單的例子，顯然，模態可以從頻響函數中提取出來，并且它與系統的阻尼無關 – 不管它是小阻尼還是大阻尼，并且不管它是比例阻尼還是非比例阻尼系統。這里我們可以很清楚…模態參數估計算法是功 ...

內容與系統的頂點估計有關。盡管可以相對容易地估計出頻率，但阻尼一點都不簡單。很多時候我就已經聽到有人聲稱，從運行模態分析得到的阻尼比從傳統模態試驗得到的更為準確。盡管對有非線性特征或軸承或其他復雜構造特征的系統來說，這可能是真的，實際情況是，在一個線性時不變（LTI）系統中，僅就所有已有的運行提取算法而言，所有的預計阻尼看起來都比實際存在的高。為了說明只有響應的數據縮減方法總是產生較高的阻尼，即使是在LIT系統上，這里將展示兩個模型的結果 – 一個例子是一個純粹的分析仿真運行數據，另一個是在一個ji其線性的系統，實際上是一個LTI系統上的實際試驗設置。對第1種情況，我們假設我們可以從一個線性時 ...