試對(duì)10um針孔成像，測(cè)得橫向分辨率22um，軸向分辨率1mm。參考文獻(xiàn)：Qi Cui, Jongchan Park, Yayao Ma, and Liang Gao, "Snapshot hyperspectral light field tomography," Optica 8, 1552-1558 (2021)DOI：https://doi.org/10.1364/OPTICA.440074關(guān)于昊量光電：上海昊量光電設(shè)備有限公司是國內(nèi)知名光電產(chǎn)品專業(yè)代理商，代理品牌均處于相關(guān)領(lǐng)域的發(fā)展前沿；產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學(xué)測(cè)量設(shè)備、精密光學(xué)元件等，涉及應(yīng)用領(lǐng)域涵 ...

——消除共焦針孔——非線性信號(hào)由非成像探測(cè)器（例如光電倍增管）收集和量化。由于已知信號(hào)源自于焦點(diǎn)，因此所有收集的非線性光都可以歸因于樣本中的該點(diǎn)。為了形成一幅圖像，通過掃描聚焦于樣本中的焦點(diǎn)來量化每個(gè)體素的非線性信號(hào)強(qiáng)度。一個(gè)簡(jiǎn)單并且直接的方法是，在激光焦點(diǎn)保持靜止的情況下掃描樣本來形成圖像。但是樣品保持靜止，掃描激光的方法通常更受歡迎，盡管它更難以實(shí)施，但是這種方案具有卓越的圖像采集速度和樣品穩(wěn)定性。激光掃描的方式要求在保持以物鏡后背孔徑為中心的情況下，光束的入射角發(fā)生變化；這樣可以防止?jié)u暈。因此，激光掃描過程不僅決定了FOV（field of view），而且對(duì)整個(gè)掃描區(qū)域的激發(fā)效率也有顯 ...

二極管和兩個(gè)針孔。對(duì)齊用二極管的工作波長(zhǎng)在1030nm和1040nm都可以。在判定光線共軸時(shí)，最好是先對(duì)齊泵浦光束，在建立好的泵浦線上對(duì)齊腔內(nèi)模式。在對(duì)齊泵浦光束的時(shí)候，有一個(gè)挑戰(zhàn)：泵浦源通常選用25-40W的商業(yè)高功率一站式泵浦光源，它有最小的穩(wěn)定輸出電流，在此電流下相應(yīng)的輸出功率是7-10W。當(dāng)聚焦光斑只有200um的時(shí)候，產(chǎn)生的強(qiáng)度足以燒壞標(biāo)準(zhǔn)針孔和其它的對(duì)齊工具。要解決此挑戰(zhàn)可以通過購買高損傷閾值的針孔和對(duì)齊工具。本文通過將普通針孔離聚焦點(diǎn)等距來解決此問題（見圖10的小圖）。使用針孔離聚焦點(diǎn)等距的方式可以精密的對(duì)齊泵浦光束，使得束腰剛好在晶體里。DOI：https://doi.org/ ...

圖像平面中的針孔和單像素檢測(cè)器被替換為 23 像素的 SPAD 陣列，SPAD23單光子陣列探測(cè)器，增加了光線收集，提高了成像速度，減少了背景噪音，能夠在共聚焦顯微鏡中實(shí)現(xiàn)波動(dòng)對(duì)比度的超分辨率。當(dāng)掃描樣品臺(tái)時(shí)，每個(gè)光子的檢測(cè)時(shí)間記錄在相連的 FPGA 電路中，并以數(shù)字形式存儲(chǔ)。然后分析該數(shù)據(jù)，為陣列中的每個(gè)像素對(duì)產(chǎn)生第②個(gè)相關(guān)圖像，產(chǎn)生 232個(gè)分辨率增強(qiáng)為 2 的相關(guān)圖像。如下圖b所示分辨率的提高可歸因于兩個(gè)因素。首先，如在 ISM 中一樣，每個(gè)小探測(cè)器的點(diǎn)擴(kuò)展函數(shù)(PSF)是激發(fā)和其探測(cè) PSF 的乘積。此外，從兩個(gè)這樣的 ISM PSFs 相乘得到的相關(guān)對(duì)比度實(shí)現(xiàn)了進(jìn)一步的變窄。在對(duì)圖像 ...

使用具有兩個(gè)針孔的掩模來實(shí)現(xiàn)的，這是傅里葉平面上條紋的平移，受每個(gè)針孔處的相位調(diào)制影響。此外，條紋圖案的對(duì)比度取決于兩個(gè)針孔之間的相似程度。當(dāng) SLM 在其相位電壓曲線中顯示出不均勻的空間響應(yīng)時(shí)，為了校準(zhǔn)目的，會(huì)應(yīng)用相對(duì)復(fù)雜的干涉設(shè)置。這是 [13] 中所示的光學(xué)設(shè)置的情況，其中 Michelson 架構(gòu)由兩個(gè)偏振器、一個(gè)壓電鏡、一個(gè)分束器和一個(gè) CCD 相機(jī)等元素組成。透射式 SLM 的位置相關(guān)相位響應(yīng)在 中使用 Mach-Zehnder 干涉儀進(jìn)行測(cè)量和校正，包括偏振分束器或雙透鏡開普勒型成像光學(xué)元件等光學(xué)元件。中展示了一種基于剪切干涉儀的方法，該方法能夠以相對(duì)簡(jiǎn)單的方式同時(shí)測(cè)量扭曲液晶顯 ...

，使光束通過針孔(一個(gè)空間濾波器，確保光束截面輪廓的圓度;圖1B，元素3)，我們利用同樣的望遠(yuǎn)鏡，通過簡(jiǎn)單地改變?cè)撏h(yuǎn)鏡的焦距和第②個(gè)透鏡的位置來預(yù)補(bǔ)償光束的大小(圖1A)。這確保了小波束稍微覆蓋了我們目標(biāo)的后光圈。小束撞擊到檢鏡上并被反射的角度決定了小束在樣品上的空間擴(kuò)散，這是我們實(shí)驗(yàn)中的一個(gè)關(guān)鍵變量。這個(gè)角度由來自DOE的光束間角(由其相位掩模定義)和DOE與振鏡之間的望遠(yuǎn)鏡功率控制。在所有的實(shí)驗(yàn)中，我們都使用了DOEs，它在一條單線上創(chuàng)建了一系列均勻間隔的波束。這個(gè)DOE很容易繞著光路的軸線旋轉(zhuǎn)，從而沿著任意方向形成一條點(diǎn)線。在快速掃描中，這種旋轉(zhuǎn)可用于調(diào)節(jié)沿垂直維度的有效波束間角距離。 ...

消除了共聚焦針孔的需要。這對(duì)于厚組織樣本的成像尤其有用。表1.自發(fā)拉曼散射與相干拉曼散射的比較自發(fā)拉曼散射SRS單光子過程多光子過程極慢成像(>20分鐘/幀)快速成像，可達(dá)(30 fps)無固有z分辨率光學(xué)切片可見光/紫外光束激發(fā)增強(qiáng)散射激發(fā)與近紅外光束增強(qiáng)成像深度易受背景熒光影響對(duì)背景熒光免疫全光譜選定的光譜信息表2.CARS和SRS的比較CARSSRS參數(shù)化過程能量傳遞過程新光頻信號(hào)透射激勵(lì)光束的強(qiáng)度增益和損耗非特定的非共振背景無非共振背景扭曲的光譜與自發(fā)拉曼光譜相同相干圖像偽影信號(hào)是物體與點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)的卷積非線性濃度依賴性線性濃度依賴性CARS的產(chǎn)生條件與SRS相同，但檢測(cè)方法不同。 ...

如由更常見的針孔提供的截面強(qiáng)度。對(duì)目標(biāo)的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)沿狹縫方向逐像素反卷積，可以得到較強(qiáng)的分割效果。寬視場(chǎng)照明和成像檢測(cè)窄帶濾波器可用于拉曼成像。第①個(gè)成功的現(xiàn)代儀器采用了干涉濾波器，它可以傾斜以改變通帶。隨后，聲光可調(diào)諧濾波器(AOTF)和液晶可調(diào)諧濾波器(LCTF)被引入到拉曼成像中，并提供了電子可調(diào)諧性。可調(diào)濾波器方法已被證明是測(cè)量隔離波段較有用的方法。如果只需要幾個(gè)幀來定義波段，拉曼成像可以相當(dāng)快。當(dāng)有許多重疊波段或非線性背景時(shí)，許多圖像必須以不同的拉曼位移拍攝，時(shí)間優(yōu)勢(shì)就消失了。需要注意的是，聲光濾波器的透射率僅為50%左右，而液晶濾波器的透射率約為20 - 40%。相比之下，電介質(zhì)濾 ...

明側(cè)和檢測(cè)側(cè)針孔來實(shí)現(xiàn)“共聚焦”。1967年Egger和Petran成功地將共聚焦顯微成像技術(shù)用于神經(jīng)組織的無標(biāo)記成像。在共聚焦顯微成像技術(shù)中，單色激光經(jīng)過一個(gè)照明針孔后形成點(diǎn)光源，一個(gè)物鏡將點(diǎn)光源聚焦到樣品上，在探測(cè)端由另一個(gè)物鏡將來自樣品的信號(hào)聚焦到探測(cè)針孔處。在這個(gè)過程中，使用單光束掃描的方式使用點(diǎn)光源在樣品上進(jìn)行逐點(diǎn)掃描，實(shí)現(xiàn)二維成像，這就是激光掃描共聚焦顯微鏡的工作原理。共聚焦顯微成像技術(shù)的關(guān)鍵在于兩個(gè)針孔的“共聚焦”可以屏蔽所有來自非焦面的信號(hào)，在探測(cè)針孔后的光電倍增管只能探測(cè)來自焦平面的信號(hào)。因此，該技術(shù)具有光學(xué)切片的能力。結(jié)語：共聚焦顯微技術(shù)是近十幾年迅速發(fā)展起來的一項(xiàng)高新研究 ...

因，有必要對(duì)針孔后面的所有光學(xué)元件鍍一層增透膜，而針孔本身就是一個(gè)空間濾波器，應(yīng)位于所有光學(xué)元件之前，并能濾除聚焦光學(xué)系統(tǒng)所有相干噪聲。3.2激光斐索干涉儀優(yōu)點(diǎn)：：干涉儀中的所有光學(xué)系統(tǒng)會(huì)同時(shí)經(jīng)過測(cè)試光和參考光，除非用單一表面作為分光鏡，這意味著光學(xué)系統(tǒng)的畸變對(duì)zui終觀察到的條紋形狀影響很小，但要求分光鏡的表面質(zhì)量必須很高，否則會(huì)嚴(yán)重影響到條紋形狀。3.3非球面測(cè)量（2）泰曼格林干涉儀3.4泰曼格林干涉儀若采用普通光源(如汞燈)時(shí)該裝置的優(yōu)點(diǎn)是可以調(diào)節(jié)并移動(dòng)參考鏡面，保證測(cè)試光路和參考光路具有相同的光程長(zhǎng)度。若用激光作為光源，相對(duì)于普通光源的斐索干涉儀而言，它不僅可以測(cè)量整個(gè)光學(xué)系統(tǒng)，而且可 ...