20 um的針孔上。對于某些示例，這種共聚焦配置可用于消除來自樣品襯底的背景散射光。在針孔之后，用一個偏振器來分析探測光束的克爾旋轉，該偏振器相對于入射光束的交叉偏振方向的角度為幾度(交叉偏振器技術)然后用光電倍增管和鎖定檢測方案進行檢測。垂直于樣品平面施加zui大振幅為±4kOe的可變靜態(tài)磁場H。樣品可以用XY壓電掃描臺在±40 um的距離上進行掃描，精度為2 nm。CoPt3光盤是由15 nm的CoxPt1?x (x=0.25)合金薄膜通過分子束外延生長在沉積在500 um取向藍寶石(0001)襯底上的12 nm Pt緩沖層上，通過電子光刻制成的圓盤的直徑為0.2 ~ 1m，圓盤之間的距離 ...

探測器前面的針孔上。這個共聚焦孔阻擋了任何不是來自激光束腰的xyz位置的光。通過掃描束腰和/或移動樣品，可以獲得水平或垂直的圖像切片甚至整個圖像立方體，并且可以在多個深度捕獲熒光。多光子顯微鏡是一種利用大數值孔徑光學聚焦超快激光的相關技術。激光波長設置為目標熒光團常規(guī)激發(fā)所需波長的兩倍。在且僅在束腰處，聚焦的峰值光強超過雙光子激發(fā)的閾值。這提供了固有的3D分辨率，并消除了對有損耗的共聚焦孔的需要。然而，這兩種技術都受到實際成像中的需要取舍的負面影響，例如以捕獲代謝過程所需的幀率在組織內部進行更深層次成像的能力。此外，由于顯微鏡光學器件的像差，或者更隱蔽地，由樣品組織本身的光學性質，分辨率可能會 ...

光束經物鏡、針孔、準直透鏡準直，參考光學平面與準直光束垂直，并采用光楔或減反射膜系來抑制它的背面反射。參考和測量面間的干涉條紋經電視攝像機來探測。分束器或λ/4波片以及偏振分束器用來引導光束入射于電視攝像機上。這種斐索干涉儀，需要采用長焦距的準直透鏡來獲得高的精度。干涉條紋函數I(x,y)：式中，I。為背景光強度；y(x,y)為條紋調制函數；φ(x,y)為被測條紋的位相分布函數；φ。為參考面與測量面間光程差引起的初位相.為了從干涉條紋函數中獲得位相分布函數φ(x,y),采用了相移法。相移時，條紋位相隨著光程或波長變化而發(fā)生移動。當給定附加相移φi，干涉條紋函數I(x,y)為:理論上，為了計算位 ...

錐照明，并與針孔位于樣品附近的組合，作為線性單色儀，具有典型的單色性約λ/Δλ = 500。因此，在光子能量為700 eV時，光譜分辨率約為1.3 eV。XM-1的光子能量范圍在500 ~ 1300 eV之間，因此覆蓋了波長為2.4 nm的水窗, 3d過渡金屬的L邊多，稀土體系的M邊多。在光子透射樣品后，第二個菲涅耳帶板，微帶板(MZP)，將一個全場圖像投射到一個x射線敏感的二維電荷耦合器件(CCD)探測器上。它是一個背面照明的薄CCD。目前的CCD芯片像素為2,048×2,048，像素尺寸為13.5 × 13.5μm2。放大倍率的典型值在1500到2000之間，每個圖像的視場約為10 μ m ...

磁光顯微鏡之寬視場(“常規(guī)”)顯微鏡標準寬視場克爾顯微鏡是帶有應變自由光學反射顯微鏡，為了允許偏振顯微鏡。通過應用K?hler照明技術獲得均勻照明圖像，如圖1中的射線圖所示。燈聚焦在光圈光圈的平面上，通過場光圈，然后被部分反射平面的玻璃鏡面線偏振并向下偏轉進入物鏡。樣品反射后的光被物鏡收集，然后再次通過半反射鏡。大多數光學顯微鏡都帶有無限遠校正物鏡，即反射光從每個方位平行束離開物鏡并投射到無限遠。這些束進入管狀透鏡形成中間圖像，對相機或目鏡進行進一步處理。在無限空間中，增加了反射鏡、分析儀、補償器等配件，而不會使圖像失真。偏振器和分析儀通常由二向色偏振片制成，但也可以使用柵格偏振器或格蘭-湯普 ...

決于衍射板中針孔衍射產生的參考球面波質量，而針孔的直徑是影響參考球面波質量的一個重要因素。點衍射干涉儀可用于波前測量，無需參考鏡、共光路結構等優(yōu)點可以滿足高精度的測量要求。研究了點衍射干涉儀，可以用一幅圓載頻干涉圖來恢復原始相位。點衍射干涉儀在光學檢測領域有著重要應用，特別是在高精度光學系統(tǒng)的檢測中發(fā)揮著關鍵作用。通過不斷優(yōu)化其設計和制造工藝，點衍射干涉儀的測量精度和應用范圍將得到進一步的提升。更多點衍射激光干涉儀詳情請訪問上海昊量光電的官方網頁：http://www.arouy.cn/details-1530.html更多詳情請聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián)系昊量光電關于昊量光電：上 ...

聚對二甲苯厚度測量我們將討論開發(fā)薄膜堆棧的步驟和測量結果:1. 使用厚膜算法快速估計厚度。由于我們不知道R.I散度，所以結果不準確。但是，一旦我們確定了R.I分散，我們就可以在生產中使用這種方法進行快速測量2. 測量零件的未涂覆表面，并建立薄膜堆以適應該數據3. 測量聚對二甲苯涂層厚度和R.I分散度聚對二甲苯薄膜通常很厚，假設折射率(材料的色散)已知，使用FFT厚膜算法很容易測量它們的厚度。這種方法不需要精確的校準或詳細的膜堆模型，在生產環(huán)境中使用方便。然而，如果不知道正確的折射率，厚度讀數也會不準確。樣品測量MProbe 20 Vis在400-1000nm波長范圍內測量包覆和未包覆的樣品。圖 ...

通過物鏡、針孔單元和D7干涉儀的精確線性運動來測試視場。3. 檢測精度如下表所示：3.畸變校正1. DifroMetric軟件導出/導入數據傳輸為標準光學設計軟件(ODS)。2. 物鏡的測量像差可用澤尼克條紋系數表示。3. 實測像差系數CFZM可與設計系數CFZD進行數據比較，DifroMetric和光學設計軟件之間可交互作用。4. 比較的結果有助于選擇參數包括-氣隙，或其他參數，這對于在裝配過程中對待測件位置的調整有重要作用。4.D7系統(tǒng)的優(yōu)點1. 測試介觀物鏡不需要參考鏡。2. 測試介觀物鏡可在全光譜范圍VIS + NIR下進行。3. D7可以選擇不同的工作波長范圍。4. D7系統(tǒng)可以提 ...

現方式主要有針孔共聚焦和狹縫共聚焦。針孔共聚焦就像一位嚴謹的 “守門人”，以針孔為空間濾波器，用激光逐點掃描形成點光源，精準過濾非焦平面光。它具備超高的軸向和橫向分辨率，能有效排除雜散光干擾，成像對比度和清晰度絕佳，尤其適合厚樣品光學切片與三維成像，在生物、醫(yī)學及材料科學領域大顯身手。不過，它也有小缺點，光通量低，需要強光源和長曝光，對樣品熒光強度要求高，而且系統(tǒng)復雜、成本昂貴。狹縫共聚焦則像一位 “快速采集員”，采用狹縫分光，能快速掃描并采集光譜信息，在活細胞快速生理監(jiān)測、藥物代謝研究等場景表現出色。雖然它在軸向分辨率上稍遜于針孔共聚焦，但勝在成像速度快，能滿足一些對時間分辨率要求較高的實驗 ...

不需要共聚焦針孔了。這樣提高了光的檢測，而且光漂白只發(fā)生在焦點上。焦點外的光漂白和光損傷很小。2. 提高信噪比。激發(fā)光波長和發(fā)射光波長具有很大的差別，提高了信噪比 。3. 更容易穿透標本：紅外波長的光不易被細胞散射，能穿透更深的標本。 昊量光電為雙光子顯微、多光子顯微提供各種關鍵部件，雙光子用780nm、920nm、1030nm飛秒激光器，三光子用1300nm、1550nm、1700nm飛秒激光器、多光子專用空間光調制器，顯微光學自適應系統(tǒng)，鈦寶石飛秒激光器、及配套功率調節(jié)用電光調制器（普克爾盒），色散補償器，空心光子晶體光纖，自相關儀等。 ...