濾波器或衍射光柵進行波長選擇。因為它們是放電源,所以在運行前需要一段預熱期。相比之下,UV-C LED是即時開啟的,效率高,光譜穩定性好,占地面積小。此外,它們可以產生窄帶輸出,消除了對濾波器或衍射光柵的需要。紫外熒光法使用光學技術來分析樣品發出的熒光信號。應用包括生物分析和水測試。石油和其他碳氫化合物等毒素以及某些病原體具有紫外線熒光特征,使紫外線熒光測定法成為在線水質監測的理想技術。在這里,氘燈也正在被光纖耦合UV-A LED所取代,這種LED的工作波長為365nm。占地面積小,易于使用和堅固性使它們成為工業監視器和臺式實驗室儀器的實用替代品。高光輸出可以支持十億分之一的痕量檢測。NewD ...
息檢測,光纖光柵刻寫,半導體檢驗,拉曼光譜,光纖布拉格光柵等領域應用廣泛。266nm激光器產品特點:低噪聲TEM00單縱模窄線寬:<300kHz高功率:可達2W,可調可選長相干長度:1000米高光束質量:M2<1.3產品參數:功率 線寬 功率穩定性10mw<300KHz<2%25mw50mw1%100mw200mw300mw0.5%500mw1000mw266nm連續激光器產品應用:半導體晶片檢測紫外光譜紫外全息檢測光纖光柵刻寫半導體檢驗拉曼光譜光纖布拉格光柵如果您對266nm激光器產品有興趣,請訪問上海昊量光電的官方網頁:https://www.aunio ...
,并對其進行光柵掃描以形成光學圖像。突破衍射極限的SNOM分辨率取決于探頭尺寸和探頭表面距離,兩者都應遠小于光的波長。利用Kerr和Faraday效應,構建了許多不同配置的近場磁光成像系統,包括孔徑透射、孔徑反射和無孔徑soms。在大多數這些系統中,通過將光纖探頭彎曲到音叉的一只臂上來實現探頭表面距離控制,這種技術效果很好,但需要為每次探測做充分的準備。此外,高質量(Q)因子將掃描速度限制在相對較低的值。這些缺點給近場磁光成像實驗帶來了困難。圖1實驗布置示意圖如圖1所示。采用國產SNOM工作在反射模式下。探針表面距離調節是通過使用一個壓電雙晶片傳感器來實現的,該傳感器由兩個薄的壓電陶瓷層組成, ...
相比足夠小的光柵制成,或者由一特定偏振方向的光吸收材料組成,如果在光路中安裝起偏器,光線是否能透過起偏器就取決于光的振動方向。也就是說,光透過起偏器只有一個振動方向。這里,因為振動方向是直線的,所以稱為線性起偏器,振動方向的平面稱為偏振面。一般,用p偏振光和s偏振光來表達偏振態。當光入射于介質時,入射光方向與法線的夾角稱為入射角。振動方向在入射面內的叫的p偏振光,垂直于人射面的叫s偏振光。(2)偏振態偏振態有線偏振、圓偏振和橢圓偏振。上面提到,光波可以分解為xy軸電場振動矢量。然而,當光通過某一樣品時,其偏振態會改變,因為Ex和Ey分量會產生一個位相差,如下圖所示,1.2 光束通過樣品前后的位 ...
,從而可以在光柵掃描期間執行消光,這有助于進一步提高分辨率。在聲光偏轉器中,壓電換能器在材料中產生布拉格光柵。光闌只允許經過衍射的光束通過。由G&H提供。綜上所述,聲光和其他有源光子元件集成到顯微鏡中的zui新發展開始解決共聚焦和多光子顯微鏡技術的局限性,為生命科學研究開辟了新的機遇。在共聚焦顯微鏡中使用聲光偏轉器(AOD)已被發現是解決成像深度,分辨率和速度限制的有前途的解決方案。這可以顯著提高實時捕獲代謝過程和其他動態過程的能力,為生物體的內部工作提供新的見解。如果您對聲光偏轉器有興趣,請訪問上海昊量光電的官方網頁:http://www.arouy.cn/detail ...
等體積布拉格光柵(VBG)技術的激光線可調諧濾波器(LLTF-帶通濾波器)。IMA由高光譜成像濾光片超立方體組成,也基于VBG。當與配備暗場聚光鏡的研究級顯微鏡結合使用時,TLS和超立方體可以將該顯微鏡轉換為高光譜暗場設置。這些系統在可見光(400-1000nm)、NIR(900-1620)nm或兩者(400-1620nm)光譜范圍內連續可調諧。這種zui先jin的平臺允許對納米材料進行深入表征,而無需任何特殊的樣品制備。如果您對高光譜暗場顯微鏡感興趣,請訪問上海昊量光電官方網站:http://www.arouy.cn/details-1007.html相關文獻:[1] Pats ...
具、棱鏡衍射光柵和光學反射鏡組合系統的高頻窄帶準分子激光器。3.濾光片濾光片是光路中的重要組件之一,主要用來實現提取、增強、減弱特定光線或圖像以達到特殊要求的功能。(1)濾光片照相濾光片設計的目的是使透射率根據光的波長而發生改變。防紫外線濾光片、紅外線保護濾光片、顏色轉換濾光片、色彩補償濾光片、短波截止濾光片和光束衰減器都是典型的光學濾光片。這些濾光片的主要目的是消除不良光以獲取圖像或只允許所需波長通過。偏轉濾光片通過在某一特定方向偏轉光線,也可用于去除由某一個表面反射的光線,如水表面或玻璃表面。(2)空間頻率濾光片空間或空間頻率濾光片是一種提供給定的透射率分布的光學組件。它們常常用于圖像特征 ...
積Bragg光柵的高光譜濾光片組成。高光譜EL成像可以迅速而準確地識別4H-SiC中導致綠色熒光的缺陷類別。下面展示了RISFs在不同的電流注入時間內如何膨脹,以及綠色熒光中心如何沿部分位錯移動。這說明在SiC中不僅RISFs在載體注入下移動,而且諸如硼雜質等點缺陷也可以在這些條件下被誘導移動。在經過一段時間的設備運行并隨后在700℃的氮氣環境中進行退火以收縮RISFs(如圖1a所示)[1]之后,對SiCPIN二極管進行了EL成像[1]。隨著RISFs的擴張,從器件中收集到的EL從400nm到780nm,步長2nm,曝光時間為30s。使用IMA收集的單色圖像可以將不同類別的缺陷分離開來。如圖1 ...
的體積布拉格光柵(VBG)技術的激光線可調諧濾波器(LLTF-帶通濾波器)。IMA由同樣基于VBG的高光譜成像濾光片(超立方體)組成。當與配備暗場聚光鏡的研究級顯微鏡結合使用時,TLS和超立方體可以將該顯微鏡轉換為高光譜暗場設置。這些系統可在可見光(400-1000nm)、近紅外(900-1620nm)或兩者(400-1620nm)光譜范圍內連續調諧。這一套平臺能夠在無需繁瑣的樣品準備的情況下,深入研究納米材料的性質。一、使用TLS獲得的結果在Patskovsky等人[1]的這項研究中,使用高光譜暗場成像研究了靶向CD44+陽性人類乳腺癌細胞的金等離子體納米顆粒(AuNPs)。這套系統已成功用 ...
主要包含微型光柵和線陣CCD,可以同時得到多個波長處的光強值,可測光譜為300~1100nm。整個測量系統由Labview軟件編程實現自動化控制。一般情況下,入射光的斯托克斯參數、波片的方位角誤調和相位延遲隨波長變化。由于這些參數的不確定性,單一波長處的儀器矩陣定標可能無法比較和分析非線性zui小二乘擬合方法和傳統方法的差異。為了克服這一困難,實驗中利用斯托克斯橢偏儀中光纖光譜儀的優勢同時定標500~700nm波段的儀器矩陣。實驗中分別使用非線性zui小二乘擬合定標方法、四點定標法和E-P定標法測量了KD*P型橢偏儀的儀器矩陣X,測量結果如圖2所示。圖2 斯托克斯橢偏儀的儀器矩陣x定標結果通過 ...
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