光波導(dǎo)折射率測量單次測量光波導(dǎo)或者光子器件中的折射率由于光波導(dǎo)低損耗的特性，因此在光子設(shè)備和系統(tǒng)中被大量使用。光波導(dǎo)的折射率分布是決定插入損耗和傳播模式的關(guān)鍵參數(shù)。基于定量相位成像技術(shù)（QPI），Phascis的波前分析儀可以作為測量折射率變化的高精度計(jì)量儀器。準(zhǔn)確測量折射率變化，對于生產(chǎn)光子器件的開發(fā)、優(yōu)化和質(zhì)量監(jiān)控是必要的。作為一種非破壞性測量方法，QPI可提供精確的波導(dǎo)折射率分布。SID4成像系統(tǒng)適用于測量光纖或激光寫入波導(dǎo)。集成在光學(xué)顯微鏡Phascis定量相位成像（QPI）相機(jī)安裝在經(jīng)典明場顯微鏡上，并且無需修改顯微鏡。Phasics輸出的相位圖可以輕易的轉(zhuǎn)化為折射率，如下所示，OP ...

成的具有不同折射率的高純 SiO2。光棒成品的質(zhì)量及特性（如純度、強(qiáng)度、有效折射率、衰減程度）對光纖有重大影響。光纖預(yù)制棒由芯棒和包層組成，其芯棒有多種生產(chǎn)方式，主要原理是基于氣相沉積法，當(dāng)前普遍采用：改進(jìn)的化學(xué)氣相沉積法（MCVD）、軸向氣相沉積法（VAD）、棒外化學(xué)氣相沉積法（OVD）和等離子化學(xué)氣相沉積法（PCVD）四大主流工藝。光棒外部包層制造一般采用套管法（早期是 RIT，后來演進(jìn)為 RIC）和全合成法（OVD、VAD）。圖3.預(yù)制棒拉絲流程拉制：預(yù)制棒制備完畢后，需要對預(yù)制棒進(jìn)一步做拉絲處理。拉伸爐使預(yù)制棒在高溫下（2000~2200℃）熔融，在重力的作用下往下垂，并形成細(xì)絲，經(jīng)直 ...

個晶體方向的折射率，從而改變 有效波片的延遲。如圖 2 所示，一個簡單的幅度調(diào)制器的幾何結(jié)構(gòu)由一個偏振器、一個用于零延遲的電光晶體切割和一個分析器組成。輸入偏振器保證光束與晶體主軸成 45° 偏振。晶體充當(dāng)可變波片，隨著施加電壓的增加，將出射偏振從線偏振（從輸入旋轉(zhuǎn) 0°）變?yōu)閳A偏振、線偏振（旋轉(zhuǎn) 90°）、圓形等。分析儀僅透射已旋轉(zhuǎn)的出射偏振分量，從而分別產(chǎn)生 0、0.5、1 和 0.5 的總透射率。傳輸和應(yīng)用場之間的關(guān)系不是線性的，而是具有 sin2 依賴性。為了獲得線性幅度調(diào)制，這些調(diào)制器通常以 50% 的傳輸率進(jìn)行偏置，并且僅在施加的小電壓下工作。偏置調(diào)制器的兩種方法是一種，通過偏置三 ...

果一束光線在折射率為p的介質(zhì)中從軸上的一點(diǎn)出發(fā)，與軸成4角，并在折射率為p'的像空間中與軸成$'角，如果通過這個軸向物鏡點(diǎn)的所有光線都沒有像差，其中橫向倍率為G，那么相鄰的軸向點(diǎn)將沒有像差，當(dāng)且僅當(dāng)另一方面，阿貝正弦條件指出，在類似的情況下，橫向物體平面的鄰近點(diǎn)只有在符合下面條件的情況下才能成像而不產(chǎn)生像差總的來說，這些條件是相互矛盾的，它們表明，不管像差的順序如何，擺脫初級像差的條件是物體位置的必然函數(shù)。在早期的研究中，對于不同的物體位置，這些條件的變化已經(jīng)得到了詳細(xì)的研究;結(jié)果表明，除了指定物體的位置外，還必須指定停止的位置，這樣才有可能用任何其他位置的差來表示任何給定物體 ...

光學(xué)系統(tǒng)物方折射率和像方折射率不同時，節(jié)平面與主平面不再重合。位置關(guān)系由下式?jīng)Q定：關(guān)于昊量光電：昊量光電 您的光電超市！上海昊量光電設(shè)備有限公司致力于引進(jìn)國外先進(jìn)性與創(chuàng)新性的光電技術(shù)與可靠產(chǎn)品！與來自美國、歐洲、日本等眾多知名光電產(chǎn)品制造商建立了緊密的合作關(guān)系。代理品牌均處于相關(guān)領(lǐng)域的發(fā)展前沿，產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學(xué)測量設(shè)備、精密光學(xué)元件等，所涉足的領(lǐng)域涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學(xué)研究、國防及前沿的細(xì)分市場比如為量子光學(xué)、生物顯微、物聯(lián)傳感、精密加工、先進(jìn)激光制造等。我們的技術(shù)支持團(tuán)隊(duì)可以為國內(nèi)前沿科研與工業(yè)領(lǐng)域提供完整的設(shè)備安裝，培訓(xùn)，硬件開發(fā)，軟件開發(fā)，系統(tǒng)集成等優(yōu) ...

.玻璃基板的折射率是多少？答：在 500 nm 波長下，玻璃基板的折射率為 n=1.52。4.使用油浸物鏡工作時可能的Z高溫度是多少？答：我們結(jié)合高 NA 物鏡 (NA>1.4) 在油浸溫度高達(dá) 100 °C 的條件下測試了VAHEAT。不建議超過此溫度，因?yàn)槲镧R可能會損壞并且浸油會開始分解。五、智能基板1.如何清潔我的智能基板？答：您可以使用乙醇、異丙醇或丙酮等有機(jī)溶劑清潔智能基板。您也可以使用 pH 值中性的清潔劑（例如 Extran 或 Hellmanex）。智能基板可承受超聲波清洗和氧等離子體處理。請避免使用強(qiáng)酸或強(qiáng)堿。基材與清潔劑接觸的時間不應(yīng)超過 30 分鐘。2.可以清潔帶有 ...

直光束T0和折射率n已知。因?yàn)閷ξ招詾V光片來說，T0與波長有很大的線性關(guān)系，與入射角度有關(guān)的相對透射率Trel也與波長密切相關(guān)。1.4傳感器角度響應(yīng)取決于傳感器技術(shù)、傳感器類型、波長和微透鏡。通常它不是各向同性的。圖1:KAI-16070對單色光(未知波長)的角度線性靈敏度。參考:KAI-16070的 數(shù)據(jù)表圖2 CMX4000白光的角度線性靈敏度如這些示例所示，對于不同類型的傳感器，角度響應(yīng)可能完全不同。因?yàn)檫@種效應(yīng)還 取決于波長和單個傳感器(每個傳感器表現(xiàn)出稍微不同的行為)，取決于波長的校準(zhǔn)是必要的。兩個傳感器都顯示出各向異性。為了考慮校準(zhǔn)中的各向異性，需要比僅在x和y方向上更復(fù)雜的測量 ...

允許對具有弱折射率的結(jié)構(gòu)進(jìn)行成像，以及對相位結(jié)構(gòu)進(jìn)行定量測量。已證明的成像方式包括：螺旋相位成像、暗場成像、相位對比成像、微分干涉對比成像和擴(kuò)展景深成像。美國MeadowlarkOptics公司專注于模擬尋址純相位空間光調(diào)制器的設(shè)計(jì)、開發(fā)和制造，有40多年的歷史，該公司空間光調(diào)制器產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于自適應(yīng)光學(xué)，散射或渾濁介質(zhì)中的成像，雙光子/三光子顯微成像，光遺傳學(xué)，全息光鑷(HOT)，脈沖整形，光學(xué)加密，量子計(jì)算，光通信，湍流模擬等領(lǐng)域。其高分辨率、高刷新率、高填充因子的特點(diǎn)適用于PSF工程應(yīng)用中。圖1. Meadowlark 2022年最新推出1024 x 1024 1K刷新率SLM一、空間光 ...

水凝膠薄膜厚度測量MProbe VisHC系統(tǒng)提供強(qiáng)大且易于使用的解決方案，允許直接在產(chǎn)品上測量層。手動探頭MP-FLVis通過柔性光纖電纜連接到系統(tǒng)。探頭符合樣品的曲率，可以方便地進(jìn)行精確測量。它用于測量大于1英寸(25mm)的零件。較小的測點(diǎn)(<200μm)減小了后反射率的影響。MProbe VisHC軟件對HC膜采用厚膜算法，對防霧涂層采用曲線擬合算法。算法可以很容易地調(diào)整/訓(xùn)練，以測量甚至具挑戰(zhàn)性的樣本。測量過程是容易的，沒有經(jīng)驗(yàn)的操作員使用和理解。水凝膠薄膜有許多應(yīng)用。它是一種有趣的應(yīng)用是生物傳感器，其中水凝膠膜厚度的控制很重要，例如基于熒光的水凝膠傳感器。在其他傳感器中，例如 ...

像散校正光纖光譜儀-交叉車爾尼設(shè)計(jì)與展開式車爾尼設(shè)計(jì)什么是 ARIEL 光譜儀？散光校正光纖光譜儀使用展開的、固定/ 堅(jiān)固的Czerny-Turner 光具座，焦距為80 mm。探測器：2048 像素CMOS陣列。USB2.0和1Gb LAN通信接口。所有數(shù)據(jù)校正/ 調(diào)節(jié)均在固件中執(zhí)行。可見光(400nm-1000nm) 和UVVis (200- 1000nm) 波長范圍。為什么選擇 ARIEL 光譜儀？有多種批量生產(chǎn)的光纖光譜儀可供選擇。光譜儀可以被視為商品或關(guān)鍵組件，具體取決于應(yīng)用。在我們的系統(tǒng)中，光譜儀是一個關(guān)鍵組件——我們非常關(guān)心它的性能和穩(wěn)定性。在大規(guī)模生產(chǎn)的光譜儀中，需要進(jìn)行工程權(quán) ...