折射率引導型光子晶體光纖的結構類型與機理前言：光子晶體光纖（Photonic Crystal Fiber，PCF）的概念。與普通光纖是由包層與纖芯兩種介質組成向類比，光子晶體光纖通常是由單一介質構成的，其包層周期性地規則對稱分布著具有波長量級的空氣孔陣列，包層外為涂覆層。因此，也可以稱其為“多孔光纖”（HoleyFiber）或“微結構光纖”（MicrostructureFiber）。光纖的中心，即被空氣孔陣列包層包圍的纖芯部位，可以視為周期結構陣列中存在的“缺陷”。光子晶體光纖的微結構特性主要由三個參量決定，即空氣孔的直徑d，相鄰兩孔之間的距離Δ，以及纖芯的直徑D。光子晶體光纖的這種微結構特定 ...

軸經歷不同的折射率。雙折射也可以引入外部或殘余應力在大塊材料。在非常短的波長(即157 nm)， CaF2顯示應力誘導雙折射和更強的內稟雙折射(也稱為空間色散雙折射)。CaF2中的雙折射為高性能的印刷應用帶來了性能問題。雙折射的傳統測量方法是讓光束穿過放置在交叉偏振器之間的樣品。光強通常在樣品旋轉360°時檢測。雙折射的大小與較大信號(快軸與偏振器軸為45°)和較小信號(快軸與偏振器軸平行或垂直)的差值有關。該方法有測量時間長、精度低等缺點。每個采樣點都要旋轉一個樣品，這使得雙折射映射不切實際光彈性調制器(PEM)技術為交叉偏振器技術提供了更好的選擇。PEM在高頻率(名義上為50千赫)調制入射 ...

顯然，材料的折射率n可以通過測量反射率R來決定。實際情況下，折射率n隨波長變化（就是說，材料會發生色散）。但是因為已經知道很多波長的反射率，在這些波長下的折射率n就可以推算出來，如上面的公式所示。多層界面現在考慮涂在材料上的一層薄膜。這種情形下，薄膜的頂部和底部都會反射光。總反射光量是這兩部分反射光的疊加。因為光的波動性，這兩部分反射光可能干涉相長（強度相加）或干涉相消（強度相減)，這取決于它們的相位關系。而相位關系取決于這兩部分反射光的光程差，光程差又是由薄膜厚度，光學常數，和光波長決定的。當薄膜內光程等于光波長的整數倍時，兩組反射光相位相同，因而干涉相長。當光重直人射到透明薄膜時就是這種情 ...

膜厚測量原理（三）-通過光譜反射確定薄膜特性薄膜反射率的振幅和周期取決于薄膜厚度，光學常數，和界面粗糙度等其它特性。在多于一個界面的情況下，薄膜的光學特性不可能以解析解的形式來算出來，也不可能在每個波長下描述n和k值。實際應用中，一定波長范圍內的n和k由數學模型根據幾個可調節參數模擬得出。薄膜特性通過計算厚度實驗值及n與k模型參數的反射光譜來確定，不斷調整這些數據，直到計算反射率和測量反射率相匹配。n和K的建模有許多數學模型描述波長的函數n和k。為某種薄膜選擇模型時，在準確描述相關波長范圍n和k的情況下，變量越少越好。一般來講，不同材料（如：電介質，半導體，金屬和非金屬）的光學常數隨波長有很大 ...

膜厚測量原理（四）-膜厚測量的方法可變量的個數，光譜反射法的局限光譜反射法可以測量多種類型薄膜的厚度，粗糙度和光學常數。但是，如果只有不到一個周期的反射率振蕩（如：薄膜太薄），那么就不會產生足夠的信息來確定模型的可變量。這樣，對于非常薄的薄膜，可確定的薄膜特性的數量就會減少。如果試圖解決太多的變量，不可能找到唯①的解答；這種情況下待求變量的多種組合都可能使得反射率計算值與測量值匹配。取決于薄膜和測量的波長范圍，光譜反射法測量的單層薄膜的較小厚度為1納米到30納米。如果還要測量光學常數，除非使用較少變量模型，可測較小厚度增加為10納米到200納米。如果測量超過一層的薄膜的光學特性，較小厚度將進一 ...

鍵。傳統階躍折射率型單模光纖在其中心具有較高的折射率，包層材料具有較低的折射率，以便通過全內反射的機理傳輸光波電磁場，其導模的有效折射率介于芯層中心折射率和包層折射率之間。科學家們不斷地對光纖進行探索，經過不懈努力發現了光纖中新的導光機理，新型的空芯光纖不再局限于傳統的內反射原理，其光纖的纖芯折射率可以低于包層折射率，低折射率纖芯的光纖也可以傳輸光波電磁場科學家們發明并提出多種新型特種光纖，如微結構光纖，多空光纖，反諧振光纖等。這些新型的特種光纖不僅在長距離傳輸上有著良好的優勢，并且在生物傳感、氣體傳感等應用上有著很好的性能。圖1.光纖設計結構示意圖1999年，P.St.J.Russell在《 ...

表面粗糙度、折射率等參數的高精度測量。點衍射干涉儀不需要標準參考件，可以用于高精度面型的檢測，是一種非常重要的高精度測量儀器。1.1測試光路測試系統主要由D7點衍射干涉儀主機，準直器，5mm口徑鋁鏡，光學平臺等構成。1.2 測試環境溫度：21℃±1℃；濕度：30%-70%1.3 絕對精度檢測（Accuracy）絕對精度的檢測采用波前均方根差（wavefront RMS differential ，WRMSD）的計算方法，WRMSD是干涉儀穩定性和測量有效性的嚴格標準。它定義為所有測量波前差異的均方差加上2X均方差的測量集，并定義為所有測量波前的平均值的綜合參考。測試步驟：1）測試部分從0°開始 ...

加工和裝調；折射率的變化應能保證挑選到相應的玻璃等，稱為變量邊界條件。變量邊界條件除應考慮工藝條件和材料的可能性，還要考慮到程序處理的方便和不致引起收斂過程的波動。對于各類變量可作如下的限制：曲率半徑一般不需給以限制(因為自動設計中為了確保像差的良好校正，并不會導致半徑的極度變小）；透鏡的厚度應嚴格限制下限(可令d≥0.1D,D為透鏡口徑）,為了防止透鏡過厚，對上限也可適當提出限制；透鏡的空氣間隔只需限制下限；透鏡的折射率可限制在 1.48～1.85 范圍，并將其分段，以便能與色散或阿貝數相適應。第二類邊界條件是以結構參數為自變量的函數的邊界條件，是對結構參數函數的限制，包括正透鏡的邊緣厚度、 ...

;所在空間的折射率。相關文獻：《幾何光學 像差 光學設計》（第三版）——李曉彤 岑兆豐更多詳情請聯系昊量光電/歡迎直接聯系昊量光電關于昊量光電：上海昊量光電設備有限公司是光電產品專業代理商，產品包括各類激光器、光電調制器、光學測量設備、光學元件等，涉及應用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫療、科學研究、國防、量子光學、生物顯微、物聯傳感、激光制造等；可為客戶提供完整的設備安裝，培訓，硬件開發，軟件開發，系統集成等服務。您可以通過我們昊量光電的官方網站www.arouy.cn了解更多的產品信息，或直接來電咨詢4006-888-532。 ...

地測量厚度、折射率及消光系數。只要將Semiconsoft 系統插入您電腦的USB接口，就能開始測量。整個系統只需要幾分鐘來設定，只需要基本的電腦知識就能測量。這種簡單的硬件系統和直觀的軟件為所有新用戶提供了薄膜知識。從近紅外到紫外 系統能在波長200納米到1700納米 范圍內測量厚度從1納米到1.8毫米的薄膜。Semiconsoft 系統可測量幾乎所有常用材料做成的透光薄膜。容易操作的軟件用戶能很快地掌握Semiconsoft軟件熟悉而又友好的界面。測量一次大約一秒。測量數據，及測量細節能夠非常容易地通過標準Windows文件存盤和輸出。另外，公開的 NET 程序非常 容易地讓其他軟件來控制 ...