在第二代太陽能電池材料中，二硫化銅銦（CuInS2或CIS）是最有前途的材料之一。自上世紀90年代CuInS2就被太陽能電池領域的科研工作者，當時太陽能電池的效率已達到10%[1]。它具有較高的吸收系數、直接帶隙（1.52V）[2]和無毒性使其成為薄膜和量子點敏化太陽能電池的理想候選者。但是，似乎CIS太陽能電池的量子效率提升達到了瓶頸。為了不斷改進下一代CIS電池并打破這一限制，必須要清楚的理解制造工藝對太陽能電池性能的影響。 考慮到這一點，IRDEP（法國光伏能源研究院）的研究人員利用光致發光（PL）成像對多晶CuInS2太陽能電池進行了表征。高光譜顯微成像平臺（IMA Photon）可 ...

銅銦鎵硒（Cu(In,Ga)Se2 or CIGS）是薄膜太陽能電池的最佳候選者之一。CIGS在長期光照下除了穩定性高外還具有較高的吸光度和直接帶隙。目前一些科研小組已經將典型多晶CIGS設備量子效率超過20%，并且有較好的重復性。但是這種效率依舊低于Shockley-Queisser的理論計算值。這在一定程度上歸因于由于多晶性質引起的太陽能電池的不均一性，這也使材料性能和整體性能的關系模糊。為了量化形態對太陽能電池量子效率的影響，研究不同性質在空間上的變化將變的至關重要。 考慮到這一點，IRDEP（法國光伏能源研究院）的研究人員對CIGS微型太陽能電池（直徑為35μm）進行了光致發光P ...

分布：△ 表面缺陷△ 晶界△ 相分離△ 無序化這種有效的方法可以深入表征鈣鈦礦微觀結構，并將有助于理解這些材料中的降解現象，并使他們更接近于商業化。上海昊量光電設備有限公司作為Photon 公司在國內的獨家代理，該產品主要特點如下：1）激發光源均勻分布整視野，作用于樣品表面激光功率密度較低，同時避免了由于局部照明造成的載流子復合即使在較低功率下可獲得高信噪比圖像。2）整視野面成像，采用光譜掃描，成像速度快，150x150μm2成像范圍僅需8分鐘。3）可做絕對校準，獲得光譜絕對強度，獲取器件光電特性如EQE,Voc等4）可選擇不同波長的激光作為激發光源5）集熒光成像、電致發光、光致發光、透射率、 ...

例如：光纖端面缺陷，機械配合精度，光纖幾何特性與波導特性差異等。二、光纖連接損耗的類型1.光纖類型不匹配導致的連接損耗。經驗與數據統計表明，若兩端光纖的類型不匹配，例如光從芯徑? 62.5 um的漸變多模光纖傳向芯徑為 ? 50 um 的漸變多模光纖，將會有2 dB的損耗，即損失約36%的光功率。若從芯徑? 62.5 um的漸變光纖傳向芯徑為? 9 um的單模光纖，將有約17 dB 損耗，即損失約98%的光功率。2.光纖幾何特性與波導差異導致的連接損耗。比較重要的特性差異因素有兩類，即纖芯直徑差異與數值孔徑差異。（1）纖芯直徑差異對連接損耗的影響。若兩段光纖纖芯直徑不同，在光纖軸線精確對準的條 ...

aN可以控制面缺陷的形成。圖2. MoS2疇左邊的光譜圖像和右邊的相關角度分析點圖在基底（a）SiO2，（b）Al2O3和（c）GaN上；左邊圖譜的出去譜圖顯示了疇方向的參考，右邊顯示了單個MoS2疇的相關方向相關文獻：Woanseo Park, Hyung Joon Kim, etc. Domain Aligned Growth of Molybdenum Disulfide on Various Substrates by Chemical Vapor Deposition[J]. Science of Advanced Materials, 2016, 8: 1683-1687.您可以通 ...

AFM測量表面缺陷，和使用SID4相位成像相機一次測量成型的結果對比。SID4 與 光學輪廓測量儀 對比使用SID4 HR定量測量，以及白光光學輪廓儀測量結果的對比。兩個報告中，第一個側重于輪廓，第二個側重于深度測量。測量結果Phasics是一家專門從事相位測量的法國公司。Phasics向其客戶提供全系列的產品，所有這些都是基于獨特的技術，即四波側向剪切干涉技術。Phasics公司的專長在于對這項技術的深刻理解，以及將其應用于從激光和光學計量到生物樣品成像等多個領域的能力。對于每一個領域，Phasics都提供了專門的硬件和軟件的解決方案。在生物學方面，Phasics提供了SID4Bio，這是一 ...

外部特征、表面缺陷及污斑情況，光譜數據用于分析物體內部結構及成分。 Specim高光譜相機采用線陣推掃的成像方式，通過相機和被拍攝物體之間有相對運動，獲取目標區域的所有樣本的圖像數據和光譜信息數據。在地面端，大多是采用相機固定而讓被測物體移動，如圖1；也可以采用被測物處于靜止固定狀態，而相機通過電機控制運動，如圖2；若是結合無人機上的應用，則把相機掛載在無人機上移動而物體本身不動。這里我們采用固定相機，而把物體放在位移臺上進行拍攝（可以是傳送帶或者其他移動裝置）。---圖1------圖2---3. 實驗過程3.1 準備樣品，未檢測的樣品如下。蒂頭、樹葉、陳皮、創可貼、煙頭等。3.2 設備及 ...

粗糙程度、表面缺陷等等。偏振光分為完全偏振光和部分偏振光，其中完全偏振光又分為圓偏振光和線偏振光。圖1中給出了無偏振的自然光與線偏振光的區別：燈泡發出的光具有任意的振動方向，因此是無偏振的，當它穿透偏振濾光片時，只有沿著某一個特定振動方向傳播的光可以通過，其他振動方向的光要么被吸收，要么被反射，此時透射光成為了完全的線偏振光。當意識到偏振光的重要性，人們為了像復眼昆蟲一樣也能夠看到偏振光，便研發了專門用于偏振成像的設備，我們稱之為偏振相機。圖1.無偏振的自然光，經過偏振片以后變為線偏振光1852年，斯托克斯(Stokes)提出用四個參量來描述光波的強度和偏振態。它們分別是：S0 、S1 、S2 ...

外部特征、表面缺陷及污斑情況，光譜數據用于分析物體內部結構及成分。通過原理一般分為以下幾類高光譜成像儀：一光柵分光，通過光柵將光譜展開，然后線陣推掃成像，比如Specim高光譜相機，覆蓋各種波長和領域；二可調諧濾波器分光，此原理相機不需要外置推掃或移動裝置，面陣成像，光譜掃描，比如Hinalea凝視型高光譜相機；三芯片鍍膜型高光譜相機，采用高靈敏ccd芯片及cmos芯片研制了一種新的高光譜成像技術，在探測器的像元上分別鍍不同波段的濾波膜實現高光譜成像，比如XIMEA和IMEC。除此此外還有比如內置推掃高光譜相機，芯片推掃高光譜相機等都屬于上述三大類當中。Specim高光譜相機原理采用的是面陣探 ...

時檢測樣品表面缺陷和污染。2019 年日本東北大學采用三步相移橢偏成像技術，以橢偏測量術結合時間相移圖像處理單元進行相移成像橢偏測量。與光度法相比，該技術通過四分之一波片（QWP）和旋轉線性偏振片（RLP）插入相移，根據旋轉線性偏振片的方位角進行連續采集，在恒定旋轉速度下，選擇具有相等角度間隔的三個角度，在恒定時間內得到三幅圖，用于測量納米材料厚度，結構如下圖所示。三步相移成像橢偏儀結構示意圖其中，使用QWP和RLP插入相移。由于相移圖像是根據RLP的方位角連續采集的，所以這種方法屬于時間相移技術。由于具有公共光路，時間相移技術相比空間相移技術具有更高的精度。如果您對橢偏儀相關產品有興趣，請訪 ...