顯微鏡，微分干涉檢測（Differential interference contrast DIC），以及今天我們要說的熒光觀察（Fluorescence Microscope）要介紹熒光顯微鏡，我們需要先簡單介紹一下熒光原理：在光的照射下，具有熒光特性的物質(zhì)的電子在吸收能量后，可由低能級電子層躍遷到高能級電子層。高能態(tài)的電子是不穩(wěn)定的，它會在極短的時間內(nèi)（10-8s），以輻射光的形式釋放能量后，回到原來的能態(tài)。這時發(fā)出的光即為熒光（fluorescence），其波長比激發(fā)光的波長要長，原理如圖2-6所示。利用物質(zhì)對光吸收的高度選擇性，可制成各種濾片，吸收一定波長范圍的光或允許特定波長的光通過 ...

的反射光強(qiáng)度干涉為零其他波長反射光強(qiáng)度也有所減少，極大地減少反射損失。 ...

-to-2f干涉儀，生成一個信噪比大于30dB、分辨率~300 kHz f0信號。圖1：載波包絡(luò)零頻f0與fbeat探測；插圖：倍頻程光譜~970-2200nm圖2a顯示對fbeat進(jìn)行測量的實驗結(jié)果，可以得到自由運(yùn)轉(zhuǎn)下fbeat相位噪聲為22.4 rad (100Hz~10MHz，時間抖動18.5fs)。這種測量受限于CW激光器> 50 kHz偏移頻率,但足以看出1 GHz激光器的低噪聲特性。將fbea信號穩(wěn)定到一個主參考射頻發(fā)生器使用數(shù)字鑒相器產(chǎn)生誤差信號，首先將該誤差信號反饋到泵浦電流上，得到殘余相位噪聲為190 mrad [100 Hz~ 10 MHz](即160 as)，該伺服 ...

定的點(diǎn)上發(fā)生干涉效應(yīng)，最后使得控制點(diǎn)的光強(qiáng)值達(dá)到最大。這樣就完成了對散射介質(zhì)前面點(diǎn)光源的成像。 2012年，國外的課題組利用波前矯正技術(shù)成功的實現(xiàn)了清晰的散射介質(zhì)成像。先將待測物體替換成點(diǎn)光源，利用空間光調(diào)制器對點(diǎn)光源的波前進(jìn)行校正，使散射光場能恢復(fù)點(diǎn)光源的像，獲得所需要的波前校正相位陣列，接著換回待測物體。利用由于光學(xué)記憶效應(yīng)，得到了待測物體的清晰成像。6、渾濁透鏡成像技術(shù) 光波通過散射介質(zhì)后，原來的光波序列被打亂，但是大部分信息并沒有丟失。光波經(jīng)過散射介質(zhì)的散射作用后高頻信息可以被采集，光波經(jīng)過散射介質(zhì)后系統(tǒng)的橫向分辨率得到提高。原本成像于CCD靶面之外的物點(diǎn)也因散射介質(zhì)的散射作用的被CC ...

光束直接激光干涉（Direct Laser Interference Patterning，DLIP）光致表面周期結(jié)構(gòu)（Laser Induced PeriodicSurface Structures，LIPSS）技術(shù)，在AISI326L鋼上，可單次成形數(shù)千加工點(diǎn)，達(dá)到了203200微坑/秒的加工速度。實驗中使用的光源為Hilase Perla B型激光器，在《Optics & Laser Technology》上發(fā)表了題為《Towards rapid large-scaleLIPSS fabrication by 4-beam ps DLIP》的論文。在以往的激光周期性結(jié)構(gòu)加工的過程 ...

描法布里珀羅干涉儀自動調(diào)整以恢復(fù)單模工作?？蛇x波長：在某些二極管沒有覆蓋的必須采用SHG系統(tǒng)才能得到的波長，MOGLabs注入鎖定放大系統(tǒng)具有非常大的吸引力。例如461nm（1W）用于鍶原子鐘；399nm (400mW) 用于鐿原子鐘；405nm (500mW) 用于全息；509nm用于銫里德堡激發(fā)和電離；435nm和445nm用于工業(yè)應(yīng)用；其他包括一些SHG系統(tǒng)不是很穩(wěn)定的波長如657、689和698nm。如果您對此感興趣，請聯(lián)系我們。 ...

測速以及外差干涉檢測方面也有著許多的應(yīng)用。 ...

厚度值。光譜干涉圖，通過鏡面反射的方式測量得到的，可以轉(zhuǎn)化為厚度圖。光譜干涉圖通過matlab軟件轉(zhuǎn)化成厚度圖。使用SpecimFX17高光譜相機(jī)測得的平均厚度值為18.4um，20.05um，21.7um，和23.9um. 標(biāo)準(zhǔn)偏差分別為0.12，0.076，0.34，和0.183um。當(dāng)測試薄膜的時候，并沒有拉伸薄膜，這也剛好能解釋為什么測試值輕微的超過標(biāo)稱值了。另外，瑕疵點(diǎn)也被檢測到了。 在薄膜1中，我們檢測到了2個比較薄的片區(qū)， 這也許是外部壓力造成的。高光譜成像相較于光譜學(xué)，能顯著提高薄膜效率和涂層質(zhì)量控制系統(tǒng)。因為高光譜相機(jī)（例如Specim FX17）每秒鐘能獲取上千條線掃描數(shù)據(jù) ...

域法橫向剪切干涉儀相比于哈特曼，他將前面的微透鏡整列修改為0和pi的相位板。回復(fù)的相位能通常分辨率更高。波前控制器變形鏡連續(xù)型變形鏡Alpao公司提供薄膜型的，連續(xù)表面變形鏡，每個驅(qū)動利用電磁的方式控制運(yùn)動。變形鏡分立式變形鏡鏡面不在是連續(xù)的，有單獨(dú)的小鏡面組，每個單獨(dú)的鏡面可以做上下運(yùn)動，有些公司單獨(dú)鏡面可以做傾斜。但是相對于連續(xù)的鏡面，分立式會有衍射光產(chǎn)生，效率偏低。液晶空間光調(diào)制器液晶空降光調(diào)制器，對于入射光需要線偏振光束。而且由于是像素組成的，同樣也存在著衍射的現(xiàn)象。最后液晶相位延遲是與波長有關(guān)的器件。反饋控制有模型的反饋使用哈特曼傳感器測量得到的波前信息，將相位按照不同模式展開，展開 ...

，熱紅外V形干涉光譜儀）。該光譜儀是2016年3月發(fā)射的環(huán)火星探測器中，大氣化學(xué)套件（ACS）中的重要器件。除此之外，PLX中空回射器陣列也被大量應(yīng)用在地球大氣檢控，地球形態(tài)測繪衛(wèi)星，或者太空實驗室中。商用：商用領(lǐng)域是PLX中空回射器的很大市場。比如球形基座的中空回射器被廣泛應(yīng)用在激光追蹤系統(tǒng)上；大尺寸無邊框中空回射器陣列在長基線測量設(shè)備中也被廣泛采用。除此之外，各種一體化光學(xué)模組，也被使用在光譜分析儀中。PLX自準(zhǔn)直儀和準(zhǔn)直徑也由于PLX中空回射器的高精度，具備相對更好的性能。選擇PLX中空回射器如果您對PLX中空回射器有興趣，請訪問上海昊量光電的官方網(wǎng)頁：https://www.aunio ...