反射-近紅外反射光譜。鹵素光源為土壤樣品提供一致的照明，接觸式探頭附件以56°的視角測量反射率。將每個樣品放入三個培養皿中（每個培養皿的深度為2厘米，直徑為5厘米）。用刮刀將培養皿中的土壤輕輕地調平，形成光滑的土壤表面，從而保證了較大的光譜信噪比。在光譜采集之前和期間，儀器由100%陶瓷參考面板手動校準。每個土壤樣品獲得30個光譜，并將其平均成一個光譜，用于進一步的數據分析。獲得原始反射光譜，然后轉換為吸光度單位（log10（1 / R），其中R代表反射率數據）。MIR光譜收集在4000-650 cm–1光譜范圍，光譜分辨率和采樣間隔為 4 cm–1和 2 cm–1。在對每個樣品進行光譜掃描之 ...

k模型參數的反射光譜來確定，不斷調整這些數據，直到計算反射率和測量反射率相匹配。n和K的建模有許多數學模型描述波長的函數n和k。為某種薄膜選擇模型時，在準確描述相關波長范圍n和k的情況下，變量越少越好。一般來講，不同材料（如：電介質，半導體，金屬和非金屬）的光學常數隨波長有很大的不同，需要不同的模型來描述。電介質 (K=0）模型通常有三個變量，而非電介質有五個或更多的變量。下面的例子，是兩層薄膜結構的模型，共考慮了18個可變量。柯西：擬合參數：A,B,C（共3個）無定形半導體：擬合參數：（共5，9或13個）晶狀半導體：擬合參數：（共4，7或10個）如果您對膜厚測量有興趣，請訪問上海昊量光電的官 ...

750) 的反射光譜。橢圓偏光法對非常薄的薄膜更敏感，兩種不同的偏振測量提供雙倍信息用于分析。此外，橢圓偏光法可進行多種不同入射角度的反射光譜測量，因而產生更多分析信息。而由昊量光電代理膜厚測量儀可提供的光譜反射系統。如果您不確定光譜反射法還是橢圓偏光法更適合您的需要，請與我們聯系。如果光譜反射法不能滿足您的要求，我們將非常高興地為您引薦梢圓偏光法的有名廠商。如果您對膜厚測量有興趣，請訪問上海昊量光電的官方網頁：http://www.arouy.cn/three-level-56.html更多詳情請聯系昊量光電/歡迎直接聯系昊量光電關于昊量光電：上海昊量光電設備有限公司是光電產品 ...

測量和計算的反射光譜都被顯示出來，這樣很容易判斷測量的完整性。測量的n和k曲線也可以。半導體制程薄膜實驗室研究/制程Semiconsoft測量系統通常用于測量氧化物，氮化物，光阻，及其它半導體制程薄膜的厚度，粗糙度，和光學常數。除了單層薄膜應用，許多兩層和三層膜也可以測量。例如，SOI應用中的硅基上的多晶硅/二氧化硅薄膜。下邊的屏幕顯示一個典型建模結構的 測量結果。在線測量靈活的光學探頭裝置使在線厚度測量成為可能。需要的只是光纖接入以便測量垂直入射光反射率。請與我們聯系以便了解更詳細的與您的設各相接的信息。光學鍍膜防刮傷和/或減反涂層是薄膜在很多工業中的應用。汽車塑料，鏡片和很多塑料包裝都使用 ...

光學方法，如反射光譜法和橢偏法。在某些情況下，例如當薄膜生長在透明的襯底上時，這些光學技術可能具有挑戰性，不能提供準確的結果。藍寶石上硅(SOS)薄膜就是一個例子。對于原子薄的二維(2D)材料，原子力顯微鏡(AFM)是常用的厚度測量方法，然而，AFM是耗時的，并且只能給出不同位置之間的相對厚度差異。光學對比也是表征多層二維材料(如石墨烯3、4和過渡金屬二鹵化物(TMDs))層數的強大工具。然而，光學對比方法僅限于極少數(<10?15)層。拉曼光譜是一種基于光在材料振動模式下的非彈性散射的光學光譜技術，常用于表征薄膜和原子層材料拉曼光譜在物理化學中用于指紋材料，探測結構和結晶度，非接觸式溫 ...

分為了檢測漫反射光譜，該儀器采用德國INSION公司的微型近紅外光譜儀NIR1.7，其測量范圍為 900 nm~ 1700 nm，像素分辨率為 8 nm（光學分辨率16nm）。 該光譜儀基于InGaAs陣列探測器（128像元）和預集成讀出電子器件，在精度、靈敏度和信噪比 (SNR) 方面提供高性能。 光譜儀的所有參數都可以由用戶設置和優化，以滿足不同應用的具體要求。NIR1.7 OEM模塊包括基于16位分辨率的模數轉換器的讀出電子器件 (BIM-NIRP)。 光譜分析通過空腔波導設計進行，無任何移動部件，出廠后無需再校準。如圖 3 所示，光通過光纖耦合到光譜儀，直至光譜儀入口狹縫。圖3.Ins ...

技術，通過將反射光譜或透射光譜與已建立的光譜特征相匹配，來識別和定量樣品中的各種化學成分。該技術用途廣泛，應用于工業、生命科學、醫療和科學等一系列市場領域。近紅外光譜(NIRS)用于食品和飲料生產、制藥制造和聚合物合成等行業的原材料和zui終產品的質量控制和無損檢測。該技術支持從驗收測試到過程控制的所有內容的快速、無損分析。正在開發的小型近紅外光譜裝置將使消費者能夠監測食物中的成分，在超市檢查食物的新鮮度，并驗證藥物質量。功能近紅外光譜(fNIRS)利用近紅外光(650-1000 nm)對組織氧合進行無創、連續監測。這項技術zui初是為了檢測大腦中的血紅蛋白變化來評估氧飽和度而開發的。顱骨阻擋 ...

涂覆PCB的反射光譜圖2 PCB測量區圖3 測量結果:18.4μm涂層和0.6μm界面層圖4 PCB上的測量區域(硅區域灰色方形)圖5 測量結果(面積圖4):層厚18.6μm，界面層厚0.7μm例2:測量PCBA上的疏水涂層圖6 測量位置圖7 測量點(圖6)在20倍放大圖8 模型與測量數據的擬合測量結果:層厚535 nm如果您對膜厚測量儀感興趣，請訪問上海昊量光電官方網站：http://www.arouy.cn/three-level-56.html更多詳情請聯系昊量光電/歡迎直接聯系昊量光電關于昊量光電：上海昊量光電設備有限公司是光電產品專業代理商，產品包括各類激光器、光電調制 ...

表面粗糙度對反射光譜影響的模擬（圖1）表明，對于RMS>100nm，干涉圖樣顯著退化。在這些條件下測量厚度變得具有挑戰性。圖1 不同表面粗糙度的5um聚合物薄膜的反射光譜(700nm-1700nm)（模擬）。對于光散射，有一個特征，即在較短波長下加速退化（強度和干涉）表面粗糙度會導致光散射增加。這導致鏡面反射率降低和干擾減弱。編織長度越短，光散射越明顯。因此，長可見光和近紅外(NIR)波長范圍(700-1700nm)更適合表面粗糙度的應用。表面粗糙度對反射光譜影響的模擬（圖1）表明，對于RMS>100nm，干涉圖樣顯著退化。在這些條件下測量厚度變得具有挑戰性。圖2 粗糙度為0.5u ...

的半透明性。反射光譜：鋼板上的薄（~150nm）丙烯酸涂層測量汽水罐上的丙烯酸涂 層（約 1um 厚度）為什么使用MProbe Vis？1.快速可靠的測量2.經濟型系統，具有持久光源（使用壽命10000 小時）3.用戶友好且強大的軟件4.400nm -1000nm 波長范圍zui適合這些測量MPROBE VIS：測量鋼板上的薄丙烯酸涂層基本規格：波長范圍：400-1000nm波長分辨率：<2 nm精度：<0.01nm或0.01%精度：<1nm或0.2%測量：< 100ms（典型值，取決于樣品反射率）光斑尺寸：1mm帶聚焦透鏡和微調或定制探頭的通用樣品臺了解更多膜厚測量儀 ...