項測量結果。反射光譜中干涉條紋的幅度約為0.1%，并且非常清晰：薄膜疊層模型與測量數據相符，并且可以準確確定厚度/n&k。圖1 低光學對比度測量–基材上的涂層，折射率差異<0.1反射條紋p-p幅度~0.1%。模型根據數據進行擬合，厚度/n&k被準確確定。為了進行比較，許多流行的可見光譜儀中使用的SonyILX和Toshiba1304探測器的DNR約為1000。使用這些探測器之一進行圖1中的測量會更加困難。另一方面，像S10420這樣的高質量CCD探測器的DNR約為40K至50K，并且可以準確測量0.01%的反射率。實際上，需要對固定模式噪聲進行非常精確的校準才能測量低信號 ...

線性和偏移，反射光譜受到限制且失真。Ariel光譜儀具有暗信號/偏移自動校正功能，無需額外步驟即可提供正確的光譜測量。波長分辨率根據所需的厚度范圍選擇波長分辨率。高分辨率允許在較厚的薄膜上進行測量，但需要更窄的波長范圍。但較窄的波長范圍限制了可測量的min厚度。為了max定波長范圍的波長分辨率，需要min化像差并優化狹縫寬度。Vis系統的波長范圍為~400-1000nm（600nm范圍），UVVis為200-1000nm（800nm范圍）。對于2048像素的探測器，我們的像素分辨率約為0.3-0.4nm。RMS斑點（畸變）為~10um。這意味著使用20um的唾液，我們可以實現<1nm的分 ...

上透明聚酯的反射光譜（可見光范圍）鋼上白色聚酯的反射光譜（近紅外范圍）眾所周知，聚酯薄膜的厚度很難使用光學非破壞性方法進行測量。主要原因是涂層的質地和微觀不均勻性。如果是不透明的高散射涂層，NIR范圍（MProbeNIR-MSP波長900-1700nm）需要與小光斑一起使用。MProbeMSP系統允許在小點進行本地化測量。對測量數據進行高ji數據分析可減少由于紋理造成的測量偽影的影響，并允許提取厚度數據。為什么要使用MProbeMSP系統？由于聚酯涂層的不均勻/紋理，需要使用小點（~40至20μm）來定位測量。如果是高散射涂層–需要使用NIR波長范圍MPROBEVIS-MSP：鋼板上透明聚酯涂 ...

捕獲目標表面反射光譜的高光譜圖像(即超立方體)。分析這些超立方體的光譜特征，以表明感興趣的化學物質的存在。該技術的一個非常重要的應用是痕量爆炸物的探測。圖1MIR HSI方法涉及使用外腔量子級聯(ec - qcl)進行激光照明。圖1顯示了測量裝置的照片，其中樣品在近距離(8厘米的距離)測量，以實現70 um的高空間分辨率。使用兩個Block的Mini-QCLTM ec - qcl在波長范圍為7.7 - 11.8 um的范圍內捕獲了一個256波長的復合超立方體。激光束在目標上進行光柵掃描以捕獲(8.8 mm)2的圖像區域。黑色鍵盤按鍵上的PETN樣品由海軍研究實驗室提供。利用干轉移技術，PETN ...

區和污染區的反射光譜清晰地顯示了硅酮在1025、1075和1260 cm-1處的吸收峰。對于較大表面的測量，該系統具有集成的基于振鏡的兩軸掃描鏡系統(掃描儀)，以光柵掃描整個表面的激光照明。圖4以圖形方式描述了這一點。柵格掃描也允許人們選擇更小的光束尺寸(從而更高的平均影響)，代價是更長的總捕獲時間。使用干轉移技術將固體粉末的痕跡應用于各種室外表面。表面包括石頭屋面瓦、混凝土、瀝青和沙子。圖5顯示了100 ug咖啡因在屋面瓦上的測量結果，測量距離為0.4 m。對于這些測量，使用了兩個ec - qcl來獲取跨越850 - 1300 cm-1波數范圍的超立方體。用底物的反射率對測得的反射率進行歸一 ...

11 測量的反射光譜(放大部分如圖所示)。反射率約0.3%的振蕩/條紋表明存在PR。由于散射，振幅很小。圖12 印制板上PR的測量。峰表示PR的厚度(45.54um)，盡管光譜中的特征很弱，但峰十分清晰。了解更多詳情，請訪問上海昊量光電的官方網頁：http://www.arouy.cn/three-level-56.html更多詳情請聯系昊量光電/歡迎直接聯系昊量光電關于昊量光電：上海昊量光電設備有限公司是光電產品專業代理商，產品包括各類激光器、光電調制器、光學測量設備、光學元件等，涉及應用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫療、科學研究、國防、量子光學、生物顯微、物聯傳感、激光制造等 ...

在拼接鋁上的反射光譜。圖3 采用厚膜算法測量(12.7 μm)的結果-假設對二甲苯X折射率由于我們不知道我們使用的折射率是否正確，我們需要驗證模型與測量數據的擬合。這將使我們能夠更準確地確定折射率和厚度。為了測量涂層，我們首先需要測量未涂層的鋁，以確定聚對二甲苯涂層下的膜堆。測量結果如圖4所示。我們從這個測量中得到了幾個信息:a).有一層氧化鋁層(≈72 nm)b).表面粗糙度為≈30 nmc).該鋁樣品的反射率為標準拋光鋁的約40%。所有這些信息都包含在模型中，以達到良好的擬合，并將用于我們的zui終模型的聚二甲苯堆棧。圖4 該模型與未涂覆鋁的測量結果吻合良好為了檢查我們使用厚膜算法對聚對二 ...

蓋:實測原始反射光譜圖1b 保險杠蓋:測量結果。確定底漆和硬涂層的厚度二、硬涂層:大燈罩圖2a 帶硬涂層的透明大燈:原始反射光譜測量。圖2b 硬膜透明前照燈測量結果。硬涂層厚度- 9.86um;底漆厚度- 1.06um(第1個峰對應硬漆層;第二個峰對應于硬漆+底漆的總厚度)三、硬漆:尾燈(紅色)罩圖3a 硬涂層尾燈(紋理表面):反射光譜測量圖3b硬膜紅色大燈的測量結果。硬漆厚度- 8.7um，底漆厚度- 1.4um四、防霧涂層測量防霧涂層直接沉積在表面，不需要底漆，而不是硬涂層。結果顯示出一個非常薄的界面層。測量這一層以確認涂層的良好附著力通常是很重要的。圖4 模型與實測數據的擬合:防霧涂層3 ...

不同點測得的反射光譜圖2 測量結果的實例厚度是通過將硅化層模型擬合到測量數據來確定的圖3 測量結果示例(薄層)。厚度是通過將硅化層模型擬合到測量數據來確定的圖4 測量結果示例(厚層)。厚度是通過將硅化層模型擬合到測量數據來確定的圖5 測量了沿注射器筒的硅層厚度分布圖6 測量硅化層厚度分布-測量旋轉注射器圖7 測量未涂覆(上二)和涂覆/硅化(下三)3ml注射器桶的反射光譜。涂層為~150nm圖8 注射器筒上硅化層厚度測量結果。模型與實測數據的擬合硅化瓶與注射器類似，玻璃小瓶內部是硅化的，以防止藥物與玻璃中的摻雜劑/污染物發生反應。這種涂層的厚度通常比注射器薄。圖9 標有測量點的小瓶表1 測量結果 ...

球囊壁的原始反射光譜由上圖3可見光譜中的干涉條紋表明在兩種情況下信號都良好。了解更多詳情，請訪問上海昊量光電的官方網頁：http://www.arouy.cn/three-level-56.html 更多詳情請聯系昊量光電/歡迎直接聯系昊量光電關于昊量光電：上海昊量光電設備有限公司是光電產品專業代理商，產品包括各類激光器、光電調制器、光學測量設備、光學元件等，涉及應用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫療、科學研究、國防、量子光學、生物顯微、物聯傳感、激光制造等；可為客戶提供完整的設備安裝，培訓，硬件開發，軟件開發，系統集成等服務。您可以通過我們昊量光電的官方網站www.auniont ...