中文：物鏡；英文：objective lens

延伸閱讀

克爾顯微鏡使用中的法拉第干擾效應

光學元件，如物鏡，可以在磁場存在的情況下引起法拉第旋轉，這種旋轉會疊加在由樣品磁性引起的任何光旋轉上。如果您對磁學測量有興趣，請訪問上海昊量光電的官方網頁：http://www.arouy.cn/three-level-150.html更多詳情請聯系昊量光電/歡迎直接聯系昊量光電關于昊量光電：上海昊量光電設備有限公司是光電產品專業代理商，產品包括各類激光器、光電調制器、光學測量設備、光學元件等，涉及應用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫療、科學研究、國防、量子光學、生物顯微、物聯傳感、激光制造等；可為客戶提供完整的設備安裝，培訓，硬件開發，軟件開發，系統集成等服務。您可以通過我們昊量 ...
雙遠心全景克爾顯微鏡的優勢

實現的。由于物鏡的傾斜，只有一小片樣品被聚焦，該區域由光學系統的景深確定。磁性試樣的過焦和過焦可以通過使物鏡遠離照明軸傾斜從而在相機傳感器處獲得聚焦圖像的方式來克服。因此，所得到的樣品圖像，然后由于本質上不同的放大系數在顯微鏡的視野扭曲。這一問題可以通過實時成像處理來糾正圖像透視失真來消除。通過使用遠心鏡頭和Scheimpflug相機支架，可以實現整個視場的恒定放大率和恒定焦距。一個優化的遠心克爾顯微鏡系統的原理草圖如圖1a所示。即使在觀測軸強烈傾斜的情況下，也能獲得零畸變磁圖像。得到的域圖像仍然被垂直于光入射平面的壓縮，并且需要進行線性運算以獲得均衡的圖像映射。典型的應用來自磁電復合懸臂式傳 ...
不同磁疇成像技術的優缺點

由于顯微鏡的物鏡必須放置在離樣品表面非常近的地方(高倍率透鏡的距離在幾百微米之間，低倍率物鏡的距離在幾毫米之間)，施加的磁場可能會誘發寄生法拉第效應，這種效應疊加在由樣品磁性引起的任何光旋轉上[見圖1(b)]。這種效應對于沿物鏡軸施加的磁場是重要的，但是從樣品中出現的不均勻的面內場或雜散場也可能在透鏡中產生法拉第旋轉這樣的貢獻可能會降低域圖像的質量，導致對實驗數據的誤解，或給矢量克爾顯微鏡帶來實質性的錯誤。法拉第效應zui嚴重的影響發生在克爾顯微鏡中，通過繪制圖像的整個或局部選定區域的強度作為磁場的函數(MOKE磁強計)來測量MOKE磁化回路。高度扭曲的循環可能會出現，如下面的各種例子所示。基 ...
光束勻化在熒光成像平場照明中的應用

激波長反射到物鏡，物鏡將光束集中到標本上。從標本反射的光集中在物鏡中，在其激發態通常具有比入射光更高的波長。通過二向色鏡，反射光通過發射濾光片并降低到發射波長。尚未在二向色鏡處停止的刺激光的殘留物在發射濾光片處被過濾掉。理想情況下，只有發射光撞擊顯微鏡內置的檢測器，并以相應的顏色可見。好的測量結果需要均勻的照明，尤其是當需要幾微米或幾毫米的大視野時。在不均勻照明的情況下，例如，可能發生待檢查分子的不均勻激活。結果：中心的分子比入射照明光束外圍的分子發出更強烈的熒光。如果周邊沒有與中心等同地照亮，則當單獨記錄的圖像網格稍后合并時，陰影繼續出現。因此，細胞和組織樣本等測量不能用于可靠的分析。這些 ...
金納米顆粒的高光譜暗場特性研究

使用100倍物鏡沿光學z軸在不同平面拍攝的暗場圖像。焦平面位于（a）玻璃基底表面（S點）或（b）人類乳腺癌細胞的頂部表面或細胞內部（C點）[1]。與華盛頓大學的David Ginger教授合作，使用Photon etc.公司的高光譜暗場成像儀對100納米的AuNPs進行了研究。從432nm到849nm以3nm的步長獲取了散射數據。圖2（a）和（b）顯示了高光譜結果和從數據中提取的典型散射光譜（c）。波長的變化有助于確定顆粒的大小，空間信息有助于評估顆粒的分布。圖2、（a）從高光譜數據中提取的576nm暗場圖像；（b）放大了提取光譜的區域；（c）提取的散射光譜。二、使用IMA獲得的結果在蒙特利爾 ...
高光譜成像在CIGS光譜和空間分析的應用

）。在顯微鏡物鏡下的整個視場被激發，同時收集來自百萬個點的PL信號。圖2（a）和（b）顯示了CIGS微電池的PL和EL圖像。通過結合其光譜分辨的PL和EL圖以及光度絕對校準方法，研究人員可以使用廣義普朗克定律來提取與電池zui大電壓直接相關的準費米能級分裂（Δμeff）（見圖1（c）和（d））。借助太陽能電池和LED之間的互易關系，可以從EL圖像中推導出外部量子效率（EQE）。在樣品的整個表面上獲得微米級的基本特性有助于改進制造工藝，從而達到更高的電池效率。圖2.（a）集成PL發射和（b）集成EL發射的高光譜圖像。使用廣義普朗克定律，可以推導出（c）和（d）Δμeff映射。改編自[3]。了解更 ...
高精度納米級壓電位移平臺“PIEZOCONCEPT”！--半導體界后摩爾時代的手術刀。

軸壓電平臺、物鏡掃描臺、快速反射鏡。X軸產品圖片Z軸產品圖片一維掃描平臺一維快反鏡2.PIEZOCONCEPT兩軸位移平臺兩軸壓電平臺可以提供兩個維度上的平移或偏轉，主要包括XY二維壓電納米位移臺和二維快反鏡。XY軸壓電平臺二維快反鏡3.PIEZOCONCEPT三軸位移平臺XYZ軸壓電平臺4. PIEZOCONCEPT位移臺獨特優勢昊量光電推出“PIEZOCONCEPT”高精度單軸、雙軸、三軸納米級壓電位移臺、物鏡掃描臺、快反鏡系列產品；該壓電平臺以壓電陶瓷為驅動，采用了柔性鉸鏈連接的方法，具備精確導向性、高穩定性、高抗疲勞性的特點，同時搭配高精度硅基位移傳感器、16Bit高分辨率高速控制器， ...
Argolight熒光顯微鏡校準載玻片簡介

式、油性；水物鏡，每次小于20分鐘儲存條件：室溫（10-40℃）和正常相對濕度（20-70%RH）成像兼容性：除基于耗盡技術和多光子成像以外的任何基于熒光的成像損傷閾值：50GW/cm2輻照度（峰值或者平均功率）功率測量：10uW-100mW，可實時測量可用波長：350nm-1100nm可兼容延時拍攝。載玻片圖案：關于生產商：Argolight是一家法國的公司，專注于成像質量的控制，他們與300多家公司、高校、科研院所保持良好合作。如果您對熒光顯微鏡校準載玻片有興趣，請訪問上海昊量光電的官方網頁：http://www.arouy.cn/three-level-368.html更多 ...
實現磁光技術研究InSe光自旋動力學

導磁鐵)內的物鏡。然后，從樣品(S)反射的光束通過圓偏振收集光學元件(QWP和LP)，用長通濾光片(LPass)過濾，然后聚焦到光纖上，該光纖通向帶有CCD相機(Andor)的750毫米光譜儀。采用可調諧連續波光源進行光激發。圖1.a)是極化PL設置。在輸入端和輸出端分別加一個短通(SPass)和長通(LPass)來降低泵浦激光噪聲。在收集方面，光纖可以通向光譜儀或單光子計數器。泵浦探針時間分辨裝置b)有一個FM(翻轉鏡)，可用于在TR(光電二極管)和TRKR(平衡光電二極管)測量之間切換。S是樣本的縮寫。所有的時間分辨測量都是在Quantum Design的OptiCool的測試版中完成的( ...
平面度測量

構。激光束經物鏡、針孔、準直透鏡準直，參考光學平面與準直光束垂直，并采用光楔或減反射膜系來抑制它的背面反射。參考和測量面間的干涉條紋經電視攝像機來探測。分束器或λ/4波片以及偏振分束器用來引導光束入射于電視攝像機上。這種斐索干涉儀，需要采用長焦距的準直透鏡來獲得高的精度。干涉條紋函數I(x,y)：式中，I。為背景光強度；y(x,y)為條紋調制函數；φ(x,y)為被測條紋的位相分布函數；φ。為參考面與測量面間光程差引起的初位相.為了從干涉條紋函數中獲得位相分布函數φ(x,y),采用了相移法。相移時，條紋位相隨著光程或波長變化而發生移動。當給定附加相移φi，干涉條紋函數I(x,y)為:理論上，為了 ...