TCSPC技術在熒光壽命成像顯微鏡中的應用熒光壽命成像顯微鏡(FLIM)利用熒光的壽命特性，因其對分子環境和分子構象變化的高度敏感性而得到廣泛應用。FLIM已廣泛應用于研究細胞代謝的自熒光分子成像。自熒光分子的FLIM以非破壞性的方式提供了對細胞健康的獨特見解，經常用于研究活體動物。FLIM有利于探測熒光團的分子環境，以了解光強測量無法闡明的熒光團行為。圖1中概述了時域和頻域的FLIM測量，并在下面進行詳細描述。簡單地說，時域熒光壽命測量使用短脈沖光進行激發(相對于樣品的壽命較短)，然后直接(即通過門控檢測或脈沖采樣)或使用時間分辨電子技術記錄熒光分子的指數衰減如圖1(a)及1(b)。另外，頻 ...
熒光的產生與熒光壽命檢測原理當處于基態的分子(圖1中的S0表示)吸收的光能量等于或大于較高能級的光(S1;S2;:::;Sn)，電子在短時間內被激發到更高的能級。電子將經歷振動弛豫到激發態的最低振動水平(記為S1)，這是一種稱為內轉換的非輻射過程。從S1電子態，分子通過輻射或非輻射過程回到基態。圖1表示了在這些能級中發生的不同發光現象。熒光是分子(熒光團)通過發射可檢測的光子(時間尺度為)衰減到基態的輻射過程。熒光發射發生在激發電子能級最低的位置(S1)。這種來自最低激發電子能級的強制發射確保了發射光譜保持不變，并且與激發波長無關。由于振動弛豫和內部轉換中的能量損失，發射的熒光光子的能量較低( ...
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TDC及TCSPC的技術原理-TCSPC高精度時間相關單光子計數模塊TDC技術和TCSPC技術都是用來進行時間測量的技術手段，雖然應用范圍大致相同，但是原理卻不同。TDC原理如右圖所示。來自單光子探測器的光電子信號脈沖和來自激光器的參考脈沖輸入到延遲鏈中。時序邏輯查看延遲鏈中的數據，識別單光子和及激光脈沖的開始-停止對，并以此方式確定單光子在激光脈沖序列中的時間位置。然后，可以根據這些數據，建立通常的TCSPC/FLIM光子分布。TCSPC技術所基于的原理是：在記錄低強度、高重復頻率的脈沖信號時，由于光強很低，以至于在一個信號周期內探測到一個光子的概率遠遠小于1。因此，沒有必要考慮在一個信號周 ...
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本拉曼光譜、熒光壽命、光電流成像的基礎上新增光子反聚束功能，在方便快捷的進行零聲子線的測試的同時，還可以完成光子反聚束的測量，極大的簡化色心的搜尋流程，迅速判斷制備工藝水平。該模塊有助于研究者用拉曼光譜和光致發光（PL）成像來表征樣品，快速確定目標區域（可能有單光子源的區域），隨后在同一儀器來進行反聚束實驗。典型案例：對已經進行過氮離子注入處理過的納米級金剛顆粒進行光譜分析，從而精準定位符合要求的潛在色心：上圖1為在5X物鏡下進行快速粗掃后得到的針對零聲子線峰位強度成像，圖2為40X物鏡下粗掃獲得的強度圖像，可以看到十字標志處單獨存在的一個潛在優質色心，圖3為該點的PL光譜圖，可以清晰看到63 ...
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