M的反射后，參考光束被引導到自動平衡差分檢測器的參考輸入端。信號束由非球面凸透鏡FL1 (ThorLabs 352240-B)聚焦到樣品表面S上，角度為40?從樣品法線測量。反射光束通過第二非球面凸透鏡FL2 (ThorLabs 352240B)進行準直。為了提高精度和自動定位，聚焦和準直鏡頭安裝在壓電驅動的自制定位器上。準直光束由Glan-Thomson偏振器A分析，由凸透鏡SFL (ThorLabs AC254-075-A1)通過可移動金屬反射鏡(保護鋁涂層)RM聚焦到自動平衡探測器的信號輸入端。或者，移除反射鏡RM將光束引導到CCD相機。無限共軛透鏡FL2和SFL將樣品表面投射到CCD相 ...

經過測試光和參考光，除非用單一表面作為分光鏡，這意味著光學系統的畸變對zui終觀察到的條紋形狀影響很小，但要求分光鏡的表面質量必須很高，否則會嚴重影響到條紋形狀。3.3非球面測量（2）泰曼格林干涉儀3.4泰曼格林干涉儀若采用普通光源(如汞燈)時該裝置的優點是可以調節并移動參考鏡面，保證測試光路和參考光路具有相同的光程長度。若用激光作為光源，相對于普通光源的斐索干涉儀而言，它不僅可以測量整個光學系統，而且可以提高測量效率，但需要用到較多的光學元件，同時要求分光鏡的兩個表面以及參考鏡都必須非常平整，此外，準直激光束所用的元件和將光束投影到攝像機所用的元件，必須具有相同的精度。（3）馬赫澤德干涉儀3 ...

暗背景測量，參考光譜測量和樣品光譜測量）。微控制器單元用于收集和預處理光譜數據，zui終將這些數據發送到 PC，在 PC 上，LabVIEW GUI 可以監視和控制采集過程。圖2.所開發的測量系統的框圖功能圖1.1光源照明部分該系統采用20 W 鹵素燈 DECOSTAR 51 ALU（OSRAM）。 該裝置除了保證低成本外，還具有足夠長的平均壽命，即4000小時。 選擇鹵素燈和光學窗口之間的距離，以保證樣品表面上的zui大輻照度和足夠的照明均勻度。1.2光譜儀部分為了檢測漫反射光譜，該儀器采用德國INSION公司的微型近紅外光譜儀NIR1.7，其測量范圍為 900 nm~ 1700 nm，像素 ...

鏡反射回來到參考光譜儀。原理圖如下圖3.其中光源用的是OSRAM公司的氙燈光源，光譜傳感器用的是德國insion公司的UV VIS SENS系列光譜儀。圖3.左側：實驗測量原理示意圖；右側;insion公司的UV VIS SENS系列光譜儀下圖4顯示了受測透明鏡片相對于肉眼的眼部輻照度的清晰圖片。 18% 的入射輻照度已被框架過濾。 在剩余的輻照度中，絕大多數（肉眼處總輻照度的 79 ±3%）通過空眼鏡框進入眼睛。 當鏡架配備透明眼鏡鏡片 L0 Basic 時，Idirect 的貢獻占裸眼總輻照度的 32 ±4%，而總輻照度為裸眼總輻照度的 83 ±5%。 因此，盡管減少了，但大部分紫外線仍然 ...

量光束W1和參考光束W2，測量光束被薄膜兩次反射后，在NPBS2與參考光束合光干涉，由PBS2分成p，s兩路外差干涉信號。比較探測器輸出的拍頻信號幅值和相位差可得到橢偏參數。其中，半波片使得光束偏振方向旋轉45°，這樣p，s分量近似等強入射到薄膜樣品，可提高干涉調制度。圖1光學系統原理圖橫向塞曼激光器的輸出可以表示為：其中：a1和a2代表初始相位。系統的瓊斯響應可以表示為：其中，下標R和T分別代表反射和透射，P，H，B，M和S分別表示PBS、半波片、NPBS、反射鏡和薄膜樣品的瓊斯矩陣，如式(3)所示。將式(1)，(3)和(4)帶入式(2)可得：忽略不影響結果的常數項，可得兩路外差信號的光強如 ...

直透鏡準直，參考光學平面與準直光束垂直，并采用光楔或減反射膜系來抑制它的背面反射。參考和測量面間的干涉條紋經電視攝像機來探測。分束器或λ/4波片以及偏振分束器用來引導光束入射于電視攝像機上。這種斐索干涉儀，需要采用長焦距的準直透鏡來獲得高的精度。干涉條紋函數I(x,y)：式中，I。為背景光強度；y(x,y)為條紋調制函數；φ(x,y)為被測條紋的位相分布函數；φ。為參考面與測量面間光程差引起的初位相.為了從干涉條紋函數中獲得位相分布函數φ(x,y),采用了相移法。相移時，條紋位相隨著光程或波長變化而發生移動。當給定附加相移φi，干涉條紋函數I(x,y)為:理論上，為了計算位相分布函數φ(x,y ...

出來，并導向參考光電二極管（rPD），以提供控制反饋。在大多數生物醫學成像應用中，不需要持續照明，甚至在某些情況下，會起到反效果，影響實驗數據。通常情況下，照明與相機曝光會同步進行。這里有兩個重點：首先是光源間的切換速度，其次是脈沖間隔的復現性。相比和機械濾光輪耦合的白光照明器（約50ms的切換時間），光引擎可以做到小于1ms的光源間切換（圖4），縮短了獲取多色圖像Z軸堆疊或者玻片掃描所需的時間。脈沖間的積分不變形（圖5）是決定延時圖像序列保真度的關鍵因素。每個脈沖的積分量化了在延時序列中每次曝光所需的照度。脈沖之間的照度差異越小，樣品動態行為的敏感度就越能增加，這在圖像幀到幀的變化間可以體現 ...

透射光譜作為參考光譜。然后將波導表面清洗干凈，將單體溶液移液在相同寬度的新鮮濾紙上。然后記錄單體樣品的透射光譜。發射功率單體樣品的光譜除以緩沖參比光譜的透射功率譜，得到所得的單體吸收光譜。取10個樣本掃描并取平均值，并用10點相鄰平均值對數據進行平滑處理。用同樣的方法測量低聚物和纖維樣品，其吸收光譜如圖3(a)所示。在1650 cm-1、1540 cm-1和1200-1350 cm-1之間清晰地觀察到酰胺I、II和III峰。圖3 (b)顯示了取自圖3 (a)的吸收光譜的酰胺I和酰胺II區域，以澄清吸收峰隨著聚集向更高的頻率移動。對于酰胺I峰，單體和低聚物的吸收頻率都在1650 cm-1，而對于 ...

現在樣品光和參考光之間光程正好相等的點，即零延遲差點附近，并且隨著我們遠離零延遲點而減小。這種損失是由光譜儀的有限像素大小和有限光學分辨率導致的。可以證明，靈敏度與深度的關系如下：其中R(z)：隨深度變化的靈敏度。z: 深度，通常指光在樣品中傳播的距離。ρ: 一個與光譜儀分辨率和光源帶寬相關的常數，具體定義依賴于系統的設計。W=δλ/Δλ: 其中δλ是波長采樣率（光譜儀的分辨率），Δλ是總帶寬sin(ρz): 表示由于光譜儀有限像素引起的調制效應。sin(ρz)/(ρz):表示由于有限像素引起的調制效應的歸一化形exp[-z^2/(wρ)]: 指數衰減項，表示由于光譜儀有限光學分辨率引起的衰減 ...

部分光束作為參考光束與反射回來的測試光束干涉生成干涉圖樣，由CCD探測器接收，從而完成干涉測量。工作原理：通過照明小孔產生衍射波，衍射波作為參考波面，與被測光學系統產生的波面進行干涉，通過分析干涉圖樣來得到被測光學系統的波前誤差。關鍵技術：關鍵技術之一是小孔掩模技術。小孔掩模的主要作用是通過衍射產生接近理想的球面波用于干涉測量，其直徑、圓度及三維形貌對測量精度有決定性影響3。在點衍射干涉儀中，小孔的直徑、圓度以及三維形貌對測量精度有重要影響。為了制造出滿足測量要求的高質量小孔，需要對影響參考球面波質量的因素進行嚴格的仿真計算和分析。點衍射干涉儀的檢測精度取決于衍射板中針孔衍射產生的參考球面波質 ...