：將光束分為參考光束和測試光束。4.標準平面或球面：作為參考表面，與被測表面形成干涉。5.被測光學元件：待測量的光學表面。6.成像系統：用于觀察和記錄干涉條紋。菲索干涉儀的應用非常廣泛，它可以用于檢測透明平行平板的光學厚度均勻性，也可以用于測量球面的面形和曲率半徑。此外，菲索干涉儀還可以檢測無限、有限共軛距鏡頭的波面像差。菲索干涉儀的測量精度通常可以達到光波長的十分之一到百分之一。在光學元件加工過程中，菲索干涉儀可以用來檢查和測量光學元件的光學表面質量，如平面度及其局部缺陷與誤差等。菲索干涉儀的一個關鍵特點是它采用了振幅分割法，即入射光垂直于反射面射入，產生等厚干涉條紋，用以測量光學元件的誤差 ...

L光譜分析。參考光譜由實線灰色線表示。圖3.激光誘導的長程熱效應的觀察——有光學孔徑。(a) CIGS/CdS/i:ZnO圖形線后的P1單色PL顯微圖像；(b) 選定的強度曲線，其中紅色標簽表示它們在y方向上的位置；(c) 歸一化統計PL積分在選定區域內；(d, e) 燒蝕線(d) 左側和(e) 右側的統計PL光譜分析。參考光譜由實線灰色線表示。光致輻射復合的完全和突然耗盡可能表明化學成分的顯著變化或有效的相變。由于SR熱效應的范圍遠超光生載流子的遷移距離，可以很容易地理解SR熱效應內的CIGS區域不再是光活性的。作為參考，Brown通過電子束誘導電流（EBIC）報告了0.30到0.52μm的 ...

透射光譜作為參考光譜。然后將波導表面清洗干凈，將單體溶液移液在相同寬度的新鮮濾紙上。然后記錄單體樣品的透射光譜。發射功率單體樣品的光譜除以緩沖參比光譜的透射功率譜，得到所得的單體吸收光譜。取10個樣本掃描并取平均值，并用10點相鄰平均值對數據進行平滑處理。用同樣的方法測量低聚物和纖維樣品，其吸收光譜如圖3(a)所示。在1650 cm-1、1540 cm-1和1200-1350 cm-1之間清晰地觀察到酰胺I、II和III峰。圖3 (b)顯示了取自圖3 (a)的吸收光譜的酰胺I和酰胺II區域，以澄清吸收峰隨著聚集向更高的頻率移動。對于酰胺I峰，單體和低聚物的吸收頻率都在1650 cm-1，而對于 ...

于不需要任何參考光束干擾的波前測量儀器。波前傳感器的應用范圍很廣，如光學測試和對準(表面測量)、傳輸波前誤差測量、調制。★QWLSI四波橫向剪切干涉測量原理四波橫向剪切干涉測量(QWLSI原理) 具有納米級靈敏度和高分辨率的相位和強度。這項創新技術依靠衍射光柵將入射光束復制成4個相同的波。經過幾毫米的傳播，4個波紋重疊并干涉，在檢測器上產生干涉圖。★QWLSI四波橫向剪切干涉技術優勢四波橫向剪切干涉測量技術(QWLSI)，也被稱為改進哈特曼掩模技術。它以其高空間分辨率，無需中繼透鏡即可測量發散光束的能力和消色差而脫穎而出。該技術于2004年由Phasics在市場上推出，現在因其性能和易于集成而 ...

個面，一個是參考光，第二個是樣品前表面的測試光，第三個是樣品后邊面的返回光束。所以如果相機前的整個光束可以描述為沒有背景光的情況下通常不考慮背光反射的情況下，干涉圖光強分布求解他的相位部分，可以將整個光束乘以一個復平面后，做一個低通后求復角度。做一個低通后求復角度。低頻部分為，所以只要求他復角就可以得到相位部分沒有背景光，但是移動頻率不準確的情況如果無法準確知道復平面方程的時候，如果假設乘以的復平面是得到的低頻部分為，求入射光的相位后，相位也會帶有一些傾斜，但仍舊是準確的存在背景光的情況下光場描述為整體光強假設參考光光強為1，前表面反射光強為0.8，后表面反射光強為0.1時的光強分布為如果仍舊 ...

P的FTIR參考光譜上。在氨轉變的峰吸收系數[吸光度為~ 3:1 × 10?3 × ppm=mT?1]和DMMP特征[8][吸光度為~ 2:72 × 10?3 × ppm mT?1]中，我們理論上估計DMMP的Min探測率約為500 ppt，這與實驗結果一致。圖5然而，在真實環境中檢測DMMP（以及幾乎任何重要的目標分子）可能會受到干擾的限制，即氣體樣品中存在的吸收特征部分與目標分子重疊的物種。正確的分析包括在沒有實際目標（“零挑戰”）的實際空氣樣本中反復測量目標分子（在我們的例子中是DMMP）的表觀濃度。對于性能良好的傳感器，我們期望結果在零點附近呈高斯分布。高斯分布的寬度被解釋為1σ檢測限 ...

和已知長度的參考光束之間的延遲。根據時間上的延遲，對組織的深度進行量化。這個原理被稱為時間相干。換句話說，來自光源的近紅外光到達干涉儀，該干涉儀將光路分成兩條臂。其中一束(參考光束)將直接指向探測器;而另一束(探測束)將到達眼睛，向視網膜行進并被反射回來，離開眼睛[1]。兩個反射光束在干涉儀的輸出端結合在一起。OCT需要低時間相干光源，以便在稱為相干長度的時間旅行間隔內匹配參考光束和探測光束的相位。時域OCT干涉儀示意圖如圖1所示:圖1所示。OCT干涉法。光從低時間相干光源發射。它在參考光束中分裂，直接指向參考鏡并被反射回來。另一束光穿過眼睛，被視網膜反射回來。兩個反射光束相互干擾并通過光纖耦 ...

的PE和PS參考光譜，也與每種尺寸的單個微塑料有關。結果表明，隨著樣品尺寸的減小，其光譜特征變得不那么明顯（圖2和圖3）。這種效應在聚苯乙烯微塑料中尤為明顯，因為它們通常比聚乙烯樣品更小、更透明。因此，這些材料的光譜特征變得不那么明顯，使得在較小尺度下識別它們變得越來越困難。SWIR 相機的光譜范圍擴展至1000–2500 nm，使其能夠檢測到Specim FX17（工作波長為900–1700nm）無法檢測到的特征。這提供了更全面的光譜信息，有助于鑒定這些難以識別的樣品。圖3：PE和PS的SWIR參考光譜，也與每種尺寸的單個微塑料有關。4.利用高光譜成像技術對微塑料進行建模和識別：為了評估檢測 ...