磁光顯微鏡中寬視場反射顯微鏡的設置和圖像處理標準程序從磁性飽和狀態的數字化平均圖像開始，其中在外部直流磁場中消除了所有域。或者，可以應用一個中等振幅的交變場，它在平均過程中混合了域，其優點是樣品上的力可能比直流飽和所需的高場小。該無域背景(參考)圖像隨后從包含域信息的狀態中減去。然后，差值圖像顯示了區域圖案的顯微圖，可以通過平均和數字對比度增強來改善，而不受地形對比度的影響。通常需要在不同方面研究相同的域，例如在Kerr和voight對比度條件下或使用不同的分析器和補償器設置以獲得深度選擇性。這可以通過組合實驗來實現:在創建了特定域模式的正則差分圖像之后，在不同對比度條件下存儲相同模式的圖像作 ...

磁光顯微鏡之寬視場(“常規”)顯微鏡標準寬視場克爾顯微鏡是帶有應變自由光學反射顯微鏡，為了允許偏振顯微鏡。通過應用K?hler照明技術獲得均勻照明圖像，如圖1中的射線圖所示。燈聚焦在光圈光圈的平面上，通過場光圈，然后被部分反射平面的玻璃鏡面線偏振并向下偏轉進入物鏡。樣品反射后的光被物鏡收集，然后再次通過半反射鏡。大多數光學顯微鏡都帶有無限遠校正物鏡，即反射光從每個方位平行束離開物鏡并投射到無限遠。這些束進入管狀透鏡形成中間圖像，對相機或目鏡進行進一步處理。在無限空間中，增加了反射鏡、分析儀、補償器等配件，而不會使圖像失真。偏振器和分析儀通常由二向色偏振片制成，但也可以使用柵格偏振器或格蘭-湯普 ...

A）放置在寬視場顯微鏡的本征像面（NIP）上，并且光學信號以混疊方式記錄在MLA后焦平面的微透鏡上，但線性調頻的空間信息采樣模式是不均勻的，導致了重建偽影的出現。除此之外，體積重建采用波光學模型的PSF反褶積。傳統線性調頻的PSF在橫向和軸向尺寸上都是空間變化的，這增加了計算成本，使得重建相當慢，不利于快速觀察動態或功能數據。圖5傅里葉光場顯微鏡通過在透鏡和微透鏡陣列之間插入一個新的光學透鏡，將光學變換從時域轉入傅里葉域（FD），如圖6所示。在傅里葉頻域光學系統中，所有信號都可以看做不同正弦函數的疊加，因此這一光學透鏡的引入可以將入射光波變成不同頻率的單色平面波的線性組合，由于不同單色平面光具 ...

熒光。時域寬視場FLIM常用的圖像傳感器技術包括時間門控圖像增強器與sCMOS或CCD相機相結合，或微通道板（MCP）和基于光電陰極的寬視場探測器結合。由于增強器的增益較大，時間門控圖像增強器的動態范圍較低，且成本昂貴。由于涉及的超高電壓，MCP在zui大可實現的全局計數率上是很有限的，且實際使用同樣昂貴和復雜。標準CMOS技術中單光子雪崩二極管（SPADs）的發展，以及大型CMOS SPAD陣列的引入，創造了具有并行讀出和快速數據處理的多通道單光子計數的潛力。因為CMOS技術支持模塊化、可擴展構建，具有大型計數器和快速電子處理能力，其完全集成了的門控選項，因此SPADs可以達到高定時性能，并 ...

的基本裝置全視場軟x射線顯微鏡的光學裝置原理與傳統顯微鏡相似。它由光源、聚光鏡、物鏡和檢測器組成。主要的區別是聚光鏡和物鏡是菲涅耳帶片。終端站xm1在高ji光源處的x射線光學設置如圖1所示。圖1它遵循了Schmahl等人開發的開創性x射線顯微鏡設計。xm1使用從彎曲磁鐵發出的軟X射線。在通過一個平面反射鏡后，光子被鍍上鎳以抑制更高的能量，照射到一個中央有一個擋板的聚光帶板(CZP)。該CZP提供了樣品的部分相干空心錐照明，并與針孔位于樣品附近的組合，作為線性單色儀，具有典型的單色性約λ/Δλ = 500。因此，在光子能量為700 eV時，光譜分辨率約為1.3 eV。XM-1的光子能量范圍在50 ...

鏡實現了整個視場的均勻照明，從而使得能夠同時收集來自多個點的PL信號。這種整體照明方法有效地減輕了與側向載流子擴散相關的挑戰，并且避免了樣品粗糙度引起的偽像問題，這些問題在逐點成像方法中經常遇到。此外，根據物鏡的放大倍數，記錄的圖像可以跨越幾平方毫米，從而便于全面分析。這里呈現的mapping是在激光zui大激發功率下記錄的。而在較弱激勵水平下發現的映射顯示出均勻的空間行為(未示出)，我們在這里觀察到輕微的空間變化。在接觸點和樣品邊緣附近的映射顯示zui小值，在(1.167±0.010eV)之間的映射顯示zui大值。zui大值和zui小值的差值在系統誤差范圍內，但可以在7±2meV下相對評估。 ...

的參考圖像對視場中雙光子激發效率的輕微不均勻性進行校正后，來自光纖PMT的信號報告了錐形光纖的熒光光采集場，定義為ξT(x,y)。測量了不同數值孔徑(NAs)和芯徑，但錐度角(ψ)近似為~4°的光纖的集合場ξT(x,y)(圖1c)。我們發現沿錐度的光敏區域，即收集長度L，隨著光纖NA的增大和ψ的減小而增大(補充圖1a)。因此，錐形光纖的采集長度是可以定制的通過修改光纖NA和錐度角ψ，從幾百微米提高到約2 mm。這一發現揭示了錐形光纖和扁平切割光纖的收集特性的重要差異，因為對于扁平切割，收集深度基本上不依賴于NA21。我們比較了錐形光纖和扁平切割的采集字段，NA分別為0.66(圖1d)和0.39 ...

基于SPAD單光子相機的LiDAR技術革新單光子光探測和測距（激光雷達）是在復雜環境中進行深度成像的關鍵技術。盡管zui近取得了進展，一個開放的挑戰是能夠隔離激光雷達信號從其他假源，包括背景光和干擾信號。本文介紹了一種基于量子糾纏光子對的LiDAR（光探測與測距）技術，該技術通過利用時空糾纏光子對及SAPD單光子相機的特性，顯著提高了在復雜環境中的探測精度和抗干擾能力。該技術使用SPAD單光子相機作為探測端，并通過內置的時間相關單光子步進偏移計數技術來提高測量時間精度。光源使用了一個基于β-鋇硼酸鹽（BBO）晶體的非線性光學晶體來產生糾纏光子對。通過精確控制光子對的發射和接收，以及利用SPAD ...

地分布在整個視場上，從而實現全qiu成像。入射光子通量可以調整，并設置為86 mWcm-2對于此處提供的測量的每個激光。使用顯微鏡物鏡 采集圖像，并在室溫下通過體積布拉格光柵將 PL 定向到 Si CCD 相機上?？臻g分辨率接近衍射極限，約為1 μm，光譜分辨率優于2.5 nm。QFLS Δμ是指電子處的準費米能級和空穴接觸在照明下的分裂。通常，測量有效QFLS（Δμeff），因為照明的樣品區域不是無限小的，并且延伸到具有多個晶界的較大區域。這些內部接口會導致內部損耗降低理想的QFLS。太陽能電池在熱平衡和室溫下的PL發射ΦPL可以通過廣義普朗克定律使用黑體的玻爾茲曼近似來描述。由于太陽能電池 ...

以覆蓋較寬的視場角，這限制了激光雷達系統的應用范圍，尤其是在需要廣泛監控的場景中在一些應用中，可能需要將多個SPAD陣列集成在一起以增加探測面積，來提高信號集成，但這會增加系統的復雜度和成本以及體積。SPAD需要一定的“死時間”來恢復到下一個光子可以被探測的狀態。在此期間，任何到達的光子都無法被檢測到（光子堆積效應），這限制了其在高速應用中的使用。單點式的SPAD往往需要搭配一個時間相關單光子計數器（TDC）來使用，這就意味著會大大增加激光雷達系統的體積，但是激光雷達系統往往會伴隨著小型化的需求。面日益增長的研究需求與設備性能上限的沖突，Pi Imaging與上海昊量光電推出了單光子陣列探測器 ...