密度。對(duì)于大視場(chǎng)系統(tǒng)，測(cè)量的空間均勻性是由柵邊位置分布或傾斜決定的。在大尺寸傳感器中，門(mén)信號(hào)的傾斜和高頻信號(hào)切換期間可能的電壓下降導(dǎo)致陣列的門(mén)邊緣非均勻性。隨著柵極長(zhǎng)度的增加，上升邊緣傾斜明顯縮小(在表1的Z后一行旁邊)。這種效應(yīng)可以歸因于信號(hào)轉(zhuǎn)換期間電源電壓波動(dòng)水平的差異。第①門(mén)信號(hào)躍遷(對(duì)應(yīng)于大門(mén)的下降沿窗口自門(mén)推進(jìn)對(duì)激光觸發(fā))導(dǎo)致門(mén)信號(hào)下降空間電源電壓不平衡樹(shù),結(jié)果在第②斜門(mén)信號(hào)轉(zhuǎn)變,在這種情況下,上升的邊緣。隨著柵極長(zhǎng)度的增加，在較長(zhǎng)的過(guò)渡延遲期間，電壓降的較好的恢復(fù)降低了歪斜。由于柵門(mén)不均勻性的來(lái)源是確定的，它可以通過(guò)測(cè)量后的校準(zhǔn)校正，如下一節(jié)所述。閘門(mén)性能的另外兩個(gè)關(guān)鍵參數(shù)是上升和 ...

點(diǎn)或大孔徑小視場(chǎng)系統(tǒng)的軸外點(diǎn),只要根據(jù)軸上點(diǎn)光線的追跡結(jié)果，就能通過(guò)計(jì)算正弦差值來(lái)判知其 像質(zhì)。遠(yuǎn)離光軸的點(diǎn)會(huì)產(chǎn)生所有像差,因此需對(duì)軸外點(diǎn)進(jìn)行全部像差的計(jì)算。這種計(jì)算至少應(yīng)對(duì)邊緣視場(chǎng)和 0.707視場(chǎng)點(diǎn)進(jìn)行，每點(diǎn)的孔徑取值與軸上點(diǎn)相同。對(duì)于絕大多數(shù)能以二級(jí)像差表征高級(jí)像差的光學(xué)系統(tǒng)，以上計(jì)算已足夠。對(duì)于那些不能忽略高級(jí)像差的系統(tǒng)，計(jì)算的光線數(shù)應(yīng)該有所增加。 一般計(jì)算六個(gè)視場(chǎng)點(diǎn)，取值為 Kw = -1，-0.85，-0.707，-0.5，-0.3和0。上世紀(jì)80 年代以前計(jì)算機(jī)軟、硬件條件還比較差,設(shè)計(jì)條件十分有限，編制軟件時(shí)也必須考忠到計(jì)算機(jī)內(nèi)存容量、計(jì)算時(shí)間等限制,一般除Kw =0的軸上點(diǎn)外 ...

，通過(guò)從相機(jī)視場(chǎng)中稀疏分布的發(fā)射點(diǎn)來(lái)估計(jì)單個(gè)分子的位置，從而克服了分辨率的衍射限制。可實(shí)現(xiàn)的分辨率受到定位精度和熒光標(biāo)簽密度的限制，在實(shí)踐中可能是幾十納米的數(shù)量級(jí)。有科研團(tuán)隊(duì)已經(jīng)將這種技術(shù)擴(kuò)展到三維定位。通過(guò)在光路中加入一個(gè)圓柱形透鏡或使用雙平面或多焦點(diǎn)成像，可以估算出分子的軸向位置。光斑的拉長(zhǎng)（散光）或光斑大小的差異（雙平面成像）對(duì)軸向位置進(jìn)行編碼。將空間光調(diào)制器（SLM）與4F中繼系統(tǒng)結(jié)合到成像光路中，可以設(shè)計(jì)更廣泛的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)（PSF），為優(yōu)化顯微鏡的定位性能提供了可能。利用空間光調(diào)制器（SLM）對(duì)熒光顯微鏡進(jìn)行校準(zhǔn)，可以建立一個(gè)遠(yuǎn)低于衍射極限的波前誤差，SIEMONS團(tuán)隊(duì)就利用Mead ...

、相對(duì)孔徑和視場(chǎng)都較大時(shí)，初始解與Z后的結(jié)果之間，差別就會(huì)更大。這表明，從一個(gè)初始解到成為一個(gè)可實(shí)用的解，尚需進(jìn)行大量的像差校正和平衡工作。由于光學(xué)系統(tǒng)的種類很多，要求不一，其結(jié)構(gòu)型式又千差萬(wàn)別而具各自的像差特征,因此我們必須了解校正光學(xué)系統(tǒng)像差的原則和常用方法。一、各光組以至各面的像差分布要合理。在考慮初始結(jié)構(gòu)時(shí)，可將要校正的像差列成用P、W表示的方程組，這種方程組可能有多組精確解，也可能是病態(tài)的,或無(wú)解。若是前者,應(yīng)選一合理的;若是后者，應(yīng)取Z小二乘解。總之，有多種解方程組的算法可以利用，在計(jì)算機(jī)上實(shí)現(xiàn)并不困難。然后,應(yīng)盡量做到各個(gè)面上以較小的像差值相抵消，這樣就不致于會(huì)有很大的高ji像差 ...

透鏡是一個(gè)大視場(chǎng)、小相對(duì)孔徑的物鏡，并且應(yīng)是線性成像物鏡。透鏡后掃描就是掃描器位于透鏡后面，由激光器發(fā)出的光束首先被聚焦透鏡聚焦，然后經(jīng)置于焦點(diǎn)前的掃描器使焦點(diǎn)像呈圓弧運(yùn)動(dòng)。這類聚焦透鏡通常是小視場(chǎng)、小相對(duì)孔徑的望遠(yuǎn)物鏡，前者物鏡設(shè)計(jì)困難，但其他問(wèn)題的處理則很簡(jiǎn)單。后者物鏡的設(shè)計(jì)是簡(jiǎn)單的，但由于像面是圓弧形的，處理就很困難。因此，要求高的掃描裝置通常采用透鏡前掃描。線性成像物鏡介紹什么是線性掃描成像物鏡？首先,由于掃描元件的運(yùn)動(dòng)被以時(shí)間為順序的電信號(hào)控制、為了使記錄的信息與原信息一致，像面上的光點(diǎn)應(yīng)與時(shí)間成一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系，即理想像高與掃描角成線性關(guān)系，有但是，一般的光學(xué)系統(tǒng)，其理想像高為使以等 ...

，獲得一維線視場(chǎng)的空間信息，并利用機(jī)械運(yùn)動(dòng)完成沿軌方向掃描實(shí)現(xiàn)二維空間信息的獲取，同時(shí)線視場(chǎng)的光譜信息在面陣探測(cè)器的二維獲得。圖1推掃式高光譜成像原理線陣推掃的成像方式，在具有高速成像的同時(shí)，同一時(shí)間獲得目標(biāo)區(qū)域的所有光譜信息數(shù)據(jù)，保證每一個(gè)空間像素的光譜純度，為客戶提供真實(shí)準(zhǔn)確的高光譜數(shù)據(jù)。通過(guò)選擇感興趣波段，芬蘭SPECIM的FX系列高光譜相機(jī)還具有高速數(shù)據(jù)采集度。且涵蓋機(jī)載、實(shí)驗(yàn)室和地面端等方面，光譜范圍覆蓋紫外、可見(jiàn)光近紅外、短波紅外、中波紅外和熱紅外（UV、VNIR、SWIR、MWIR、LWIR）等波段。圖2FX系列高光譜，F(xiàn)X10（400-1000nm）/FX17(900-1700 ...

下F數(shù)為)大視場(chǎng)的遠(yuǎn)心光學(xué)系統(tǒng)，要求具有一定的負(fù)畸變，在整個(gè)視場(chǎng)上有均勻的光強(qiáng)度和分辨率，不允許軸外漸暈存在,并要達(dá)到衍極限性能。玻璃材料的質(zhì)量與透鏡表面的均勻性要求比一般透鏡更為嚴(yán)格。相關(guān)文獻(xiàn)：《幾何光學(xué) 像差 光學(xué)設(shè)計(jì)》（第三版）——李曉彤 岑兆豐更多詳情請(qǐng)聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián)系昊量光電關(guān)于昊量光電：上海昊量光電設(shè)備有限公司是光電產(chǎn)品專業(yè)代理商，產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學(xué)測(cè)量設(shè)備、光學(xué)元件等，涉及應(yīng)用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學(xué)研究、國(guó)防、量子光學(xué)、生物顯微、物聯(lián)傳感、激光制造等；可為客戶提供完整的設(shè)備安裝，培訓(xùn)，硬件開(kāi)發(fā)，軟件開(kāi)發(fā)，系統(tǒng)集成等服務(wù)。您可以通過(guò)我們昊 ...

中孔徑光闌和視場(chǎng)光闌是任何光學(xué)系統(tǒng)都具有的兩種主要光闌。有些系統(tǒng)中還有漸暈光闌和消雜光光闌。孔徑光闌、入射光瞳和出射光瞳限制軸上成像光束立體角的光闌，稱為孔徑光闌（簡(jiǎn)稱，孔闌）或有效光闌。孔徑光闌經(jīng)由前面的光組在物空間形成的像稱為入射光瞳，簡(jiǎn)稱入瞳。完全決定進(jìn)入系統(tǒng)參與成像的最大光束孔徑，是物面上各點(diǎn)發(fā)出進(jìn)入系統(tǒng)成像光束的公共入口。孔徑光闌經(jīng)由后面的光組在像空間形成的像稱為出射光瞳，簡(jiǎn)稱出瞳。是物面上各點(diǎn)發(fā)出的成像光束經(jīng)過(guò)光學(xué)系統(tǒng)后的公共出口。合理的選擇系統(tǒng)孔徑光闌的位置可以改善軸外點(diǎn)的成像質(zhì)量。同時(shí)，當(dāng)光闌的位置改變時(shí)，光闌的口徑也要隨之變化，以保證軸上點(diǎn)光速的孔徑角度不變。孔徑光闌的口徑的 ...

，通過(guò)光斑在視場(chǎng)內(nèi)的nm級(jí)位移來(lái)實(shí)現(xiàn)樣品的成像。這種方式可以方便的和磁場(chǎng)，低溫，CVD等其他設(shè)備結(jié)合在一起，實(shí)現(xiàn)“絕對(duì)”的原位測(cè)試，避免位移平臺(tái)本身重復(fù)精度累積帶來(lái)的成像扭曲和定位偏差。而全新推出的光子反聚束測(cè)量模塊，在原本拉曼光譜、熒光壽命、光電流成像的基礎(chǔ)上新增光子反聚束功能，在方便快捷的進(jìn)行零聲子線的測(cè)試的同時(shí)，還可以完成光子反聚束的測(cè)量，極大的簡(jiǎn)化色心的搜尋流程，迅速判斷制備工藝水平。該模塊有助于研究者用拉曼光譜和光致發(fā)光（PL）成像來(lái)表征樣品，快速確定目標(biāo)區(qū)域（可能有單光子源的區(qū)域），隨后在同一儀器來(lái)進(jìn)行反聚束實(shí)驗(yàn)。典型案例：對(duì)已經(jīng)進(jìn)行過(guò)氮離子注入處理過(guò)的納米級(jí)金剛顆粒進(jìn)行光譜分析， ...

陰極對(duì)不同的視場(chǎng)接受的光照比較均勻，所以成像物鏡應(yīng)盡量設(shè)計(jì)成像方遠(yuǎn)心光學(xué)系統(tǒng)。對(duì)于目鏡來(lái)說(shuō)，熒光屏可以看成是自身發(fā)光的圖像，孔徑光闌只要與眼瞳匹配即可。被動(dòng)式紅外系統(tǒng)本身不帶有紅外光源，而是直接探測(cè)目標(biāo)發(fā)出的紅外輻射。凡是絕對(duì)零度以上的物體都會(huì)發(fā)出紅外線，但由于不同的物體之間、物體的不同部位、以及物體與環(huán)境之間溫度不同，發(fā)射的紅外線的波長(zhǎng)和強(qiáng)度也就各不相同。溫度較低的物體發(fā)出的紅外線主要分布于遠(yuǎn)紅外區(qū)，而溫度較高的熱源如發(fā)動(dòng)機(jī)等發(fā)出的紅外輻射波長(zhǎng)在中紅外區(qū)，輻射強(qiáng)度也相當(dāng)高。利用這些輻射特性的差別，并通過(guò)對(duì)紅外光進(jìn)行光電、電光轉(zhuǎn)換，可以得到人眼可視的圖像。因此，這種圖像反映的是目標(biāo)的輻射溫度分 ...