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定制型高精度薄膜波片
- 波片相位延遲量測(cè)量誤差分析影響波片相位延遲量測(cè)量準(zhǔn)確度的因素主要有:標(biāo)準(zhǔn)1/4波片的偏差及待測(cè)波片快軸與入射面夾角θ的誤差等,下面從公式(4)出發(fā),討論兩者誤差對(duì)波片測(cè)量延遲量的影響:(一)當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)1/4波片和待測(cè)1/4波片的相位延遲量都是理想的90°時(shí),得到δ與θ的關(guān)系如圖1所示,θ的變化范圍是-4°至+4°??梢姡?dāng)標(biāo)準(zhǔn)1/4波片和待測(cè)1/4波片在理想情況下,待測(cè)1/4波片的方位角θ不影響其相位延遲量測(cè)量。圖1當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)1/4波片理想時(shí)待測(cè)波片δ與其方位的角θ的關(guān)系(二)實(shí)際上,由于波片受溫度,及制作工藝的影響,其相位延遲量不可能是理想的90°。若待測(cè)1/4波片的相位延遲量為88.8°,標(biāo)準(zhǔn) ...
即0對(duì)應(yīng)相位延遲量為零,1對(duì)應(yīng)相位延遲量為2pi。光柵制作單個(gè)光斑方法1:易于控制X和Y方向的周期數(shù)量 %% 光柵 % X和Y方向的斜面,取值范圍0-1 [x, y]= meshgrid(linspace(0, 1, 512)); % 光柵的數(shù)量 M = 3; N = 4; % 疊加光柵后,X方向周期為3,Y方向周期為4 z = M*x+N*y; z = mod(z, 1); imshow(z);方法2:對(duì)光柵偏轉(zhuǎn)的角度大小更加方便 %% 直接輸入偏轉(zhuǎn)角度,計(jì)算光柵 theta = pi/6; % X方向周期為cos(tehta) % Y方向周期為sin(theta) z = x/cos(th ...
調(diào)制器的相位延遲量與所加電壓通常不是線性的關(guān)系,因此需要一個(gè)查找表(look-up table)糾正他們的線性關(guān)系。這里采用在液晶空間光調(diào)制器上加載棋盤格的方式來(lái)制作LUT文件。棋盤格如下,白色代表2pi的相位,灰度從0-100%之間變化,表示從0-2pi之間改變。30%灰度的棋盤格首先加載一個(gè)linear.lut文件,linear.lut文件分為兩列,左邊一列代表圖片灰度值,右邊一列代表電壓值。若空間光調(diào)制器都是16bit的深度,那么左右兩列都是從0-65535之間變化這個(gè)lut文件是為了能夠得到,所有電壓下對(duì)應(yīng)的相位相應(yīng)。觀察透鏡焦面上,棋盤格對(duì)應(yīng)光斑,主要是看0級(jí)光和1極光。理想情況下, ...
s效應(yīng),相位延遲量與電場(chǎng)也是線性關(guān)系?=k×VV是外部電壓,k是相位延遲量與電壓之間的系數(shù)強(qiáng)度調(diào)制入射光需要與快軸和慢軸夾角為45°,下面是假設(shè)入射光為45度,快軸為90°下圖是對(duì)應(yīng)不同相位差的情況下,出射光的偏振狀態(tài)。初始相位差為0,間隔為π/6。如果在上述光路下,在-45°方向添加一個(gè)偏振片,那么則光強(qiáng)為將kV的形式修改一下后,可以得到V_(π/2)就是半波電壓。您可以通過(guò)我們的官方網(wǎng)站了解更多的產(chǎn)品信息,或直接來(lái)電咨詢4006-888-532。 ...
1和2的相位延遲量;R(ε)為各光學(xué)元件的旋轉(zhuǎn)矩陣,其中ε可以表示入射面與雙旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器的快軸方向的夾角 C1、C2,也可以表示入射面和起偏器、檢偏器的透光軸方向的夾角P和A;Sin為入射光束的Stokes向量,為[1000]T。將上式展開,可得對(duì)應(yīng)像素采集的光強(qiáng)信號(hào)表達(dá)式,利用Hadamard分析,可以從諧波系數(shù)中求出待測(cè)樣品對(duì)應(yīng)像素處的Muller矩陣元素。2018年,韓國(guó)漢陽(yáng)大學(xué)應(yīng)用物理系研究出一種雙反射橢偏成像系統(tǒng),對(duì)兩個(gè)樣品的偏振態(tài)變化進(jìn)行比較,提供兩個(gè)樣品差異的非零圖像。該系統(tǒng)以一種樣品為基準(zhǔn),另一個(gè)為測(cè)試樣品,去除了調(diào)零過(guò)程,圖像獲取速率可以達(dá)到攝像機(jī)的zui高幀率,提高了測(cè)量速度 ...
對(duì)準(zhǔn)或者測(cè)量延遲量和方位角。塞納蒙(Senarmont)法是一種傳統(tǒng)的應(yīng)力分布測(cè)量方法。其優(yōu)點(diǎn)是經(jīng)濟(jì),容易調(diào)準(zhǔn),即使使用低質(zhì)量的波片也有很高的精度。下面是其光路圖:2.2塞納蒙法測(cè)量偏振器件之間的關(guān)系由穆勒矩陣和斯托克斯矢量給出,類似上面。zui終分析光強(qiáng),即可得到延遲大小。當(dāng)然,關(guān)于雙折射的應(yīng)用還有很多,比如圓偏光器,光彈調(diào)制器法,光學(xué)外差法,用相移法的二維雙折射測(cè)量等等,此次不再介紹,可根據(jù)實(shí)際工程需求,進(jìn)行了解。如果您對(duì)雙折射測(cè)量有興趣,請(qǐng)?jiān)L問(wèn)上海昊量光電的官方網(wǎng)頁(yè):http://www.arouy.cn/three-level-54.html更多詳情請(qǐng)聯(lián)系昊量光電/歡迎直 ...
量波片寬波段延遲量變化[J].激光技術(shù),2012,36(2):258-261.4趙振堂,林天夏,黃佐華,何振江.利用消光式橢偏儀精確測(cè)量波片相位延遲量[J].激光雜志,2012,33(3):8-9.5程一斌,侯俊峰,王東光.組合波片的橢圓率角測(cè)量方法[J].北京理工大學(xué)學(xué)報(bào),2019,39(7):750-755.6于德洪,李國(guó)華,蘇美開,宋連科.任意波長(zhǎng)云母波片位相延遲的測(cè)量[J].光電子.激光,1990,1(5):267-269.7徐文東,李錫善.波片相位延遲量精密測(cè)量新方法[J].光學(xué)學(xué)報(bào),1994,14(10):1096-1101.8薛慶文,李國(guó)華.半陰法測(cè)量λ/4波片的相位延遲[J]. ...
得到180°延遲量;(b)Glan棱鏡應(yīng)用于擴(kuò)展光束光路中會(huì)導(dǎo)致消光比的損失;(c)Glan棱鏡的制造缺陷通常會(huì)帶來(lái)3~6分的光束偏離,若擴(kuò)展光束光強(qiáng)分布不均勻(例如燈絲像分布),那么在旋轉(zhuǎn)檢偏器的時(shí)候會(huì)出現(xiàn)嚴(yán)重的問(wèn)題。由之前測(cè)量結(jié)果可見,此類誤差對(duì)旋轉(zhuǎn)檢偏器的方法測(cè)量會(huì)造成巨大的影響。綜合上述分析可見,實(shí)驗(yàn)條件下各參量測(cè)量誤差及帶寬影響不是影響測(cè)量精度的主要因素,測(cè)量誤差主要來(lái)源于Glan棱鏡的光束偏離及其應(yīng)用于擴(kuò)展光束中的消光比損失等造成的影響。由此可見,光強(qiáng)法對(duì)光路及光學(xué)元件等要求較高,在本文所采用實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)中難以獲得較高的測(cè)量精度。了解更多詳情,請(qǐng)?jiān)L問(wèn)上海昊量光電的官方網(wǎng)頁(yè):https: ...
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