析儀，然后由光電探測器收集。這種分析裝置的簡化示意圖僅顯示了基本的實驗組件，如圖1所示。圖1分析裝置的輸出包括縱向、橫向或極性幾何的克爾旋轉測量值與外加磁場的關系，可以繪制在圖上，以獲得MOKE磁滯回線。應該指出的是，縱向或橫向幾何的磁滯回線涉及一個面內磁場，垂直于光入射面，因此對面內磁化敏感。另一方面，當磁場垂直于樣品表面，入射光線極化時，得到極性克爾旋轉磁滯回線，響應于面外樣品磁化。圖2顯示了這些測量幾何形狀。對于每個測量構型，復克爾旋轉角?記錄下來，它們的大小用克爾旋轉θ和橢圓性?。圖2MOKE系統還能夠在傳統的磁光記錄薄膜、高密度記錄介質的超薄薄膜或用于自旋電子應用的專用材料中執行3D ...

時實時成像到光電探測器上。進一步的工作將使用掃描近場模塊對磁性結構隨時間的變化進行成像，其空間分辨率將大大提高，即低于衍射極限。靜態磁圖像是由三種克爾磁光效應中的任何一種產生的。偏振入射光由快速脈沖(2-3納秒)氮化染料激光器產生，照亮整個觀察場，或者由氬離子激光器產生，在衍射限制的掃描點共聚焦模式下工作。兩種激光器都是波長可調的。在第二種情況下，通過對被成像的樣品在激光光斑下進行光柵掃描，或者使用伺服安裝的鏡子對激光束本身進行掃描。然后用象限光電探測器檢測返回的光，其中有許多成像模式是可能的。冷卻CCD相機允許對樣品進行全方位低電平直接成像，如果有必要，可以在幾幀上集成以獲得更好的噪聲性能。 ...

干涉測量技術1.引言干涉儀是基于兩束相干光的干涉所制成的測量儀器。該技術可用于精密檢測中，采用該方法可以從一 束光波中準確地獲取另一束光波的特征。干涉法的用途很廣，從納米量級的數控機床，到宇宙 學規模中采用引力透鏡尋找暗物質，在這兩種ji端情況中間，則是光學車間中采用干涉法的透鏡生產和系統調試。干涉儀的性能取決于系統所用元件的質量，如投影光學元件或收集光學元件的質量，或者所使用輻射光 源的質量，而輻射光源的相干特性則是干涉儀精度和使用靈活性的決定因素。2.干涉波干涉儀可直接測量由于光學系統畸變、光學元件制造產生的缺陷，以及材料的非均勻性等所產生的波前變形，通過測量電磁波的復振幅分布來實現，而復 ...

在位于高增益光電探測器前面的針孔上。這個共聚焦孔阻擋了任何不是來自激光束腰的xyz位置的光。通過掃描束腰和/或移動樣品，可以獲得水平或垂直的圖像切片甚至整個圖像立方體，并且可以在多個深度捕獲熒光。多光子顯微鏡是一種利用大數值孔徑光學聚焦超快激光的相關技術。激光波長設置為目標熒光團常規激發所需波長的兩倍。在且僅在束腰處，聚焦的峰值光強超過雙光子激發的閾值。這提供了固有的3D分辨率，并消除了對有損耗的共聚焦孔的需要。然而，這兩種技術都受到實際成像中的需要取舍的負面影響，例如以捕獲代謝過程所需的幀率在組織內部進行更深層次成像的能力。此外，由于顯微鏡光學器件的像差，或者更隱蔽地，由樣品組織本身的光學性 ...

材料以及一個光電探測器。經過f-2f自拍頻過程后，來自光電探測器的電信號通過一個以~380 MHz為中心頻率的可調諧帶通濾波器來選擇fceo，然后用一個額外的RF放大器進行放大。該信號連接到Vescent SLICE-OPL，該模塊為MENHIR-1550的泵浦電流提供反饋，以實現fceo穩定。使用射頻頻譜分析儀可以清晰記錄fceo頻譜和噪聲頻譜。在整個系統中，由于COSMO模塊的性能，放大器泵浦電流提供140 mW(140 pJ)即可優化fceo信號。在偏頻鎖定COSMO模塊內部，光信號產生了超連續譜。超連續光譜顯示在780 nm附近有一個峰，而1560nm附近的光頻率加倍，也會影響780n ...

涉儀設入射到光電探測器的兩束線偏振光為E1和E2,兩者的偏振方向相同，光頻分別為f1和f2這兩束光可表示為:式中，V1和V2為振幅；φ1和φ2為初位相。兩束光波進行干涉后的信號強度為：當為f1=f2時，干涉儀稱為單頻型干涉儀。位移通過干涉信號的位相變化來測量。干涉信號直流電平的波動影響了位相測量的準確性，原因是由于激光功率的變化。guo家物理實驗室開發出的干涉儀，采用3個位相分別為0°,90°、180°的干涉信號的組合來消除直流分量波動的影響。當為f1≠f2時，能夠觀察到拍頻為lf1-f2I的信號，此干涉儀稱為外差型干涉儀。如果反射鏡發生移動，則反射鏡反射回的光波發生了多普勒頻移。當頻率為f2 ...

的熱反射率。光電探測器將探測光光信號轉換成電信號，然后傳輸給鎖相放大器以提取信號的幅值和相位?？梢酝ㄟ^鎖相放大器輸出一個給定頻率的正弦信號或者通過外部信號發生器輸出給鎖相放大器和泵浦激光器，傳輸給泵浦激光器用以調制泵浦激光，傳輸給鎖相作為內部參考，實現對采集信號的鎖相分析。在SDTR實驗測量中，樣品表面需要鍍一層約100 nm 厚的金屬膜作為溫度傳感層。通過調節光路中將光束反射至樣品的反射鏡的角度，可以調整樣品表面泵浦光斑相對于探測光斑的位置，同時鎖相放大器記錄下幅值和相位信號隨樣品表面的泵浦光斑和探測光斑之間偏移距離xc的數據。以xc=0時的相位和幅值信號為基準，對任意xc處的相位信號取其差 ...

的射頻。單元光電探測器同時檢測多個像素的熒光，并從探測器輸出的頻率分量中重新構建圖像（運用數字域的并行鎖相放大來分辨）。樣品中每個點能以不同的射頻來激發熒光的秘訣在于其中的馬赫-曾德爾干涉儀（MZI），并使用聲光器件來執行拍頻激發多路復用。如上圖a所示，MZI一路的光通過聲光偏轉器（AODF）產生頻移（帶寬為100MHz），由射頻頻率梳驅動，相位經過設計以zui小化峰值-平均功率比。AODF產生多個偏轉光（+1級衍射光），包含一系列的偏轉角度和頻率偏移。MZI干涉儀第二路光通過聲光移頻器（AOFS），該移頻器由單個射頻頻率驅動，提供本振（LO）光束。使用柱面透鏡來匹配LO光束與射頻梳光束的發散 ...

k以上工作的光電探測器，即所謂的GEIGER模式（蓋格模式）。這是通過施加遠高于擊穿電壓Vbreak的反向偏置運行電壓VOP來實現的。單個入射光子會產生雪崩，可以很容易地檢測和計數。當工作在擊穿電壓以下時，雪崩效應導致隨機增益，該增益與光電流成比例。圖1(a)顯示了通過用作SPAD的p+-π-p-n+的APD結構的典型河段的橫截面。它由四個不同摻雜的區域、兩個低摻雜區域π和p以及兩個高摻雜區域p+和n+構建。光子吸收發生在相對較大的π區。光子撞擊該區域以一定的概率在二極管的低摻雜吸收區域π內產生電子-空穴對。注入吸收區的單個電荷載流子隨后在偏置場中被放大為電子雪崩，即所謂的雪崩擊穿，如圖1(b ...

磁光顯微鏡之激光掃描顯微鏡圖1a說明了這種先jin顯微鏡的原理。準直和偏振激光束聚焦在試樣表面的無限遠校正物鏡。通過使用精確的XY階段，樣本以類似光柵的方式移動。雖然這一階段掃描相對較慢(圖像的采集時間為數十秒)，但它比光束掃描對克爾顯微鏡更有利，因為它確保了整個掃描過程中的偏振狀態以及照射光線束的入射角是恒定的。通過掃描，圖像以逐點的方式構建，其橫向分辨率基本上由探測激光束的大小決定。采用數值孔徑為1.3的100倍油浸物鏡，得到的激光光斑尺寸為0.8μm。如果在聚焦到樣品上之前，首先通過光束膨脹增大光束直徑以完全填滿物鏡孔徑，則聚焦光斑尺寸為0.16μm。圖1.a激光掃描克爾顯微鏡原理。光的 ...