偏振分光鏡、波片、反射鏡等誤差源開展了很多研究工作，并取得了許多有意義的研究成果，提出了多種非線性誤差測量與補償的方法。在激光干涉測量非線性誤差研究中，偏振分光鏡(Polarizing Beam Splitter，PBS)一直是研究的重點，而對于非偏振分光鏡(Nonpolarizing Beam Splitter，NPBS)引入的非線性誤差，國內外一直缺乏相應的研究。Hou等人在邁克爾遜式外差干涉位移測量實驗中，觀測到NPBS引入的測量誤差，并發現采用不同激光源，位移非線性誤差約為1.6～2.2nm，但是各種論文沒有給出相應的理論分析以及NPBS對誤差的影響機理。本文針對基于橫向塞曼激光器的馬 ...
自校準法測量波片相位延遲[J].中國激光,2012,39(4):173-179.3王喜寶,宋連科,朱化鳳,郝殿中,蔡君古.連續偏光干涉法測量波片寬波段延遲量變化[J].激光技術,2012,36(2):258-261.4趙振堂,林天夏,黃佐華,何振江.利用消光式橢偏儀精確測量波片相位延遲量[J].激光雜志,2012,33(3):8-9.5程一斌,侯俊峰,王東光.組合波片的橢圓率角測量方法[J].北京理工大學學報,2019,39(7):750-755.6于德洪,李國華,蘇美開,宋連科.任意波長云母波片位相延遲的測量[J].光電子．激光,1990,1(5):267-269.7徐文東,李錫善.波片相位 ...
000：1，波片1在中心波長532.4nm處為近1／4波片，由步進電機控制兩元件旋轉，轉動精度優于2′，由計算機控制360°自由旋轉。圖1 斯托克斯橢偏儀儀器矩陣測量裝置示意圖實驗中，被測量的斯托克斯橢偏儀由兩個KD*P電光晶體KD*P1和KD*P2、波片2、檢偏器和光纖光譜儀組成。高壓調制器以倍頻的關系控制兩KD*P兩端電壓的快速反轉，從而實現入射光斯托克斯參數的完全調制。光纖光譜儀主要包含微型光柵和線陣CCD，可以同時得到多個波長處的光強值，可測光譜為300～1100nm。整個測量系統由Labview軟件編程實現自動化控制。一般情況下，入射光的斯托克斯參數、波片的方位角誤調和相位延遲隨波長 ...
S1，S2，波片1的初始方位角誤差和相位延遲δ作為已知量修正四點定標法和E-P定標法。修正后測得的儀器矩陣如圖1所示，3種方法的結果基本保持一致。由此表明，非線性zui小二乘擬合方法在偏振定標過程中有效地提高了測量精度，避免了入射光源的偏振效應、定標單元中光學元件初始方位角和相位延遲誤差對測量精度的影響。圖1 修正后斯托克斯橢偏儀的儀器矩陣x定標結果采用反演的方式來估計儀器矩陣的準確性，即通過測量各角度下的光強值，結合儀器矩陣反演出對應角度的斯托克斯分量，將其與理論值進行對比分析。測量方法為：將校準單元中起偏器的方位角固定為0°，以10°為步長，從0°到360°旋轉波片，由此產生37個不同的偏 ...
。通過1/4波片改變測量光束的偏振方向，測量光束兩次通過測量路徑，因此，分辨率相對于角反射器型加倍。(3)影響測量結果及不確定度的因素當光干涉技術用在長度測量中時，應該考慮空氣折射率的影響。空氣折射率的校正方法有兩種，一種是測量環境參數，如空氣溫度、空氣壓力、濕度及二氧化碳的密度，然后使用經驗公式計算及校正空氣的折射率。另外一種方法是用長度穩定的腔體，即波長跟蹤器來測量,它由穩定的腔體及差分干涉儀組成，如圖所示。一束偏振光是經標準腔體的前表面反射，另一束是經后表面反射。這種差分干涉儀可測量腔體的光學長度。腔體是由具有很小熱膨脹系數的材料制成的，其幾何長度非常穩定；因此，腔體的光學長度變化可認為 ...
一個四分之一波片(QWP)。然后，圓形或線性極化光束通過50:50的分束器(BS)，其中50%被引導到attoDRY2100磁光低溫恒溫器(1.7 K基溫，9 T超導磁鐵)內的物鏡。然后，從樣品(S)反射的光束通過圓偏振收集光學元件(QWP和LP)，用長通濾光片(LPass)過濾，然后聚焦到光纖上，該光纖通向帶有CCD相機(Andor)的750毫米光譜儀。采用可調諧連續波光源進行光激發。圖1.a)是極化PL設置。在輸入端和輸出端分別加一個短通(SPass)和長通(LPass)來降低泵浦激光噪聲。在收集方面，光纖可以通向光譜儀或單光子計數器。泵浦探針時間分辨裝置b)有一個FM(翻轉鏡)，可用于在 ...
束器或λ/4波片以及偏振分束器用來引導光束入射于電視攝像機上。這種斐索干涉儀，需要采用長焦距的準直透鏡來獲得高的精度。干涉條紋函數I(x,y)：式中，I。為背景光強度；y(x,y)為條紋調制函數；φ(x,y)為被測條紋的位相分布函數；φ。為參考面與測量面間光程差引起的初位相.為了從干涉條紋函數中獲得位相分布函數φ(x,y),采用了相移法。相移時，條紋位相隨著光程或波長變化而發生移動。當給定附加相移φi，干涉條紋函數I(x,y)為:理論上，為了計算位相分布函數φ(x,y),要求i>3。對于標準的相移法，位相步長為2Π/j,j≥3,是個整數，如φi-φi-1,=2Π/j。為了獲得精確的位相分 ...
，偏振片，半波片與四分之一波片等。利用這些器材，我們就可以著手開始驗證其產生光子對的偏振糾纏性。圖11 驗證光路示意圖圖12 實際光路我們搭建了如圖所示的光路，我們首先使用可見光源與功率計將準直器對準。然后更換為1550nm偏振光源與功率計，分步加入偏振片、半波片與四分之一波片并調整角度，zui后更換為光子源，單光子探測器與計數器，光子源的信號光與閑置光將分別經過光纖，通過四分之一波片、半波片與偏振片，zui后由探測器探測，由計數器進行符合。我們保持光路光路其他波片固定，通過轉動其中一個半波片并固定，我們可以在計數器中看到符合計數產生了變化。隨著半波片的旋轉，符合計數也隨之發生正弦變化。本次實 ...
轉的四分之一波片來補償橢圓度，zui后進入湯姆遜偏振分光器。為了zui大限度地提高靈敏度，分離器設置在45?的入射(未干擾)偏振。分路器提供兩束正交偏振方向的光束(圖1b)，擊中一對象限光電二極管。每一對相對的象限分別沿著樣本的x軸和y軸的投影對齊。兩束是相等的強度為未受干擾的45?偏振的情況下，而任何樣品誘導的偏振旋轉導致相等但相反的強度(45?是zui敏感的角度對小的偏振變化)。通過適當地組合八個光電二極管象限的輸出，可以同時檢測和分離三個正交的磁化分量，只要它們的采樣幾乎相等，這對于具有高數值孔徑的物鏡是正確的。如圖1c所示，在兩束入射方向相反的光束的激勵下，縱向克爾對比改變符號，而極性 ...
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