利范圍，就是光束直徑的區(qū)域，這里D0稱為光腰，或稱為光束最小直徑。光束分析儀可以直接測量和調(diào)整光束達(dá)到長瑞利范圍，以保證掃描儀的良好性能。另一方面，對于光存儲，光束通常被優(yōu)化為一個(gè)非常小的光斑。光存儲激光器的焦點(diǎn)非常關(guān)鍵，因?yàn)楣獍叽笮『腿鹄秶煞幢取τ诒容^小的光斑，發(fā)散角必須足夠大；對于發(fā)散角較小（比如長瑞利范圍、準(zhǔn)直光束）的情況，光腰值必須大。5.焊接和切割領(lǐng)域由于激光能在工件上發(fā)射精確的功率密度，大多數(shù)高功率焊接和切割激光器都利用了激光的這種精密性。為了保證使用過程中精度的持續(xù)性，監(jiān)控激光的性能非常重要。現(xiàn)在通常所采用的處理方法是檢測瑕疵處，或者監(jiān)控未聚焦光束和推斷聚焦光束的性能。但這 ...

的參量包括：光束直徑，傳播模式，遠(yuǎn)場發(fā)散角，光斑方向漂移等。研究波前相位的畸變是分析激光裝置中腔鏡變形的主要依據(jù)，提高波前性能是提高光束質(zhì)量的重要手段。波前分析儀可以用于激光波前的檢測，同時(shí)可以得到激光的光強(qiáng)分布和其他的激光光束質(zhì)量參數(shù)，為同時(shí)檢測激光波前和光束質(zhì)量提供了一種高精度，高靈敏度，實(shí)時(shí)3D顯示，簡便可行的新方法。3、精密光學(xué)元器件檢測隨著科技的進(jìn)步，人們對精密光學(xué)元器件的生產(chǎn)技術(shù)指標(biāo)要求越來越高，波前探測器能給精密的對光學(xué)元器件進(jìn)行檢測，實(shí)時(shí)得到精確的監(jiān)測數(shù)據(jù)，對于精密光學(xué)元器件的生產(chǎn)無疑產(chǎn)生了一場新的技術(shù)革命。相對于傳統(tǒng)的干涉儀檢測光學(xué)元器件的波前，Phasics波前分析儀更適合 ...

類收斂角是由光束直徑與聚焦透鏡的焦距決定的，束腰在Z軸向上的位置可通過改變光纖纖芯頭與透鏡距離來解決。圖1d描述了這兩個(gè)自由度誤差。為了控制其余四個(gè)自由度，我們需要一個(gè)特殊的光纖座用來傾斜，翻轉(zhuǎn)，移動光纖頭。透鏡和光纖架必須固定其一，改變?nèi)肷涔馐奈恢煤徒嵌龋ㄈ鐖D1b和1c）。不管怎樣，必須保證亞微米精度，也就是說需要高精度機(jī)械鏡架與光纖調(diào)整架。此外，這些組件必須具有高度的穩(wěn)定性，以減小熱膨脹造成的漂移與耦合效率下降。今天，空間光-單模光纖耦合在光學(xué)實(shí)驗(yàn)室與工業(yè)領(lǐng)域都有廣泛應(yīng)用，但長時(shí)間保持最佳的耦合效果與耦合效率仍是一個(gè)巨大的挑戰(zhàn)。2 主動光纖耦合當(dāng)被動的穩(wěn)定不可持續(xù)，就需要使用主動穩(wěn)定的方 ...

下降的時(shí)間，光束直徑在AOM內(nèi)被聚焦到10um以下。開關(guān)的最大重復(fù)率對于AOM來說，這個(gè)參數(shù)和上升下降時(shí)間直接相關(guān)，然而AOM內(nèi)部的平均射頻功率也是另一個(gè)限制，高重復(fù)率將引起AOM過熱而不得不使用水冷系統(tǒng)。光脈沖的能量損耗能量損耗主要由AOM器件的衍射效率以及光纖和光纖耦合造成的損耗，對于大多數(shù)AOM脈沖選擇器/Pulse Picker來說，損耗將達(dá)到75%-90%。精確選擇脈沖的能力它與AOM及配套射頻驅(qū)動系統(tǒng)的消光比有關(guān)，大多數(shù)情況下，動態(tài)消光比作為最主要的因素，例如AOM的下降時(shí)間不夠快，下一個(gè)(或上一個(gè))脈沖的一部分也通過選取的范圍。脈沖選擇器/Pulse Picker波長適用范圍（特 ...

為20mW。光束直徑為6mm，通過光闌后僅保留中心直徑2 mm的部分，以減少高斯光束對散射的影響。固定角度探測器位于45°散射角處，通過光纖連接光譜儀探測散射光強(qiáng)。旋轉(zhuǎn)探測器安裝在散射平面激光束的另一側(cè)，可以在散射角為15°-165°范圍內(nèi)旋轉(zhuǎn)。昊量光電獨(dú)家代理法國oxxius公司可見光波段激光器，品類齊全，用途多樣，可智能控制。歡迎您的咨詢。 ...

面輸入波長，光束直徑，透鏡焦距，有效數(shù)值孔徑，折射介質(zhì)，放大率等各種參數(shù)；可以更容易的進(jìn)行系統(tǒng)集成。最佳貝塞爾光束界面圖三、閃耀光柵和正弦光柵在Pattern Generation 里選擇Blazed or Sinusoid Grating可以進(jìn)入生成光柵界面；a.Blazed生成閃耀光柵，選中Horizontal生成豎直方向排列的閃耀光柵，不選中Horizontal生成水平方向排列的閃耀光柵，選中Increasing生成灰度增加的光柵圖，不選中Increasing生成灰度值減少的光柵圖。b.Sinusoid,生成正弦型的光柵圖，在Period框里修改周期大小，數(shù)字越大周期越長。四、菲涅爾透鏡 ...

示，其中d為光束直徑。這導(dǎo)致通量F的計(jì)算如公式4所示圖7 A高斯時(shí)間剖面脈沖激光器三、SLM的激光損傷閾值測試光路Meadowlark光學(xué)使用如下光路測試SLM的損傷閾值。該測試的目的是確定SLM對各種激光光源的光強(qiáng)損傷閾值。光學(xué)測試配置示意圖如圖8所示圖8 光學(xué)測試配置，A=光圈，BP =光束輪廓儀，F(xiàn)M=反光鏡，HW=半波延遲器，L=透鏡，D=探測器，P=偏振器最初，光束輪廓儀被置于“BP或D1”位置，其具有與FM1到SLM的相同路徑長度。 使用FM1的位置，捕獲光束直徑和輪廓并測量，為我們提供將出現(xiàn)在SLM上光束的區(qū)域信息，用于后續(xù)功率密度計(jì)算。 然后將閃耀光柵的相位寫入SLM以將進(jìn)入的 ...

沖和連續(xù)激光光束直徑和功率/能量，覆蓋很寬的波長范圍。處理軟件可對測量結(jié)果實(shí)時(shí)地進(jìn)行顯示、分析和存儲。模塊方式的設(shè)計(jì)，使該系統(tǒng)成為實(shí)驗(yàn)中對微透鏡陣列進(jìn)行質(zhì)量控制的理想工具，測量過程高效，一次可以測量幾十甚至上百個(gè)透鏡，而且測量結(jié)果直觀可見。圖4-1 光學(xué)平臺測試裝置示意圖圖4-2 CCD測試系統(tǒng)原理圖該測試系統(tǒng)測試微透鏡陣列焦距的測量原理如圖4-3所示。旋轉(zhuǎn)微米級調(diào)節(jié)臺，直到CCD的像平面與微透鏡陣列的焦平面重合，此時(shí)看到微透鏡的聚焦圖像，記錄旋鈕的數(shù)值。再次旋轉(zhuǎn)旋鈕，至CCD的像平面與微透鏡陣列表面重合，再次記錄旋鈕的數(shù)值。兩者的差值，即微透鏡陣列的焦距。圖4-3 焦距測試原理圖我司推出的近 ...

Z’平面上的光束直徑的比值。注：對于橢圓光束而言，由于通常情況下光束位置穩(wěn)定性的主軸與激光束傳輸?shù)墓廨S不重合，故需使用有效光束直徑3.9 光束穩(wěn)定性參數(shù)積 beam stability parameter productSx，Sy，S沿著光束傳輸方向光束位置穩(wěn)定性最小值和光束指向穩(wěn)定性的乘積。注：與光束直徑的情況類似光束穩(wěn)定性的傳輸正如3.6中注的定義，也遵循雙曲線傳輸定律。可用三個(gè)參數(shù)來表征光束穩(wěn)定性的傳輸特性：最小光束位置穩(wěn)定性的位置Z0，光束位置穩(wěn)定性的最小值Δ0和光束指向穩(wěn)定性a。一般來說,激光光束的位置穩(wěn)定性最小值所在的位置Z0與激光束的束腰位置不一致。3.10 光束啟動時(shí)的位置改變 ...

須大于或等于光束直徑 (Db) 與主光線與光軸的最大位移之和：由于我們上面計(jì)算的空間分辨率只有在物鏡的后背孔徑被完全填充時(shí)才能實(shí)現(xiàn)，我們假設(shè) Db等于后背孔徑的直徑。在傍軸近似下，物鏡后背孔徑（Ao）的直徑為：θmax與物鏡的焦距和所需的FOV有關(guān)。再一次，利用傍軸近似，得到：正如預(yù)期的那樣，管透鏡的孔徑由物鏡的 FOV、焦距和 NA 決定：無限遠(yuǎn)校正的物鏡的焦距可以通過透鏡的放大倍數(shù)和制造商規(guī)定的套筒透鏡的焦距來確定（見第6節(jié)）。對于我們選擇的UIS系列蔡司透鏡（Zeiss, Thornwood, New York, USA），套筒鏡頭的焦距為，所以物鏡的焦距為 式 (21 ...