利范圍，就是光束直徑的區(qū)域，這里D0稱為光腰，或稱為光束最小直徑。光束分析儀可以直接測量和調(diào)整光束達(dá)到長瑞利范圍，以保證掃描儀的良好性能。另一方面，對于光存儲，光束通常被優(yōu)化為一個非常小的光斑。光存儲激光器的焦點(diǎn)非常關(guān)鍵，因?yàn)楣獍叽笮『腿鹄秶煞幢取τ诒容^小的光斑，發(fā)散角必須足夠大；對于發(fā)散角較小（比如長瑞利范圍、準(zhǔn)直光束）的情況，光腰值必須大。5.焊接和切割領(lǐng)域由于激光能在工件上發(fā)射精確的功率密度，大多數(shù)高功率焊接和切割激光器都利用了激光的這種精密性。為了保證使用過程中精度的持續(xù)性，監(jiān)控激光的性能非常重要?，F(xiàn)在通常所采用的處理方法是檢測瑕疵處，或者監(jiān)控未聚焦光束和推斷聚焦光束的性能。但這 ...

的參量包括：光束直徑，傳播模式，遠(yuǎn)場發(fā)散角，光斑方向漂移等。研究波前相位的畸變是分析激光裝置中腔鏡變形的主要依據(jù)，提高波前性能是提高光束質(zhì)量的重要手段。波前分析儀可以用于激光波前的檢測，同時可以得到激光的光強(qiáng)分布和其他的激光光束質(zhì)量參數(shù)，為同時檢測激光波前和光束質(zhì)量提供了一種高精度，高靈敏度，實(shí)時3D顯示，簡便可行的新方法。3、精密光學(xué)元器件檢測隨著科技的進(jìn)步，人們對精密光學(xué)元器件的生產(chǎn)技術(shù)指標(biāo)要求越來越高，波前探測器能給精密的對光學(xué)元器件進(jìn)行檢測，實(shí)時得到精確的監(jiān)測數(shù)據(jù)，對于精密光學(xué)元器件的生產(chǎn)無疑產(chǎn)生了一場新的技術(shù)革命。相對于傳統(tǒng)的干涉儀檢測光學(xué)元器件的波前，Phasics波前分析儀更適合 ...

類收斂角是由光束直徑與聚焦透鏡的焦距決定的，束腰在Z軸向上的位置可通過改變光纖纖芯頭與透鏡距離來解決。圖1d描述了這兩個自由度誤差。為了控制其余四個自由度，我們需要一個特殊的光纖座用來傾斜，翻轉(zhuǎn)，移動光纖頭。透鏡和光纖架必須固定其一，改變?nèi)肷涔馐奈恢煤徒嵌龋ㄈ鐖D1b和1c）。不管怎樣，必須保證亞微米精度，也就是說需要高精度機(jī)械鏡架與光纖調(diào)整架。此外，這些組件必須具有高度的穩(wěn)定性，以減小熱膨脹造成的漂移與耦合效率下降。今天，空間光-單模光纖耦合在光學(xué)實(shí)驗(yàn)室與工業(yè)領(lǐng)域都有廣泛應(yīng)用，但長時間保持最佳的耦合效果與耦合效率仍是一個巨大的挑戰(zhàn)。2 主動光纖耦合當(dāng)被動的穩(wěn)定不可持續(xù)，就需要使用主動穩(wěn)定的方 ...

下降的時間，光束直徑在AOM內(nèi)被聚焦到10um以下。開關(guān)的最大重復(fù)率對于AOM來說，這個參數(shù)和上升下降時間直接相關(guān)，然而AOM內(nèi)部的平均射頻功率也是另一個限制，高重復(fù)率將引起AOM過熱而不得不使用水冷系統(tǒng)。光脈沖的能量損耗能量損耗主要由AOM器件的衍射效率以及光纖和光纖耦合造成的損耗，對于大多數(shù)AOM脈沖選擇器/Pulse Picker來說，損耗將達(dá)到75%-90%。精確選擇脈沖的能力它與AOM及配套射頻驅(qū)動系統(tǒng)的消光比有關(guān)，大多數(shù)情況下，動態(tài)消光比作為最主要的因素，例如AOM的下降時間不夠快，下一個(或上一個)脈沖的一部分也通過選取的范圍。脈沖選擇器/Pulse Picker波長適用范圍（特 ...

為20mW。光束直徑為6mm，通過光闌后僅保留中心直徑2 mm的部分，以減少高斯光束對散射的影響。固定角度探測器位于45°散射角處，通過光纖連接光譜儀探測散射光強(qiáng)。旋轉(zhuǎn)探測器安裝在散射平面激光束的另一側(cè)，可以在散射角為15°-165°范圍內(nèi)旋轉(zhuǎn)。昊量光電獨(dú)家代理法國oxxius公司可見光波段激光器，品類齊全，用途多樣，可智能控制。歡迎您的咨詢。 ...

面輸入波長，光束直徑，透鏡焦距，有效數(shù)值孔徑，折射介質(zhì)，放大率等各種參數(shù)；可以更容易的進(jìn)行系統(tǒng)集成。最佳貝塞爾光束界面圖三、閃耀光柵和正弦光柵在Pattern Generation 里選擇Blazed or Sinusoid Grating可以進(jìn)入生成光柵界面；a.Blazed生成閃耀光柵，選中Horizontal生成豎直方向排列的閃耀光柵，不選中Horizontal生成水平方向排列的閃耀光柵，選中Increasing生成灰度增加的光柵圖，不選中Increasing生成灰度值減少的光柵圖。b.Sinusoid,生成正弦型的光柵圖，在Period框里修改周期大小，數(shù)字越大周期越長。四、菲涅爾透鏡 ...

示，其中d為光束直徑。這導(dǎo)致通量F的計算如公式4所示圖7 A高斯時間剖面脈沖激光器三、SLM的激光損傷閾值測試光路Meadowlark光學(xué)使用如下光路測試SLM的損傷閾值。該測試的目的是確定SLM對各種激光光源的光強(qiáng)損傷閾值。光學(xué)測試配置示意圖如圖8所示圖8 光學(xué)測試配置，A=光圈，BP =光束輪廓儀，F(xiàn)M=反光鏡，HW=半波延遲器，L=透鏡，D=探測器，P=偏振器最初，光束輪廓儀被置于“BP或D1”位置，其具有與FM1到SLM的相同路徑長度。 使用FM1的位置，捕獲光束直徑和輪廓并測量，為我們提供將出現(xiàn)在SLM上光束的區(qū)域信息，用于后續(xù)功率密度計算。 然后將閃耀光柵的相位寫入SLM以將進(jìn)入的 ...

沖和連續(xù)激光光束直徑和功率/能量，覆蓋很寬的波長范圍。處理軟件可對測量結(jié)果實(shí)時地進(jìn)行顯示、分析和存儲。模塊方式的設(shè)計，使該系統(tǒng)成為實(shí)驗(yàn)中對微透鏡陣列進(jìn)行質(zhì)量控制的理想工具，測量過程高效，一次可以測量幾十甚至上百個透鏡，而且測量結(jié)果直觀可見。圖4-1 光學(xué)平臺測試裝置示意圖圖4-2 CCD測試系統(tǒng)原理圖該測試系統(tǒng)測試微透鏡陣列焦距的測量原理如圖4-3所示。旋轉(zhuǎn)微米級調(diào)節(jié)臺，直到CCD的像平面與微透鏡陣列的焦平面重合，此時看到微透鏡的聚焦圖像，記錄旋鈕的數(shù)值。再次旋轉(zhuǎn)旋鈕，至CCD的像平面與微透鏡陣列表面重合，再次記錄旋鈕的數(shù)值。兩者的差值，即微透鏡陣列的焦距。圖4-3 焦距測試原理圖我司推出的近 ...

Z’平面上的光束直徑的比值。注：對于橢圓光束而言，由于通常情況下光束位置穩(wěn)定性的主軸與激光束傳輸?shù)墓廨S不重合，故需使用有效光束直徑3.9 光束穩(wěn)定性參數(shù)積 beam stability parameter productSx，Sy，S沿著光束傳輸方向光束位置穩(wěn)定性最小值和光束指向穩(wěn)定性的乘積。注：與光束直徑的情況類似光束穩(wěn)定性的傳輸正如3.6中注的定義，也遵循雙曲線傳輸定律?？捎萌齻€參數(shù)來表征光束穩(wěn)定性的傳輸特性：最小光束位置穩(wěn)定性的位置Z0，光束位置穩(wěn)定性的最小值Δ0和光束指向穩(wěn)定性a。一般來說,激光光束的位置穩(wěn)定性最小值所在的位置Z0與激光束的束腰位置不一致。3.10 光束啟動時的位置改變 ...

須大于或等于光束直徑 (Db) 與主光線與光軸的最大位移之和：由于我們上面計算的空間分辨率只有在物鏡的后背孔徑被完全填充時才能實(shí)現(xiàn)，我們假設(shè) Db等于后背孔徑的直徑。在傍軸近似下，物鏡后背孔徑（Ao）的直徑為：θmax與物鏡的焦距和所需的FOV有關(guān)。再一次，利用傍軸近似，得到：正如預(yù)期的那樣，管透鏡的孔徑由物鏡的 FOV、焦距和 NA 決定：無限遠(yuǎn)校正的物鏡的焦距可以通過透鏡的放大倍數(shù)和制造商規(guī)定的套筒透鏡的焦距來確定（見第6節(jié)）。對于我們選擇的UIS系列蔡司透鏡（Zeiss, Thornwood, New York, USA），套筒鏡頭的焦距為，所以物鏡的焦距為 式 (21 ...