使測得的頻響畸變，并且它們自身表現(xiàn)為不準(zhǔn)確的模態(tài)參數(shù)。一般說來，隨機信號不能提供非常優(yōu)的激勵來得到精確的頻響函數(shù)。隨機激勵技術(shù)以在測得的頻譜中引起泄漏而不受人待見。跟其他沒有泄漏的測量技術(shù)（如猝發(fā)隨機、正弦掃頻、數(shù)字步進正弦）相比，即使加窗，所測得的頻響函數(shù)也會失真。利用隨機激勵和猝發(fā)隨機激勵得到的頻響函數(shù)之間的比較如圖1所示。很清楚，在測量結(jié)果中沒有泄漏的猝發(fā)隨機的測量結(jié)果遠遠優(yōu)于隨機測量結(jié)果。（盡管沒有顯示，相干也是同樣更優(yōu)。）更進一步講，從隨機激勵中提取出來的模態(tài)參數(shù)同樣會有畸變，并且在很多情況下，在測量結(jié)果中實際上看起來好像是有兩個峰。這是利用隨機激勵進行測量的頻響函數(shù)中可以看到的典型 ...

能的頻響函數(shù)畸變測量結(jié)果，由激振器和推力桿不恰當(dāng)?shù)脑囼炘O(shè)置而造成。情形A：我們考慮試驗中激振器推力桿彎曲的影響。記住目的是要僅僅提供沿著推力桿長度方向上的輸入激勵，同時要將推力桿的任何彎曲減至zui低程度。 當(dāng)推力桿彎曲時會發(fā)生兩種情況。推力桿會傳入一個力傳感器測不到的轉(zhuǎn)動載荷；記住力傳感器預(yù)期僅僅觀測到壓縮或者拉伸的載荷，且任何力矩都將會致使力傳感器讀數(shù)失真同時傳入到結(jié)構(gòu)上一個作為轉(zhuǎn)動載荷的力矩，其測量不到。另外，推力桿會引入轉(zhuǎn)動剛度到被測結(jié)構(gòu)之上，它不是結(jié)構(gòu)動力學(xué)特性的真正部分。圖2顯示了一個測量結(jié)果，其中對于一個簡單的結(jié)構(gòu)，在不同的高度施加激振器激勵。顯然，對于測得的頻響函數(shù)有影響。在試 ...

量結(jié)果有一些畸變，或者如果測量結(jié)果中有一些虛假信息（跟非實正則模態(tài)或復(fù)模態(tài)有關(guān)系），那么MMIF有可能不能準(zhǔn)確地指示模態(tài)。如果是這種情況，復(fù)模態(tài)指示函數(shù)（CMIF）是更好的工具。CMIF是基于FRF矩陣的奇異值分解的，以確定測量結(jié)果中觀察到的主要模態(tài)。奇異值圖也有助于確定系統(tǒng)的頂點。CMIF將達到峰值，其中有zui大值存在，指示出系統(tǒng)的頂點。每個參考點有一個CMIF。圖4顯示出CMIF。圖 4 – CMIF，3個參考點、15個加速度計顯然，靠近100Hz，2個CMIF曲線都有峰，表明在那個頻率有兩階模態(tài)。在300Hz頻率范圍內(nèi)，有指示表明這個范圍內(nèi)有2階（或者3階）模態(tài)。在感興趣的頻率范圍內(nèi)， ...

正像面彎曲和畸變。如下圖2即為一種照相型平場鏡，該平場鏡的人射端面為四面，與物鏡的像面彎曲一致，其出射端面為平面，可以用接觸法在照相底片或其它感光元件上記錄由它傳遞的圖像。也有一類場鏡型平場鏡，圖3是在潛望鏡的中間實像平面上使用的場鏡型平場鏡，其兩端面分別與光學(xué)系統(tǒng)前、后半部的實際像面一致，均為四面。圖二圖三4.光纖在電子光學(xué)系統(tǒng)中的應(yīng)用下圖4是光纖面板用于變像管中的示意圖。面板的一面為四面，與熒光屏的凹面相匹配。這種纖維面板在多極像增強管和變像管中有重要應(yīng)用。當(dāng)圖像從上一級熒光屏傳遞到下一級的光電陰極面時，由于它們彼此都凸得很厲害，所以不可能互相接觸，甚至光學(xué)成像也十分困難。這時可以采用光纖 ...

得注意的是，畸變校正的條件依賴于物體的位置是例外的。我們把像差劃分為級數(shù)，這一分類打破了我們熟悉的階的劃分。只有被稱為零級數(shù)的序列的畸變，在不同的放大倍率下，才表現(xiàn)出這種不可調(diào)和的消失狀態(tài)的特性。這正是透鏡系統(tǒng)軸向面出現(xiàn)的像差，一般稱為初級像差。在所有其他情況下，如果一個對象位置滿足條件，那么所有位置都滿足條件。因此，在討論像差參考系統(tǒng)時，只需要考慮這些初級像差。初級像差完全由一個平面內(nèi)所有光線通過系統(tǒng)軸線的路徑所決定。所有這些射線都與軸相交，而關(guān)于軸交點的知識顯然提供了定義任何射線位置所需的兩個坐標(biāo)之一。如果交點一般已知，那么光線的剩余坐標(biāo)和方向就不那么明顯了。在沒有軸向像差的情況下，赫歇爾 ...

來改變像散、畸變和倍率色差。在像面或像面附近的場鏡可以用來校正像面彎曲。八、對于對稱型結(jié)構(gòu)的光學(xué)系統(tǒng)，可以選擇成對的對稱參數(shù)進行修改。作對稱性變化以改變軸向像差，作非對稱性變化以改變垂軸像差。九、利用膠合面改變色差或其他像差，并在必要時調(diào)換玻璃。可以在原膠合透鏡中更換等折射率不等色散的玻璃，也可在適當(dāng)?shù)膯螇K透鏡中加人一個等折射率不等色散的膠合面。膠合面還可用來校正其他像差，尤其是高ji像差。此時,膠合面二邊應(yīng)有適當(dāng)?shù)恼凵渎什睿筛鶕?jù)像差的校正需要，使它起會聚或發(fā)散作用，半徑也可正可負，從而在像差校正方面得到很大的靈活性。同時，在所有需要改變膠合面二邊的折射率差以改變像差的性態(tài)、或微量控制某種高 ...

這項工作將為畸變系統(tǒng)的一階光學(xué)成像和一階(三階)像差特征提供一個清晰的認(rèn)識。我們將給出常見類型的畸變系統(tǒng)的初級像差系數(shù)表達式，其形式類似于RSOS塞德爾像差。那么到底什么是變形系統(tǒng)呢？變形系統(tǒng)是指含有兩個相互垂直的對稱平面的雙曲率曲面的成像系統(tǒng)。所謂雙曲曲面，是指在兩個垂直截面上曲率半徑不同的曲面。如下圖就顯示了一個雙曲曲面的例子。通過在整個系統(tǒng)中保持兩個對稱平面相互垂直，變形系統(tǒng)將具有雙平面對稱。這兩個對稱面也被稱為變形系統(tǒng)的主要部分。由于光功率與曲率有關(guān)，變形系統(tǒng)的每個主要部分具有不同的光功率，從而形成變形圖像。兩個主截面的有效焦距將決定變形比，即兩個放大倍率的比值，每個放大倍率對應(yīng)一個主 ...

產(chǎn)生一定的負畸變，從而實現(xiàn)線性掃描。隨掃描角的增大，實際像高應(yīng)比理想像高小，對應(yīng)的畸變量為具有上述畸變量的透鏡系統(tǒng)稱為線性成像物鏡，其像高簡稱透鏡。同時，該物鏡對單色光成像，像質(zhì)要求達到衍射極限，而且整個像面上像質(zhì)要求一致，像面為平面，且無漸暈存在。線性成像物鏡還應(yīng)具有像方遠心光路．在透鏡前掃描系統(tǒng)中，入射光束的偏轉(zhuǎn)位置（掃描器位置）一般置于物鏡前焦點處，構(gòu)成像方遠心光路，像方主光線與光軸平行。如果系統(tǒng)校正了場曲，就可在很大程度上實現(xiàn)軸上、軸外像質(zhì)一致，使像點精確定位，而且提高了邊緣視場的分辨率與照度的均勻性。相關(guān)文獻：《幾何光學(xué) 像差 光學(xué)設(shè)計》（第三版）——李曉彤 岑兆豐更多詳情請聯(lián)系昊量 ...

度地降低波前畸變是非常重要的，因為這不僅會影響傳輸光束的光束質(zhì)量(波前)，還會影響固有對比度，特別是在大孔徑器件中。應(yīng)用到晶體上的防反射(AR)涂層的質(zhì)量對較小化插入損耗很重要。(G&H成功地將有效的AR涂層應(yīng)用到以柔軟著稱的KD*P材料上的公司。)由于開關(guān)電壓高，EOM晶體也必須進行高電阻率屏蔽。較低的電阻率將導(dǎo)致不希望的電流，晶體過度加熱，甚至“電弧放電”以及災(zāi)難性的裂紋。電源測試和老化也很重要。不僅保證了電源本身的壽命，而且延長了EOM的壽命。G&H（克利夫蘭）的部分加工晶體對于AOM，晶體/玻璃的光學(xué)質(zhì)量同樣很重要，尤其是透射波前（即光束質(zhì)量），這就是為什么G& ...

具有一定的負畸變，在整個視場上有均勻的光強度和分辨率，不允許軸外漸暈存在,并要達到衍極限性能。玻璃材料的質(zhì)量與透鏡表面的均勻性要求比一般透鏡更為嚴(yán)格。相關(guān)文獻：《幾何光學(xué) 像差 光學(xué)設(shè)計》（第三版）——李曉彤 岑兆豐更多詳情請聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián)系昊量光電關(guān)于昊量光電：上海昊量光電設(shè)備有限公司是光電產(chǎn)品專業(yè)代理商，產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學(xué)測量設(shè)備、光學(xué)元件等，涉及應(yīng)用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學(xué)研究、國防、量子光學(xué)、生物顯微、物聯(lián)傳感、激光制造等；可為客戶提供完整的設(shè)備安裝，培訓(xùn)，硬件開發(fā)，軟件開發(fā)，系統(tǒng)集成等服務(wù)。您可以通過我們昊量光電的官方網(wǎng)站www.aunion ...