使測(cè)得的頻響畸變,并且它們自身表現(xiàn)為不準(zhǔn)確的模態(tài)參數(shù)。一般說來,隨機(jī)信號(hào)不能提供非常優(yōu)的激勵(lì)來得到精確的頻響函數(shù)。隨機(jī)激勵(lì)技術(shù)以在測(cè)得的頻譜中引起泄漏而不受人待見。跟其他沒有泄漏的測(cè)量技術(shù)(如猝發(fā)隨機(jī)、正弦掃頻、數(shù)字步進(jìn)正弦)相比,即使加窗,所測(cè)得的頻響函數(shù)也會(huì)失真。利用隨機(jī)激勵(lì)和猝發(fā)隨機(jī)激勵(lì)得到的頻響函數(shù)之間的比較如圖1所示。很清楚,在測(cè)量結(jié)果中沒有泄漏的猝發(fā)隨機(jī)的測(cè)量結(jié)果遠(yuǎn)遠(yuǎn)優(yōu)于隨機(jī)測(cè)量結(jié)果。(盡管沒有顯示,相干也是同樣更優(yōu)。)更進(jìn)一步講,從隨機(jī)激勵(lì)中提取出來的模態(tài)參數(shù)同樣會(huì)有畸變,并且在很多情況下,在測(cè)量結(jié)果中實(shí)際上看起來好像是有兩個(gè)峰。這是利用隨機(jī)激勵(lì)進(jìn)行測(cè)量的頻響函數(shù)中可以看到的典型 ...
能的頻響函數(shù)畸變測(cè)量結(jié)果,由激振器和推力桿不恰當(dāng)?shù)脑囼?yàn)設(shè)置而造成。情形A:我們考慮試驗(yàn)中激振器推力桿彎曲的影響。記住目的是要僅僅提供沿著推力桿長(zhǎng)度方向上的輸入激勵(lì),同時(shí)要將推力桿的任何彎曲減至zui低程度。 當(dāng)推力桿彎曲時(shí)會(huì)發(fā)生兩種情況。推力桿會(huì)傳入一個(gè)力傳感器測(cè)不到的轉(zhuǎn)動(dòng)載荷;記住力傳感器預(yù)期僅僅觀測(cè)到壓縮或者拉伸的載荷,且任何力矩都將會(huì)致使力傳感器讀數(shù)失真同時(shí)傳入到結(jié)構(gòu)上一個(gè)作為轉(zhuǎn)動(dòng)載荷的力矩,其測(cè)量不到。另外,推力桿會(huì)引入轉(zhuǎn)動(dòng)剛度到被測(cè)結(jié)構(gòu)之上,它不是結(jié)構(gòu)動(dòng)力學(xué)特性的真正部分。圖2顯示了一個(gè)測(cè)量結(jié)果,其中對(duì)于一個(gè)簡(jiǎn)單的結(jié)構(gòu),在不同的高度施加激振器激勵(lì)。顯然,對(duì)于測(cè)得的頻響函數(shù)有影響。在試 ...
量結(jié)果有一些畸變,或者如果測(cè)量結(jié)果中有一些虛假信息(跟非實(shí)正則模態(tài)或復(fù)模態(tài)有關(guān)系),那么MMIF有可能不能準(zhǔn)確地指示模態(tài)。如果是這種情況,復(fù)模態(tài)指示函數(shù)(CMIF)是更好的工具。CMIF是基于FRF矩陣的奇異值分解的,以確定測(cè)量結(jié)果中觀察到的主要模態(tài)。奇異值圖也有助于確定系統(tǒng)的頂點(diǎn)。CMIF將達(dá)到峰值,其中有zui大值存在,指示出系統(tǒng)的頂點(diǎn)。每個(gè)參考點(diǎn)有一個(gè)CMIF。圖4顯示出CMIF。圖 4 – CMIF,3個(gè)參考點(diǎn)、15個(gè)加速度計(jì)顯然,靠近100Hz,2個(gè)CMIF曲線都有峰,表明在那個(gè)頻率有兩階模態(tài)。在300Hz頻率范圍內(nèi),有指示表明這個(gè)范圍內(nèi)有2階(或者3階)模態(tài)。在感興趣的頻率范圍內(nèi), ...
正像面彎曲和畸變。如下圖2即為一種照相型平場(chǎng)鏡,該平場(chǎng)鏡的人射端面為四面,與物鏡的像面彎曲一致,其出射端面為平面,可以用接觸法在照相底片或其它感光元件上記錄由它傳遞的圖像。也有一類場(chǎng)鏡型平場(chǎng)鏡,圖3是在潛望鏡的中間實(shí)像平面上使用的場(chǎng)鏡型平場(chǎng)鏡,其兩端面分別與光學(xué)系統(tǒng)前、后半部的實(shí)際像面一致,均為四面。圖二圖三4.光纖在電子光學(xué)系統(tǒng)中的應(yīng)用下圖4是光纖面板用于變像管中的示意圖。面板的一面為四面,與熒光屏的凹面相匹配。這種纖維面板在多極像增強(qiáng)管和變像管中有重要應(yīng)用。當(dāng)圖像從上一級(jí)熒光屏傳遞到下一級(jí)的光電陰極面時(shí),由于它們彼此都凸得很厲害,所以不可能互相接觸,甚至光學(xué)成像也十分困難。這時(shí)可以采用光纖 ...
得注意的是,畸變校正的條件依賴于物體的位置是例外的。我們把像差劃分為級(jí)數(shù),這一分類打破了我們熟悉的階的劃分。只有被稱為零級(jí)數(shù)的序列的畸變,在不同的放大倍率下,才表現(xiàn)出這種不可調(diào)和的消失狀態(tài)的特性。這正是透鏡系統(tǒng)軸向面出現(xiàn)的像差,一般稱為初級(jí)像差。在所有其他情況下,如果一個(gè)對(duì)象位置滿足條件,那么所有位置都滿足條件。因此,在討論像差參考系統(tǒng)時(shí),只需要考慮這些初級(jí)像差。初級(jí)像差完全由一個(gè)平面內(nèi)所有光線通過系統(tǒng)軸線的路徑所決定。所有這些射線都與軸相交,而關(guān)于軸交點(diǎn)的知識(shí)顯然提供了定義任何射線位置所需的兩個(gè)坐標(biāo)之一。如果交點(diǎn)一般已知,那么光線的剩余坐標(biāo)和方向就不那么明顯了。在沒有軸向像差的情況下,赫歇爾 ...
來改變像散、畸變和倍率色差。在像面或像面附近的場(chǎng)鏡可以用來校正像面彎曲。八、對(duì)于對(duì)稱型結(jié)構(gòu)的光學(xué)系統(tǒng),可以選擇成對(duì)的對(duì)稱參數(shù)進(jìn)行修改。作對(duì)稱性變化以改變軸向像差,作非對(duì)稱性變化以改變垂軸像差。九、利用膠合面改變色差或其他像差,并在必要時(shí)調(diào)換玻璃。可以在原膠合透鏡中更換等折射率不等色散的玻璃,也可在適當(dāng)?shù)膯螇K透鏡中加人一個(gè)等折射率不等色散的膠合面。膠合面還可用來校正其他像差,尤其是高ji像差。此時(shí),膠合面二邊應(yīng)有適當(dāng)?shù)恼凵渎什?,可根?jù)像差的校正需要,使它起會(huì)聚或發(fā)散作用,半徑也可正可負(fù),從而在像差校正方面得到很大的靈活性。同時(shí),在所有需要改變膠合面二邊的折射率差以改變像差的性態(tài)、或微量控制某種高 ...
這項(xiàng)工作將為畸變系統(tǒng)的一階光學(xué)成像和一階(三階)像差特征提供一個(gè)清晰的認(rèn)識(shí)。我們將給出常見類型的畸變系統(tǒng)的初級(jí)像差系數(shù)表達(dá)式,其形式類似于RSOS塞德爾像差。那么到底什么是變形系統(tǒng)呢?變形系統(tǒng)是指含有兩個(gè)相互垂直的對(duì)稱平面的雙曲率曲面的成像系統(tǒng)。所謂雙曲曲面,是指在兩個(gè)垂直截面上曲率半徑不同的曲面。如下圖就顯示了一個(gè)雙曲曲面的例子。通過在整個(gè)系統(tǒng)中保持兩個(gè)對(duì)稱平面相互垂直,變形系統(tǒng)將具有雙平面對(duì)稱。這兩個(gè)對(duì)稱面也被稱為變形系統(tǒng)的主要部分。由于光功率與曲率有關(guān),變形系統(tǒng)的每個(gè)主要部分具有不同的光功率,從而形成變形圖像。兩個(gè)主截面的有效焦距將決定變形比,即兩個(gè)放大倍率的比值,每個(gè)放大倍率對(duì)應(yīng)一個(gè)主 ...
產(chǎn)生一定的負(fù)畸變,從而實(shí)現(xiàn)線性掃描。隨掃描角的增大,實(shí)際像高應(yīng)比理想像高小,對(duì)應(yīng)的畸變量為具有上述畸變量的透鏡系統(tǒng)稱為線性成像物鏡,其像高簡(jiǎn)稱透鏡。同時(shí),該物鏡對(duì)單色光成像,像質(zhì)要求達(dá)到衍射極限,而且整個(gè)像面上像質(zhì)要求一致,像面為平面,且無漸暈存在。線性成像物鏡還應(yīng)具有像方遠(yuǎn)心光路.在透鏡前掃描系統(tǒng)中,入射光束的偏轉(zhuǎn)位置(掃描器位置)一般置于物鏡前焦點(diǎn)處,構(gòu)成像方遠(yuǎn)心光路,像方主光線與光軸平行。如果系統(tǒng)校正了場(chǎng)曲,就可在很大程度上實(shí)現(xiàn)軸上、軸外像質(zhì)一致,使像點(diǎn)精確定位,而且提高了邊緣視場(chǎng)的分辨率與照度的均勻性。相關(guān)文獻(xiàn):《幾何光學(xué) 像差 光學(xué)設(shè)計(jì)》(第三版)——李曉彤 岑兆豐更多詳情請(qǐng)聯(lián)系昊量 ...
度地降低波前畸變是非常重要的,因?yàn)檫@不僅會(huì)影響傳輸光束的光束質(zhì)量(波前),還會(huì)影響固有對(duì)比度,特別是在大孔徑器件中。應(yīng)用到晶體上的防反射(AR)涂層的質(zhì)量對(duì)較小化插入損耗很重要。(G&H成功地將有效的AR涂層應(yīng)用到以柔軟著稱的KD*P材料上的公司。)由于開關(guān)電壓高,EOM晶體也必須進(jìn)行高電阻率屏蔽。較低的電阻率將導(dǎo)致不希望的電流,晶體過度加熱,甚至“電弧放電”以及災(zāi)難性的裂紋。電源測(cè)試和老化也很重要。不僅保證了電源本身的壽命,而且延長(zhǎng)了EOM的壽命。G&H(克利夫蘭)的部分加工晶體對(duì)于AOM,晶體/玻璃的光學(xué)質(zhì)量同樣很重要,尤其是透射波前(即光束質(zhì)量),這就是為什么G& ...
具有一定的負(fù)畸變,在整個(gè)視場(chǎng)上有均勻的光強(qiáng)度和分辨率,不允許軸外漸暈存在,并要達(dá)到衍極限性能。玻璃材料的質(zhì)量與透鏡表面的均勻性要求比一般透鏡更為嚴(yán)格。相關(guān)文獻(xiàn):《幾何光學(xué) 像差 光學(xué)設(shè)計(jì)》(第三版)——李曉彤 岑兆豐更多詳情請(qǐng)聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián)系昊量光電關(guān)于昊量光電:上海昊量光電設(shè)備有限公司是光電產(chǎn)品專業(yè)代理商,產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學(xué)測(cè)量設(shè)備、光學(xué)元件等,涉及應(yīng)用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學(xué)研究、國(guó)防、量子光學(xué)、生物顯微、物聯(lián)傳感、激光制造等;可為客戶提供完整的設(shè)備安裝,培訓(xùn),硬件開發(fā),軟件開發(fā),系統(tǒng)集成等服務(wù)。您可以通過我們昊量光電的官方網(wǎng)站www.aunion ...
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